功率器件的检测方法
    21.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113759227A

    公开(公告)日:2021-12-07

    申请号:CN202110975862.6

    申请日:2021-08-24

    Abstract: 本发明提供了一种功率器件的检测方法,包括:对待测功率器件进行扫频处理;获取待测功率器件各端子的等效阻抗参数;根据预设的判断规则,确定待测功率器件的损伤情况;其中,等效阻抗参数包括:等效电阻、等效电容、等效电感。本发明所提供的功率器件的检测方法,通过扫频处理获取待测功率各端子的等效阻抗参数后,可直接通过预设的判断规则对待测功率器件各方面的损伤情况进行有效准确的判定,无需对功率器件进行带电导通工作,无需设计专门的测试电路或测试系统,无需对功率器件进行开封,满足了可靠性检测、快速性检测、通用性检测、无损性检测的需求。

    实验平台和实验平台的控制方法

    公开(公告)号:CN109884918A

    公开(公告)日:2019-06-14

    申请号:CN201910266475.8

    申请日:2019-04-03

    Abstract: 本发明提供了一种实验平台和一种实验平台的控制方法,其中,实验平台包括:本体;支架;第一驱动部,第一驱动部设置在本体上,且与支架的一端相连接,用于驱动支架在第一方向运动;摆臂,摆臂的一端与支架的另一端转动相连;第二驱动部,第二驱动部设置在支架上,驱动摆臂在第二方向转动;控制部,控制部分别与第一驱动部和第二驱动部相连接,根据上位机发送的工作模型生成第一控制信号驱动第一驱动部和根据上位机发送的工作模型生成第二控制信号驱动第二驱动部。本发明提出的实验平台实现摆臂在第一方向和第二方向上的运动控制,进而按照上位机的第一控制信号和第二控制信号组成的控制信号实现指定动作,进而实现空间操控测试。

    一种基于布拉格相移光栅的电光调制器

    公开(公告)号:CN106785905A

    公开(公告)日:2017-05-31

    申请号:CN201710043766.1

    申请日:2017-01-19

    CPC classification number: H01S5/125 G02F1/035

    Abstract: 本发明公开了一种基于布拉格相移光栅的电光调制器,其特征是,包括基底层、下波导层和上波导层,所述下波导层和上波导层顺序叠接在基底层的上表面上,所述上波导层的顶部设有等周期的布拉格光栅,布拉格光栅的中间位置设有相移结构,相移结构将布拉格光栅分成大小相同的2个光栅结构,所述基底层的宽度尺寸要大于下波导层的宽度尺寸、上波导层的宽度尺寸,基底层的上表面还设有电极。这种电光调制器结构尺寸小、传输损耗低、调制效率高,另外还具有工艺简单,易集成于CMOS集成电路的特点。

    一种基于波导布拉格光栅的反射型窄带滤波器

    公开(公告)号:CN106772798B

    公开(公告)日:2023-03-10

    申请号:CN201710043730.3

    申请日:2017-01-19

    Abstract: 本发明公开了一种基于波导布拉格光栅的反射型窄带滤波器,其特征是,包括基底层、下波导层、中波导层和上波导层,所述下波导层、中波导层和上波导层顺序叠接在基底层的上表面上,所有的波导均为平板条形波导,所述上波导层的顶部设有等周期的布拉格光栅,所述基底层的宽度尺寸要大于下波导层、中波导层、上波导层的宽度尺寸。这种滤波器结构紧凑,光信号传输距离长、易于制作、制造成本低且与CMOS兼容。

