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公开(公告)号:CN104377240B
公开(公告)日:2019-11-22
申请号:CN201410403957.0
申请日:2014-08-15
Applicant: 瑞萨电子株式会社
IPC: H01L29/778 , H01L29/423 , H01L21/335
Abstract: 本发明提供一种半导体器件,其具有形成在衬底上方的沟道层、形成在沟道层之上并且具有比沟道层的禁带宽度更大的禁带宽度的阻挡层、贯通阻挡层直至沟道层的中途的沟槽、以及经由栅极绝缘膜而配置在沟槽的内部的栅极电极。此外,沟槽的底部的端部为圆角形状并且与沟槽的底部的端部接触的栅极绝缘膜为圆角形状。通过如上所描述将沟槽的底部的端部设置有圆度,能够减小位于栅极电极的底部的端部与沟槽的底部的端部之间的、栅极绝缘膜的厚度。因此,也可以在沟槽的底部的端部形成沟道,从而减小沟道的电阻。
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公开(公告)号:CN103545352B
公开(公告)日:2017-12-08
申请号:CN201310293438.9
申请日:2013-07-12
Applicant: 瑞萨电子株式会社
CPC classification number: H01L29/452 , H01L29/2003 , H01L29/205 , H01L29/517 , H01L29/518 , H01L29/66462 , H01L29/7787 , H01L29/78 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 本发明涉及一种半导体器件。提高由氮化物半导体材料制成的场效应晶体管的可靠性。一种欧姆电极包括多个隔离以彼此分开的单元电极。利用这种构造,可以防止导通态电流在y轴方向(负方向)上在单元电极中流动。此外,在相应的单元电极中,可以防止在y轴方向(负方向)上流动的导通态电流的电流密度增加。结果,可以提高欧姆电极的电迁移阻抗。
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公开(公告)号:CN102931221B
公开(公告)日:2016-06-29
申请号:CN201210280030.3
申请日:2012-08-08
Applicant: 瑞萨电子株式会社
IPC: H01L29/20 , H01L29/778 , H01L21/335
CPC classification number: H01L29/7787 , H01L21/02458 , H01L21/0254 , H01L29/2003 , H01L29/205 , H01L29/41775 , H01L29/4236 , H01L29/66462 , H01L29/7786
Abstract: 提供一种半导体器件及制造该半导体器件的方法。具体涉及包括氮化物半导体层的半导体器件及制造该半导体器件的方法。半导体器件包括:第一氮化物半导体层;形成在第一氮化物半导体层上的第二氮化物半导体层;通过栅极绝缘膜面对第二氮化物半导体层的栅电极。因为通过堆叠多个Al组成比彼此不同的半导体层形成第二氮化物半导体层,因此第二氮化物半导体层的Al组成比阶段式改变。形成第二氮化物半导体层的半导体层在相同方向上被极化,使得这些半导体层中更靠近栅电极的半导体层具有更高(或更低)的极化强度。即多个半导体层的极化强度基于它们与栅电极的距离而以如下倾向改变,使得在两个半导体层的界面的每一个处,负电荷量变得大于正电荷量。
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公开(公告)号:CN104821340A
公开(公告)日:2015-08-05
申请号:CN201510060876.X
申请日:2015-02-05
Applicant: 瑞萨电子株式会社
IPC: H01L29/80
Abstract: 本发明涉及半导体器件。改进了半导体器件的特性。该半导体器件被构造成在形成在衬底上方的n+层、n型层、p型层、沟道层和阻挡层之中提供穿透阻挡层并且到达沟道层的中间部分的沟槽、布置在通过栅绝缘膜的凹槽内的栅电极、形成在栅电极两侧中的阻挡层上方的源电极和漏电极。n型层和漏电极通过到达n+层的连接部彼此电连接。p型层和源电极通过到达p型层的连接部彼此电连接。包括p型层和n型层的二极管设置在源电极和漏电极之间,从而防止因雪崩击穿而造成元件破裂。
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公开(公告)号:CN104377240A
公开(公告)日:2015-02-25
申请号:CN201410403957.0
申请日:2014-08-15
Applicant: 瑞萨电子株式会社
IPC: H01L29/778 , H01L29/423 , H01L21/335
Abstract: 本发明提供一种半导体器件,其具有形成在衬底上方的沟道层、形成在沟道层之上并且具有比沟道层的禁带宽度更大的禁带宽度的阻挡层、贯通阻挡层直至沟道层的中途的沟槽、以及经由栅极绝缘膜而配置在沟槽的内部的栅极电极。此外,沟槽的底部的端部为圆角形状并且与沟槽的底部的端部接触的栅极绝缘膜为圆角形状。通过如上所描述将沟槽的底部的端部设置有圆度,能够减小位于栅极电极的底部的端部与沟槽的底部的端部之间的、栅极绝缘膜的厚度。因此,也可以在沟槽的底部的端部形成沟道,从而减小沟道的电阻。
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公开(公告)号:CN103545352A
公开(公告)日:2014-01-29
申请号:CN201310293438.9
申请日:2013-07-12
Applicant: 瑞萨电子株式会社
CPC classification number: H01L29/452 , H01L29/2003 , H01L29/205 , H01L29/517 , H01L29/518 , H01L29/66462 , H01L29/7787 , H01L29/78 , H01L2924/0002 , H01L2924/00 , H01L29/41 , H01L29/41725
Abstract: 本发明涉及一种半导体器件。提高由氮化物半导体材料制成的场效应晶体管的可靠性。一种欧姆电极包括多个隔离以彼此分开的单元电极。利用这种构造,可以防止导通态电流在y轴方向(负方向)上在单元电极中流动。此外,在相应的单元电极中,可以防止在y轴方向(负方向)上流动的导通态电流的电流密度增加。结果,可以提高欧姆电极的电迁移阻抗。
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