一种大功率IGBT模块封装结构

    公开(公告)号:CN103035587A

    公开(公告)日:2013-04-10

    申请号:CN201210530554.3

    申请日:2012-12-11

    Abstract: 本发明提供一种大功率IGBT模块封装结构,所述结构包括底板、覆铜陶瓷基板、半导体芯片、功率电极、控制电极、凝胶层、环氧树脂层和双绞软连线;所述底板、凝胶层和环氧树脂层从下到上依次分布,所述覆铜陶瓷基板的上下表面分别与半导体芯片和底板焊接,所述覆铜陶瓷基板和半导体芯片均封装在所述凝胶层内部,所述功率电极穿过环氧树脂层和凝胶层与覆铜陶瓷基板相连,所述控制电极通过环氧树脂层紧固,其通过双绞软连线与覆铜陶瓷基板的焊盘或直接与半导体芯片连接。本发明通过增加环氧树脂层增加了IGBT模块的气密性,同时对控制电极可起到紧固支撑的作用,从而简化了控制电极结构,同时便于覆铜陶瓷基板上半导体芯片的布局设计。

    一种基于开关特性测量的IGBT芯片筛选结构

    公开(公告)号:CN107305852B

    公开(公告)日:2024-05-10

    申请号:CN201610262775.5

    申请日:2016-04-25

    Abstract: 本发明提供了一种基于开关特性测量的IGBT芯片筛选结构,包括上端盖、下端盖和发射极金属电极;上端盖和下端盖均为凹形盖,上端盖和下端盖的两侧壁通过外框架弹簧连接形成一个长方体框架;发射极金属电极设置在长方体框架内,其包括圆盘形金属电极,及相对该圆盘形金属电极的中心轴对称分布的多个凸台,凸台上放置IGBT模块;圆盘形金属电极布置在下端盖上,其上面和侧面分别设置有一个栅极PCB板和一个辅助栅极/发射极端子。与现有技术相比,本发明提供的一种基于开关特性测量的IGBT芯片筛选结构,可以在主回路参数一致的条件下,测量多个并联的IGBT芯片的开关波形,从而综合评价芯片的动静态参数是否一致。

    一种功率半导体芯片测试单元及其测试方法

    公开(公告)号:CN106291309A

    公开(公告)日:2017-01-04

    申请号:CN201610843104.8

    申请日:2016-09-22

    CPC classification number: G01R31/2601

    Abstract: 本发明提供了一种功率半导体芯片测试单元及其测试方法。与现有技术相比,所述测试单元包括集电极、被测芯片子模组、PCB板、固定框架和发射极;集电极和发射极的外部侧壁上分别设置有集电极限位凹槽和发射极限位凹槽,固定框架的内部侧壁上设置有限位凸台;集电极、被测芯片子模组、PCB板和发射极顺次叠放在固定框架内,且限位凸台嵌入在集电极限位凹槽和发射极限位凹槽内。本发明提供的一种功率半导体芯片测试单元及其测试方法,可以限制测试单元内各部件的纵向位移而只存在轴向位移,不仅利于对被测芯片子模组进行随时拆卸和压力加载,还能保证在多次测试过程测试单元内各部件的位置相对固定。

    一种大功率压接式IGBT器件
    29.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105552038A

    公开(公告)日:2016-05-04

    申请号:CN201510960406.9

    申请日:2015-12-18

    Abstract: 本发明提供一种大功率压接式IGBT器件,包括管壳和同轴安装在所述管壳上下两端的板状金属电极,下端金属电极的内侧面上安装有凸台,所述凸台与上端金属电极之间压接有功率子模块,所述下端金属电极的内侧面上垂直安装有将所述下端金属电极的内侧面分隔成四个区域的十字形硅钢片组;所述凸台分布在所述四个区域内;所述十字形硅钢片组外部为绝缘框架。本发明提供的技术方案将大量的凸台进行分割,降低了凸台在通过瞬态电流时,所产生磁场的相互影响,从而实现了局部区域内凸台之间杂散电感的最小化,提高了器件的使用性能。

Patent Agency Ranking