    提高扫频信号线性度的方法和装置

    公开(公告)号:CN115220027A

    公开(公告)日:2022-10-21

    申请号:CN202210628823.3

    申请日:2022-06-06

    Abstract: 本申请涉及激光雷达测量领域,尤其涉及一种提高扫频信号线性度的方法和装置。一种提高扫频信号线性度的方法,所述方法包括如下步骤:步骤S1:从调频连续波激光雷达发送的激光中依次提取若干时间点的瞬时拍频信号;步骤S2:根据所述调频连续波激光雷达在各个时刻的瞬时拍频信号确定对应的各个时刻的瞬时扫频信号;步骤S3:对各个时刻的瞬时扫频信号进行一阶直线拟合,得到所述调频连续波激光雷达在一段目标时间内的扫频信号。能够避免因激光雷达性能所限导致的误差,并能够得到信号的瞬时参数,且装置简单,测量方便。同时拟合结果以一次函数形式展现,便于后续计算和利用。

    一种频谱信息确定方法及相关设备

    公开(公告)号:CN115201775A

    公开(公告)日:2022-10-18

    申请号:CN202210628824.8

    申请日:2022-06-06

    Abstract: 本发明涉及信息处理技术领域,尤其涉及一种频谱信息确定方法及相关设备。其中,该方法包括:采用M种不同的窗函数对目标信号进行截取,得到对应的M组待处理信号数据,其中M≥2;根据所述M组待处理信号数据确定待处理信号序列,所述待处理信号序列为时域信号;将所述待处理信号序列延时n0个点,得到第二待处理信号序列;根据所述待处理信号序列的相位与所述第二待处理信号序列的相位确定相位差;根据所述相位差确定所述目标信号的频谱信息。通过本发明实施例提供的方法,可以克服现有技术抗干扰能力较弱,误差较大以及准确率较低的缺陷。

    压力传感元件及压力传感系统

    公开(公告)号:CN110631745B

    公开(公告)日:2021-10-22

    申请号:CN201910898393.5

    申请日:2019-09-23

    Abstract: 本发明提供了一种压力传感元件和压力传感系统,其中,压力传感元件包括:基底;加载波导,加载波导设置于基底上,两个耦合器与加载波导的两端相连,耦合器用于对激光器发出的光线进行传导,两个耦合器通过光纤分别与激光器和光谱分析仪相连;加载波导包括光栅和形变部,光栅与形变部相连,形变部上设置有一个通孔,通孔的轴线与基底相平行,通孔的轴线与两个耦合器之间的连线相垂直。本发明中的压力传感元件相比于相关技术加载波导的体积可以设置得更小,实现使压力传感元件的体积更小,并且基于形变部的形变量对折射率的影响进行压力检测,可以提高压力传感元件的稳定性,以及压力传感元件的灵敏度。

    电子器件断点检测方法、装置和电子设备

    公开(公告)号:CN112946526A

    公开(公告)日:2021-06-11

    申请号:CN202110042396.6

    申请日:2021-01-13

    Inventor: 肖经 李志文

    Abstract: 本申请提出了一种电子器件断点检测方法、装置和电子设备,涉及故障检测技术领域。其中,上述电子器件断点检测方法包括:首先,生成测试信号和参考信号。然后,将测试信号输入待测电子器件的待测引脚,得到测试信号在待测引脚的反射信号。其次,根据参考信号,确定反射信号与测试信号之间的差频信号。最后,根据差频信号,确定待测电子器件的键合线断点位置。从而在降低检测成本的基础上,提高电子器件断点检测的简便性和准确性。

    光开关的控制系统和控制方法

    公开(公告)号:CN111176196A

    公开(公告)日:2020-05-19

    申请号:CN202010091172.X

    申请日:2020-02-13

    Abstract: 本发明提出了一种光开关的控制系统和控制方法,其中控制系统包括:控制器,与光开关连接,控制器适于向光开关输出电压,以使光开关在电压加载下受静电吸引力而旋转;电源,与控制器连接,电源适于为控制器供电;升压组件,连接于电源和控制器,升压组件适于对待输入至控制器的供电电压进行升压转换;处理器,与控制器连接,处理器适于根据控制参数、编译参数和simulink仿真工具编译控制器的控制代码,一方面能够提供较大的直流电源,解决对于不同的静电驱动MEMS光开关需要开发特定的硬件控制系统的问题,降低生产成本,另一方面,基于simulink的图形化编程构造算法,能自动生成代码并下载到系统中。

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