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公开(公告)号：CN104897691B
公开(公告)日：2017-11-14
申请号：CN201510082233.5
申请日：2015-02-15
Applicant: 欧姆龙株式会社
Inventor： 大西康裕
IPC: G01N21/95
CPC classification number: G01B11/254 , G01B11/24 , G01B11/2531 , G01N21/8806 , G01N2021/8816 , G01N2021/8845 , G01N2021/95646 , G01N2201/0627 , G01N2201/0634
Abstract: 本发明提供具有用于投射图案光的投影装置或斜视摄像头的检查装置，通过该检查装置能够实现对焊锡形状的良好的测量性能。在照明装置上设置投影装置用的开口时，从原点来看，开口形成在和X轴方向及Y轴方向都不同的方位上。在对投影装置用的开口和斜视摄像头用的开口双方进行设置时，将其分别配置在不同的方位。或者，也可以设置补偿照明装置，用于补偿由开口导致的照明光的漏照现象。或者，也可以通过使投影装置和斜视摄像头的光轴保持一致，使其具有共同的开口。
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公开(公告)号：CN104897691A
公开(公告)日：2015-09-09
申请号：CN201510082233.5
申请日：2015-02-15
Applicant: 欧姆龙株式会社
Inventor： 大西康裕
IPC: G01N21/95
CPC classification number: G01B11/254 , G01B11/24 , G01B11/2531 , G01N21/8806 , G01N2021/8816 , G01N2021/8845 , G01N2021/95646 , G01N2201/0627 , G01N2201/0634
Abstract: 本发明提供具有用于投射图案光的投影装置或斜视摄像头的检查装置，通过该检查装置能够实现对焊锡形状的良好的测量性能。在照明装置上设置投影装置用的开口时，从原点来看，开口形成在和X轴方向及Y轴方向都不同的方位上。在对投影装置用的开口和斜视摄像头用的开口双方进行设置时，将其分别配置在不同的方位。或者，也可以设置补偿照明装置，用于补偿由开口导致的照明光的漏照现象。或者，也可以通过使投影装置和斜视摄像头的光轴保持一致，使其具有共同的开口。
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公开(公告)号：CN102388291A
公开(公告)日：2012-03-21
申请号：CN201080016229.4
申请日：2010-04-09
Applicant: 欧姆龙株式会社
CPC classification number: G01B11/24 , G01B11/245
Abstract: 一种观测设备，包括照明装置，用于用具有第一光源分布的光照射测量对象的表面；以及成像部，用于对测量对象的表面成像。考虑通过测量点的第一平面，将第一光源分布设置为使得：(1)光亮度L11(θ)根据角度θ以连续或步进的方式变化，以及(2)当从测量点观察时，在第一平面上以位于预定角度θC的点为中心的预定范围±σ的局部区域中，光亮度L11(θ)不为零，并且对于满足0＜a≤σ的任意a，以下方程式实质上成立：L11(θC-a)+L11(θC+a)＝2×L11(θC)。
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公开(公告)号：CN101310172A
公开(公告)日：2008-11-19
申请号：CN200680042647.4
申请日：2006-11-09
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01N21/35
Abstract: 一种焊料检查装置，在将电子部件向基板(2)搭载之前，基于CAD数据等由印刷位置获取机构获得的印刷位置信息，在基板(2)上进行扫描并仅对在基板(2)上印刷的焊糊(3)照射光，检测通过照射该光而从焊糊(3)反射来的特定波数的红外线的检查对象强度。以在基板(2)上印刷的焊糊(3)为检查对象，基于作为反射光而被检测出的上述特定波数的红外线的比较对象强度和上述检查对象强度，计算表示上述检查对象焊糊(3)相对于上述比较对象焊糊(3)的相对劣化度的劣化参数，上述反射光是向相对于检查对象而言的比较对象焊糊(3)照射光时的反射光。
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公开(公告)号：CN111566437B
公开(公告)日：2021-10-29
申请号：CN201980007572.3
申请日：2019-02-14
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01B11/245 , G01B11/25 , G01C3/06 , G06T7/521 , G06T7/593
Abstract: 为了提供一种提高测量分辨率且可实现高速处理的三维测量系统以及三维测量方法，本发明的三维测量系统包括：摄像部，具有远离配置的第一摄像部及第二摄像部，拍摄对象物的互不相同的图像；第一计算部，通过使用第一摄像部及第二摄像部的至少任一者，并使用与立体相机方式不同的三维测量方式的距离信息或用于计算距离的信息，从而计算第一特征点的视差；以及第二计算部，使用第一摄像部及第二摄像部，通过立体相机方式，基于针对第二特征点的对应点的搜索结果来计算第二特征点的视差，根据第一特征点的视差及第二特征点的视差来确定对象物的三维形状，且第二计算部基于第一特征点的视差来设定搜索范围。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110268223B
