-
公开(公告)号：CN117939308B
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN202410298423.X
申请日：2024-03-15
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种偏振成像方法、装置、电子设备及存储介质，属于光学成像技术领域，该方法包括：获取偏振图像采集设备生成的原始偏振图像；根据所述偏振图像采集设备中的预设偏振方向，将所述原始偏振图像分解为多张遮挡图像，其中，各所述遮挡图像之间的偏振方向不同，各所述遮挡图像中的偏振方向相同；对各所述遮挡图像进行图像还原处理，得到目标偏振图像。本发明通过图像遮挡和图像还原处理，实现了提升偏振成像的图像质量的技术效果。
-
公开(公告)号：CN118153692A
公开(公告)日：2024-06-07
申请号：CN202410580190.2
申请日：2024-05-11
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明涉及多模态数据应用技术领域，公开了一种基于语义的跨模态知识联想方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：获取跨模态知识及其对应的语言描述作为语义跨模态数据集；构建跨模态知识联想模型，跨模态知识联想模型包括语义mask子模型和融合变换因子生成子模型，语义mask子模型用于对语义跨模态数据集进行遮罩处理生成与语言描述最相关的部分数据，融合变换因子生成子模型用于对语义跨模态数据集进行处理生成变换因子；将语义跨模态数据集输入经过训练的跨模态知识联想模型中，输出符合语言描述的跨模态知识联想。本发明方法能够实现将最符合模型当前任务的跨模态知识联想用于下游任务，大幅提升深度学习模型面对跨模态任务的泛化能力。
-
公开(公告)号：CN118067672A
公开(公告)日：2024-05-24
申请号：CN202410163359.4
申请日：2024-02-05
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明提供了一种光谱检测方法及装置，所述光谱检测方法包括通过第一线偏振片在第一方向上对光源光过滤以得到偏振光；将所述偏振光照射至待检物上，并接收从所述待检物上发出的混合光；通过第二线偏振片在第二方向上对所述混合光过滤以得到检测光；获取所述检测光的高光谱图像；对所述高光谱图像进行预处理，以获取类图形光谱数据；根据所述类图形光谱数据获取对应的检测结果；所述第一方向与所述第二方向垂直。本发明技术方案提高检测精度，处理结果更可靠。
-
公开(公告)号：CN117881047A
公开(公告)日：2024-04-12
申请号：CN202311818025.8
申请日：2023-12-26
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明提供了一种积分球光谱调节装置、方法及计算机可读存储介质，所述积分球光谱调节装置包括壳体、OLED组件、光谱检测仪及处理器，所述OLED组件设置在所述壳体的内壁上；所述光谱检测仪设置在所述壳体上，所述光谱检测仪用于检测所述OLED组件的光谱信息；所述处理器分别于所述OLED组件以及所述光谱检测仪电连接，所述处理器用于根据目标光谱信息匹配计算目标功率，并控制所述OLED组件的运行功率调整至上述目标功率。本发明技术方案避免积分球光源由于长时间使用后导致的光谱特性变化，提高可靠性。且能够满足任意光谱类型，在完成一次光谱匹配后可以保存光谱匹配记录，后续可以再次调用，操作方便。
-
公开(公告)号：CN115575790B
公开(公告)日：2023-03-17
申请号：CN202211587907.3
申请日：2022-12-12
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种微米发光二极管芯片缺陷检测方法、设备及存储介质，属于芯片检测技术领域，该方法包括：获取微米发光二极管芯片的光谱数据，将所述光谱数据转化为待测光谱向量；确定所述待测光谱向量与预设的背景光谱向量之间的第一角度参量，若所述第一角度参量符合预设的检测条件，则将所述待测光谱向量作为目标光谱向量；确定所述目标光谱向量与预设的参考光谱向量之间的第二角度参量，根据所述第二角度参量和预设的参量阈值之间的大小关系判断所述微米发光二极管芯片是否异常。本发明通过光谱角匹配进行微米发光二极管芯片的缺陷检测，实现了提高微米发光二极管芯片检测效率的技术效果。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115452779B
公开(公告)日：2023-03-14
申请号：CN202211402876.X
