一种用于顺序等效采样系统中的窄脉冲产生电路

    公开(公告)号:CN108418570A

    公开(公告)日:2018-08-17

    申请号:CN201810592422.0

    申请日:2018-06-11

    Abstract: 本发明公开了一种用于顺序等效采样系统中的窄脉冲产生电路,包括依次连接的晶振、边沿锐化电路、雪崩三极管单管放大电路以及整形网络,所述边沿锐化电路用于将晶振产生的方波信号进行边沿锐化;所述雪崩三极管单管放大电路用于将锐化后的方波信号进行雪崩放大,产生一个高斯脉冲信号,以调节脉冲的幅度;所述RC整形网络用于将高斯脉冲信号进行整形,对脉冲的底部脉冲宽度进行调节,形成一个窄脉冲信号。本发明窄脉冲电路结构简单,底部脉冲宽度窄,有利于提高整个顺序采样系统的信噪比。

    一种跳变检测器及时钟频率调节系统的控制电路

    公开(公告)号:CN107565953A

    公开(公告)日:2018-01-09

    申请号:CN201710975393.1

    申请日:2017-10-18

    Abstract: 本发明公开了一种跳变检测器,包括第一PMOS管、第一NMOS管、一个CMOS传输门、一个反相器和一个异或门,可用于在线时序监测,用来监测输入数据是否晚到,即是否在时钟跳变沿之后到来。与传统跳变检测器相比,本发明结构精简,只有16个晶体管,大大减小了跳变检测器的面积。近阈值宽电压的跳变检测器配合触发器工作,其输入端和触发器的输入端相连,在检测窗口内能有效监测数据跳变情况,输出时序预警信号。另外,公开了一种时序预警控制系统,包括动态或门,频率控制状态机以及锁相环。

    一种应用探地雷达回波信号采集的等效采样电路

    公开(公告)号:CN106772269A

    公开(公告)日:2017-05-31

    申请号:CN201710122963.2

    申请日:2017-03-03

    CPC classification number: G01S7/292 G01V3/12

    Abstract: 本发明公开了一种新型的用于处理雷达回波信号的顺序等效采样电路,整个采样电路包括数字信号控制电路、ps级脉冲产生电路、采样保持电路、ADC转换电路;所述的数字控制信号是利用可编程逻辑门阵列结合外部晶振产生一个延时可调的方波信号;所述的ps脉冲产生电路是将经过延时的方波信号转换成一个带有延时的ps级的脉冲信号;采样保持电路与ps脉冲相连接,将ps脉冲作为采样与保持信号;采样保持电路将高频的脉冲信号拉长并与ADC相连,最终送入模数转换芯片。这种顺序采样电路很适合利用低速ADC对高频信号进行A/D转换,有利于降低整个采样电路设计的成本。

    一种工作在近阈值电源电压下的数控振荡器

    公开(公告)号:CN105743496A

    公开(公告)日:2016-07-06

    申请号:CN201610060684.3

    申请日:2016-01-28

    CPC classification number: H03L7/0992

    Abstract: 本发明涉及一种工作在近阈值电源电压下的数控振荡器,采用具有高相位噪声性能的LC交叉耦合结构振荡器,并基于差分结构设计的自举型缓冲器,利用自举电路的原理,通过充电晶体管对自举电容充放电,在电源电压的基础上进行电压量叠加,从而将DCO振荡电路的输出信号进行放大,使输出摆幅达到两倍以上的电源电压值,在保证低功耗的前提下,提高了DCO振荡电路的相位噪声性能,解决了近阈值电源电压下DCO振荡电路功耗与相位噪声之间的矛盾关系。

    一种基于BIST的TSV测试诊断电路及方法

    公开(公告)号:CN119692268B

    公开(公告)日:2025-05-16

    申请号:CN202510206482.4

    申请日:2025-02-25

    Abstract: 本发明属于超大规模集成电路可测性设计技术领域,公开了一种基于BIST的TSV测试诊断电路及方法,提供了一种用于TSV测试和诊断的硬件电路架构,包含测试访问端口控制器、测试数据寄存器、测试向量生成器、移位寄存器、双边沿触发器、TSV测试控制器和改进的加载芯片包装寄存器、捕获芯片包装寄存器,其中测试访问端口控制器负责配置测试路径、测试模式和测试使能信号,测试使能经双边沿触发器同步后激活TSV测试控制器,控制基于无损压缩结构改进的芯片包装寄存器执行测试,实现故障高效检测与不同故障类型的诊断。本发明通过测试向量生成与响应压缩协作,有效降低了测试时间,为高效、可靠的TSV测试与诊断提供了创新性解决方案。

