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公开(公告)号：CN113406361B
公开(公告)日：2023-08-15
申请号：CN202110302022.3
申请日：2021-03-22
Applicant: 季华实验室
IPC: G01Q60/22
Abstract: 本发明公开了一种用于近场区光场调控的显微镜针尖及其制备方法，该针尖包括针尖本体，针尖本体呈三棱柱状，且其顶面为等腰三角形状，针尖本体外表设有由多片不同材质金属膜构成的用于改变磁场分布的非轴对称微纳结构。本申请实施例提供的用于近场区光场调控的显微镜针尖及其制备方法，利用该制备方法可快速、便捷地制备出具有非轴对称微纳结构的近场光学显微镜针尖，该针尖通过非轴对称微纳结构调控针尖处磁场分布结构，进而控制针尖局部角动量在电子传输中的作用，可应用在印刷型有机电致发光材料的超分辨检测中获得更高的检测精度。
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公开(公告)号：CN113447084A
公开(公告)日：2021-09-28
申请号：CN202111015301.8
申请日：2021-08-31
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明涉及食品检测技术领域，尤其涉及一种预估食品货架期的检测装置、系统、方法和存储介质，检测装置包括箱体、控制机构、环境检测机构、图像检测机构、拉曼光谱分析机构和环境控制机构，环境检测机构用于获取食品所处环境信息；图像检测机构用于获取食品外观信息；拉曼光谱分析机构用于获取食品成分信息；控制机构根据所述环境信息、食品外观信息和食品成分信息对食品货架期进行预估。本发明通过环境检测机构实现对环境中的温度、湿度、光强、光照颜色的检测，通过图像检测机构实时获取食品的外观，通过拉曼光谱分析机构获取食品的组分信息，综合外界条件和食品本身的外观、成分实现对食品货架期的预估，使得货架期预估的时间更为精准和智能。
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公开(公告)号：CN117825767A
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202410252945.6
申请日：2024-03-06
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明涉及电学检测技术领域，特别公开一种单分子器件探针进针装置、电学检测装置及电学检测装置的导通控制方法，其中，所述单分子器件探针进针装置包括基座、宏动机构及微动机构；所述宏动机构设于所述基座，所述微动机构设于所述宏动机构；所述微动机构安装有探针和单分子器件中二者之一，所述宏动机构安装有所述探针和所述单分子器件中二者之另一；所述宏动机构和所述微动机构运动，并带动所述探针和所述单分子器件相互靠近，以使所述探针与所述单分子器件接触导通。本发明技术方案无需设置高精度仪器和极端实验环境也能实现单分子器件探针进针的动作，进而降低单分子器件的电学检测难度。
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公开(公告)号：CN117074725A
公开(公告)日：2023-11-17
申请号：CN202311062282.3
申请日：2023-08-22
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种设备对准方法、装置、终端设备及介质，该方法包括：控制激光器对标准样品的特征边缘范围进行扫描，得到所述标准样品在激光聚焦光斑处的第一特征位置形貌图像；控制探针对所述特征边缘范围进行扫描，得到所述标准样品的第二特征位置形貌图像；根据所述第一特征位置形貌图像和所述第二特征位置形貌图像，获取激光聚焦光斑和探针针尖之间的位置偏差，并根据所述位置偏差，对所述激光聚焦光斑和所述探针针尖进行对准。本发明能够实现激光聚焦光斑与针尖的精确对准。
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公开(公告)号：CN117664933A
公开(公告)日：2024-03-08
申请号：CN202410132585.6
申请日：2024-01-31
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种激光光谱检测装置、方法、电子设备及存储介质，属于光谱检测技术领域，该装置包括：摆动工作台，摆动工作台用于放置样品；显微镜系统，显微镜系统位于摆动工作台的上方；倾斜角度检测模块，倾斜角度检测模块位于显微镜系统的一侧，用于检测放置在所述摆动工作台上的所述样品的倾斜角度；光谱仪，光谱仪位于显微镜系统与倾斜角度检测模块相对的另一侧；激光器，激光器位于显微镜系统的上方；主控模块，主控模块与摆动工作台、倾斜角度检测模块、光谱仪均通信连接。本发明实现了对表面不平整样品进行分析时，提高光谱分析精度的技术效果。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113406361A
公开(公告)日：2021-09-17
申请号：CN202110302022.3
申请日：2021-03-22