申请日：2022-11-10
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种透过率分布的检测方法、装置、设备及存储介质，涉及光学测量领域，该方法包括：通过光源部件发出入射光照射至待测样品处，产生透射光，以使透射光进入探测部件；获取预设的透过率测试策略，根据透过率测试策略分别控制所述待测样品转动至第一待测角度、所述探测部件转动至第二待测角度，以及所述光源部件转动至第三待测角度；基于探测部件中的探测单元获取透射光的样品透射光强信息；根据第一待测角度、第二待测角度、第三待测角度、样品透射光强信息和预设的标准光强信息确定待测样品的透过率分布函数。本发明采用传递式测量方法，实现了提高光衰减器件的透过率分布函数检测准确度的技术效果。
-
公开(公告)号：CN114998330A
公开(公告)日：2022-09-02
申请号：CN202210894978.1
申请日：2022-07-28
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明属于晶圆检测技术领域，公开了一种无监督的晶圆缺陷检测方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：获取初始晶圆检测数据集；利用预设无监督自编码器为初始晶圆检测数据集中的无标签晶圆检测数据制作伪标签，生成目标晶圆检测数据集；根据目标晶圆检测数据集对预设分类器进行训练，得到训练好的目标分类器；在接收到待检测晶圆数据时，利用目标分类器对待检测晶圆数据进行检测，得到晶圆缺陷检测结果。通过上述方式，为无标签晶圆检测数据制作伪标签，利用有标签数据和伪标签数据对目标分类器进行训练，使得目标分类器学习到不同的缺陷特征，能够识别到未知的缺陷种类，提高了晶圆缺陷的检测精度。
-
公开(公告)号：CN114782451A
公开(公告)日：2022-07-22
申请号：CN202210715388.8
申请日：2022-06-23
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请公开了一种工件缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质，所述工件缺陷检测方法包括：获取待测工件的偏振光强信息，依据所述偏振光强信息，确定待测工件对应的总光强信息、对应的偏振度信息以及对应的偏振角信息；对所述总光强信息、所述偏振度信息以及所述偏振角信息进行加权聚合，得到工件偏振特征图像；对所述工件偏振特征图像进行工件边缘轮廓检测，得到边缘轮廓特征信息；依据所述边缘轮廓特征信息，对所述待测工件进行工件缺陷检测，得到工件缺陷检测结果。本申请解决了工件缺陷检测准确度低的技术问题。
-
公开(公告)号：CN114235759B
公开(公告)日：2022-06-14
申请号：CN202210174486.5
申请日：2022-02-25
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明属于晶圆缺陷检测领域，公开了一种缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质。该方法包括：获取待检测晶圆的光致发光检测结果；根据所述光致发光检测结果和预设热力图模型生成所述待检测晶圆对应的缺陷热力图，所述预设热力图模型基于电致发光缺陷标记后的光致发光检测结果样本构建；根据所述缺陷热力图确定所述待检测晶圆的缺陷检测结果。由于本发明是根据光致发光检测结果通过预设热力图模型生成待检测晶圆对应的缺陷热力图，根据缺陷热力图确定待检测晶圆的检测结果。相对于现有的通过晶圆的光致发光检测结果和电致发光检测结果确定晶圆的缺陷检测结果的方式，本发明上述方式能够提高晶圆的检测效率和检测精度。
-
公开(公告)号：CN119147107A
公开(公告)日：2024-12-17
申请号：CN202411597953.0
申请日：2024-11-11
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种波长测量方法、设备、存储介质及计算机程序产品，涉及光电技术领域，波长测量设备包括依次沿光路设置的光束导入口、光束准直筒镜、针孔安置筒镜、光电检测部件，光电检测部件与主控部件之间通信连接，设置待检光源，使得待检光源发出的光线依次经过光束导入口、光束准直筒镜和针孔安置筒镜，发生衍射；通过光电检测部件收集待检光源产生的衍射图样；将衍射图样输入目标波长测量模型，得到目标波长测量模型输出的波长信息。本发明实现了简化波长测量设备的结构，提升波长测量的便捷性的技术效果。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
49
records
(took 0.035 seconds)