    用于MIV故障测试的内建自测试电路及MIV故障测试方法

    公开(公告)号:CN119959742A

    公开(公告)日:2025-05-09

    申请号:CN202510452840.X

    申请日:2025-04-11

    Abstract: 本发明公开了一种用于MIV故障测试的内建自测试电路及MIV故障测试方法,该电路用于在测试模式下检测单片三维集成电路底层与顶层之间的待测MIV阵列,包括测试控制器、地址解码模块、向量发生器、数据传送装置、故障诊断模块和故障定位模块,其中向量发生器用于产生长度为N的1/0序列、0/1序列、00/11序列和11/00序列的测试向量。本发明能够通过两组测试向量快速切换,检测复杂分布的MIV中的开路故障、固定故障、延迟故障和可能出现的短路故障,并对故障MIV进行精确定位。

    一种基于并行矢量拟合计算的S参数有理分式建模方法

    公开(公告)号:CN119849429A

    公开(公告)日:2025-04-18

    申请号:CN202411950942.6

    申请日:2024-12-27

    Abstract: 本发明公开一种基于并行矢量拟合计算的S参数有理分式建模方法,属于集成电路领域,推算或计数的技术领域,包括:根据运行设备的核心数启动对应的并行池,对输入文件进行并行处理,将S参数数据读取并保存至三维传递矩阵。设置初始阶数范围,把传递矩阵与对应的阶数分配到每个核心上进行矢量拟合,创建初始极点,并根据初始极点循环迭代计算极点和留数,得出对应的极点‑留数模型。根据每个核心最终的输出的模型计算误差与K值,选择K值最小的模型作为输出结果。最后对输出结果进行校验,若对应的误差满足要求则输出;若未满足要求,则增大阶数范围,重复上述步骤,直至误差满足要求,输出最终拟合模型,从而提高了矢量拟合的计算速度,进而提高了对于S参数进行有理分式建模的精度和运行效率。

    基于桶排序的FSM状态转移覆盖率计算方法及系统

    公开(公告)号:CN118228648B

    公开(公告)日:2024-11-15

    申请号:CN202410351293.1

    申请日:2024-03-26

    Abstract: 本发明公开了一种基于桶排序的FSM状态转移覆盖率计算方法及系统,首先根据FSM模型,创建用于存储FSM状态转移信息的数组,以确保状态转移信息的唯一性;再通过解析VCD文件,追踪状态变量的变化,判断是否发生状态转移,当发生状态转移时,利用该状态转移信息将对应的数组元素值从0置为1,将所有提取到的状态转移信息存储到同一个数组中;遍历数组的所有元素并累加数组元素的值,得到产生的状态转移总数或多文件合并状态转移总数,将其除以状态转移总数,计算得到FSM状态转移覆盖率或多文件合并覆盖率。本发明方法实现超大规模FSM状态转移覆盖率高效统计,能有效提高验证效率。

    一种基于变压器的新型差分正交耦合器及芯片电路

    公开(公告)号:CN118783952A

    公开(公告)日:2024-10-15

    申请号:CN202411245028.1

    申请日:2024-09-06

    Abstract: 本发明公开了一种基于变压器的新型差分正交耦合器及芯片电路,包括两组变压器、两个输入耦合电容、两个输出耦合电容和隔离电阻;所述两组变压器镜像对称设置;一组所述变压器包括相耦合的直通电感和耦合电感;所述直通电感的输入端连接一个所述信号输入端,输出端连接一个所述直通输出端口;所述耦合电感的端口一通过输入耦合电容连接所述直通电感的输入端,所述耦合电感的端口二通过输出耦合电容连接所述直通电感的输出端;所述耦合电感的端口二作为ISO隔离端口,两个所述耦合电感的端口二通过隔离电阻连接。本发明的耦合器与传统耦合器相比,在保障宽带和低插损的同时,性能更优,尺寸更小,设计难度大大降低,具有更加广阔的应用前景。

    一种存储器测试分组与调度的方法及系统

    公开(公告)号:CN118072805B

    公开(公告)日:2024-08-13

    申请号:CN202410472375.1

    申请日:2024-04-19

    Abstract: 本发明公开了一种存储器测试分组与调度的方法及系统,该方法首先根据存储器的约束条件对存储器进行分类,对于每一类存储器按照存储器之间的位置距离或存储器的层级限制进行分组,测试时每组存储器共享同一个控制器;然后使用强化学习模型对所有存储器进行测试调度,得到最优测试时间下所有存储器的串并行测试方案;该强化学习模型根据存储器的测试功耗和测试时间设置奖励函数;本发明既保证了尽可能少的存储器测试分组数量,减少了额外测试电路的占比,并且在测试功耗的约束下,减少测试时间。

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