公开(公告)日：2021-02-09
申请号：CN201780085657.4
申请日：2017-11-28
Applicant: 欧姆龙株式会社
Abstract: 控制装置假设由摄像装置观测到的观测光是一次反射光和二次反射光的合成光，其中，所述一次反射光是从投影装置投射的光在计测对象物上的计测点处反射而入射到摄像装置的光，所述二次反射光是从投影装置投射的在其它反射面上反射后的光在计测对象物上的计测点处反射而入射到摄像装置的光。控制装置针对观测光的亮度振幅值取得3个以上的采样值，使用这些采样值计算因二次反射光引起的相位误差，使用相位误差对观测光的相位值进行校正，由此计算出校正相位值，根据校正相位值而计算计测对象物上的计测点的三维位置。
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公开(公告)号：CN110234954A
公开(公告)日：2019-09-13
申请号：CN201780085360.8
申请日：2017-11-28
Applicant: 欧姆龙株式会社
Inventor： 大西康裕
IPC: G01B11/25
Abstract: 相互反射检测装置具备：照射单元，其照射频率可变的正弦波图案的光；图像取得单元，其取得被照射了来自所述照射单元的光的对象物的图像；相位确定单元，其根据所述图像对每个位置确定相位；以及检测单元，其检测发生了相互反射的区域，所述检测单元针对低频和高频的多个组合求出从被照射了低频的正弦波图案的图像得到的相位与从被照射了高频的正弦波图案的图像得到的相位之间的相位差，在针对所述多个组合中的任意组合的所述相位差为阈值以上的区域中，判断为发生了相互反射。
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公开(公告)号：CN104160242B
公开(公告)日：2017-03-29
申请号：CN201380013148.2
申请日：2013-01-25
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01B11/25 , G01B11/00 , G01N21/956
CPC classification number: G01N21/956 , G01B11/00 , G01B11/25 , G01B11/254 , G01N21/4738 , G01N21/55 , G01N21/8803 , G01N21/8851 , G01N21/95684 , G01N2021/557 , G01N2021/95638 , G01N2021/95646 , G01N2021/95661 , G01N2021/95669 , G01N2201/062 , G01N2201/12
Abstract: 使用以仅使镜面物体的颜色特征变化的方式设定的两种照明图案来拍摄计测对象物，比较所得到的两张图像，根据颜色特征是否发生显著改变来识别是镜面物体还是漫射物体。此时，以消除反射光中所包含的镜面叶瓣成分的方式对各照明图案的发光强度分布进行设计。
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公开(公告)号：CN102388291B
公开(公告)日：2014-07-09
申请号：CN201080016229.4
申请日：2010-04-09
Applicant: 欧姆龙株式会社
CPC classification number: G01B11/24 , G01B11/245
Abstract: 一种观测设备，包括照明装置，用于用具有第一光源分布的光照射测量对象的表面；以及成像部，用于对测量对象的表面成像。考虑通过测量点的第一平面，将第一光源分布设置为使得：(1)光亮度L11(θ)根据角度θ以连续或步进的方式变化，以及(2)当从测量点观察时，在第一平面上以位于预定角度θC的点为中心的预定范围±σ的局部区域中，光亮度L11(θ)不为零，并且对于满足0＜a≤σ的任意a，以下方程式实质上成立：L11(θC-a)+L11(θC+a)＝2×L11(θC)。
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公开(公告)号：CN103376263A
公开(公告)日：2013-10-30
申请号：CN201310132863.X
申请日：2013-04-17
Applicant: 欧姆龙株式会社
Inventor： 大西康裕
IPC: G01N21/95
CPC classification number: G01B11/2527 , G01N21/95684 , G01N2021/95638 , G01N2021/95646 , G01N2021/95669
Abstract: 本发明的目的在于能够判断包括难以计测外观的部分的锡焊部位的焊锡的润湿成形状态。在焊锡印刷工序之后，在计测了涂敷在各焊盘上的焊锡膏的量之后，针对实施了部件安装工序及回流工序的基板实施回流后检查装置的检查。在该检查装置中，在照明装置的照明下，利用在正面观察作为检查对象的基板面的状态下的摄像头进行拍摄，针对特定锡焊部位计测特定特征，并基于该计测的结果，来判断锡焊部位的焊锡的润湿成形的好坏，特定锡焊部位是指，具有在所生成的图像中没有出现的特征，针对相应的焊盘计测出的焊锡膏满足事先规定的良好的条件的锡焊部位，特定特征是指，在图像中出现的特征，并且为与在该锡焊部位中的图像中没有出现的部分的形状有关的特征。
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