Applicant: 季华实验室
IPC: G01Q60/22
Abstract: 本发明公开了一种用于近场区光场调控的显微镜针尖及其制备方法，该针尖包括针尖本体，针尖本体呈三棱柱状，且其顶面为等腰三角形状，针尖本体外表设有由多片不同材质金属膜构成的用于改变磁场分布的非轴对称微纳结构。本申请实施例提供的用于近场区光场调控的显微镜针尖及其制备方法，利用该制备方法可快速、便捷地制备出具有非轴对称微纳结构的近场光学显微镜针尖，该针尖通过非轴对称微纳结构调控针尖处磁场分布结构，进而控制针尖局部角动量在电子传输中的作用，可应用在印刷型有机电致发光材料的超分辨检测中获得更高的检测精度。
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公开(公告)号：CN119963559A
公开(公告)日：2025-05-09
申请号：CN202510452247.5
申请日：2025-04-10
Applicant: 季华实验室
IPC: G06T7/00 , G06N3/0464 , G06N3/0495 , G06N3/08 , G06T7/13 , G06V10/10 , G06V10/20 , G06V10/25 , G06V10/26 , G06V10/764 , H01F41/02
Abstract: 本发明涉及图像处理领域，本发明公开了一种缺陷检测和评级方法、装置、设备及存储介质，缺陷检测和评级方法包括：对电感进行图像采集，以得到基础图像；构建语义分割网络，并利用语义分割网络对基础图像进行区域提取，以得到线圈轮廓区域；对线圈轮廓区域进行图像处理和区域筛选，以得到特征区域；提取磁芯中心坐标，并计算特征区域的边缘点与磁芯中心坐标的距离，以得到磁芯距离数据；构建缺陷等级量化神经网络，并利用缺陷等级量化神经网络对磁芯距离数据进行评级，以得到评级结果；本发明综合运用多样化的图像处理技术和神经网络，全面优化了缺陷检测的流程和精度，显著提高了检测的准确性和效率。
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公开(公告)号：CN119483335A
公开(公告)日：2025-02-18
申请号：CN202510022525.3
申请日：2025-01-07
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种压电惯性位移系统，涉及运动平台技术领域，所述压电惯性位移系统包括底座、对称预紧结构、传动件及传递台；所述对称预紧结构包括压电执行元件、弹性件及至少一个摩擦元件，所述压电执行元件与所述底座连接，所述弹性件与所述压电执行元件远离所述底座的一端连接，所述摩擦元件与所述弹性件连接；所述传动件滑动连接于所述底座，并与所述摩擦元件背向所述弹性件的一端相邻设置；所述传递台与所述传动件连接；所述压电执行元件用于驱动所述弹性件带动所述摩擦元件靠近或远离所述传动件，以控制所述传递台进行惯性运动。本发明提供的技术方案简化压电惯性位移系统的结构，降低加工难度，从而降低压电惯性位移系统的生产成本。
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公开(公告)号：CN117664933B
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN202410132585.6
申请日：2024-01-31
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种激光光谱检测装置、方法、电子设备及存储介质，属于光谱检测技术领域，该装置包括：摆动工作台，摆动工作台用于放置样品；显微镜系统，显微镜系统位于摆动工作台的上方；倾斜角度检测模块，倾斜角度检测模块位于显微镜系统的一侧，用于检测放置在所述摆动工作台上的所述样品的倾斜角度；光谱仪，光谱仪位于显微镜系统与倾斜角度检测模块相对的另一侧；激光器，激光器位于显微镜系统的上方；主控模块，主控模块与摆动工作台、倾斜角度检测模块、光谱仪均通信连接。本发明实现了对表面不平整样品进行分析时，提高光谱分析精度的技术效果。
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公开(公告)号：CN117871474A
公开(公告)日：2024-04-12
申请号：CN202311740973.4
申请日：2023-12-15
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明提供一种检测设备及检测方法，检测设备包括样品台、激光入射模块、成像模块、光谱检测模块和探针检测模块，样品台用于放置样品；激光入射模块用于发出入射光线射向样品；成像模块用于获取样品的图像信息；光谱检测模块接收入射光线入射至样品后返回的信号，以根据信号获取样品的光谱；探针检测模块，探针检测模块包括不导电探针和检测子模块，不导电探针检测过程中与样品保持预设距离范围设置，检测子模块用于接收探针的变化信号以获取样品的表面形貌。该检测设备能够克服接触性检测中探针损伤，提高检测效率及降低检测成本；且能够在获取样品表面形貌的同时采集当前点的光谱信息，实现“图谱合一”的更高精度检测。
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