样品检测设备及系统
    251.
    发明授权

    公开(公告)号:CN116106291B

    公开(公告)日:2023-07-11

    申请号:CN202310351238.8

    申请日:2023-04-04

    Abstract: 本发明涉及样品光谱检测技术领域,特别涉及一种样品检测设备及系统,在每一个样品放置区域上分别放置一个待检测的液态样品,然后通过光谱收发器将第一射出光束射至液态样品,并经液态样品反射之后形成反射光束,反射光束再从第一收发端进入光谱收发器并从第二收发端射出至一检测机构,最后再利用检测机构对反射光束进行检测,使得本发明采用对液态样品反射的反射光束进行检测的方式能够准确的得到液态样品的检测结果,解决了相关技术在对液态农产品进行检测时,存在无法准确获得样品的检测结果的缺陷的技术问题。

    可进行电子自旋禁阻激发的超分子晶体膜及制备方法

    公开(公告)号:CN116178747A

    公开(公告)日:2023-05-30

    申请号:CN202310429632.9

    申请日:2023-04-21

    Abstract: 本发明涉及有机半导体领域,具体涉及一种可进行电子自旋禁阻激发的超分子晶体膜及制备方法,包括主体材料和客体材料,所述主体材料为第一金属与第一配体、第二配体的配合物,所述客体材料为第二金属与第三配体的配合物。通过构建主体材料和客体材料以及两者配体分子之间的相似性、空间匹配程度、相互作用等方面去制备超分子晶体膜,其掺杂所形成的结晶借助晶格、氢键等相互作用实现局部限域,使得其能实现主体分子和客体分子较强的电子自旋‑轨道作用以及电子跃迁偶极作用,以及二者之间的耦合,其在光谱上表现为在长波长处有更为明显的发射,且表现出明显的长寿命三重态发射。

    样品检测设备及系统
    254.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116106291A

    公开(公告)日:2023-05-12

    申请号:CN202310351238.8

    申请日:2023-04-04

    Abstract: 本发明涉及样品光谱检测技术领域,特别涉及一种样品检测设备及系统,在每一个样品放置区域上分别放置一个待检测的液态样品,然后通过光谱收发器将第一射出光束射至液态样品,并经液态样品反射之后形成反射光束,反射光束再从第一收发端进入光谱收发器并从第二收发端射出至一检测机构,最后再利用检测机构对反射光束进行检测,使得本发明采用对液态样品反射的反射光束进行检测的方式能够准确的得到液态样品的检测结果,解决了相关技术在对液态农产品进行检测时,存在无法准确获得样品的检测结果的缺陷的技术问题。

    一种基于二苯桶烯并咪唑衍生物的有机电致发光材料、制备方法及其应用

    公开(公告)号:CN115850187A

    公开(公告)日:2023-03-28

    申请号:CN202310144460.0

    申请日:2023-02-21

    Abstract: 本发明属于有机光电材料与器件技术领域,具体涉及一种基于二苯桶烯并咪唑衍生物及其在有机电致发光器件中的应用,其中二苯桶烯并咪唑衍生物的分子结构通式如结构式(Ⅰ)所示:(Ⅰ),本发明提供一种新型咪唑衍生物,即二苯桶烯并咪唑衍生物,二苯桶烯单元自身的立体构型,可以进一步抑制咪唑类分子的分子间间聚集,阻挡分子内电荷转移,从而保证其高效蓝光发射。该二苯桶烯并咪唑衍生物可以直接制备成发光层获得蓝光电致发光器件,也可以作为主体材料与红、黄或绿光磷光发光材料掺杂制备红、黄或绿光电致发光器件,上述器件可用于平板显示、照明以及光源等应用领域。

    微米发光二极管芯片缺陷检测方法、设备及存储介质

    公开(公告)号:CN115575790B

    公开(公告)日:2023-03-17

    申请号:CN202211587907.3

    申请日:2022-12-12

    Abstract: 本发明公开了一种微米发光二极管芯片缺陷检测方法、设备及存储介质,属于芯片检测技术领域,该方法包括:获取微米发光二极管芯片的光谱数据,将所述光谱数据转化为待测光谱向量;确定所述待测光谱向量与预设的背景光谱向量之间的第一角度参量,若所述第一角度参量符合预设的检测条件,则将所述待测光谱向量作为目标光谱向量;确定所述目标光谱向量与预设的参考光谱向量之间的第二角度参量,根据所述第二角度参量和预设的参量阈值之间的大小关系判断所述微米发光二极管芯片是否异常。本发明通过光谱角匹配进行微米发光二极管芯片的缺陷检测,实现了提高微米发光二极管芯片检测效率的技术效果。

    透过率分布的检测方法、装置、设备及存储介质

    公开(公告)号:CN115452779B

    公开(公告)日:2023-03-14

    申请号:CN202211402876.X

    申请日:2022-11-10

    Abstract: 本发明公开了一种透过率分布的检测方法、装置、设备及存储介质,涉及光学测量领域,该方法包括:通过光源部件发出入射光照射至待测样品处,产生透射光,以使透射光进入探测部件;获取预设的透过率测试策略,根据透过率测试策略分别控制所述待测样品转动至第一待测角度、所述探测部件转动至第二待测角度,以及所述光源部件转动至第三待测角度;基于探测部件中的探测单元获取透射光的样品透射光强信息;根据第一待测角度、第二待测角度、第三待测角度、样品透射光强信息和预设的标准光强信息确定待测样品的透过率分布函数。本发明采用传递式测量方法,实现了提高光衰减器件的透过率分布函数检测准确度的技术效果。

    发光化合物、发光层材料、有机电致发光器件及电子设备

    公开(公告)号:CN114105894B

    公开(公告)日:2022-10-04

    申请号:CN202111358346.5

    申请日:2021-11-16

    Abstract: 本发明公开一种发光化合物、发光层材料、有机电致发光器件及电子设备,涉及有机发光材料技术领域,所述发光化合物的结构通式如结构式(1)所示。所述发光化合物为联苯胺衍生物,在具有空间位阻的联苯胺结构上引入成环修饰有利于抑制给体结构的振动,再结合刚性受体,形成刚性的D‑A骨架,容易实现窄发射光谱特性;此外,在联苯胺结构上进行相应的修饰,可以进一步调控上述化合物的能级带隙和发光颜色,实现商用颜色标准。同时,给体与受体单元的大位阻作用可以极大程度上避免发光分子的堆积,抑制因堆积作用导致的激子淬灭,有利于改善化合物在有机电致发光器件中的发光效率,满足商业化有机电致发光器件的光电性能要求。

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