扫描式双层二次衍射线阵光谱仪波长标定方法

    公开(公告)号:CN115031838B

    公开(公告)日:2024-10-22

    申请号:CN202210481451.6

    申请日:2022-05-05

    Abstract: 本发明属于光学测量技术领域,公开了一种扫描式双层二次衍射线阵光谱仪波长标定方法,高精度光谱仪主要是硬件上选择高线对数光栅、采用单次或者多次色散、长焦距汇聚镜、扫描摄谱等技术实现高准确度波长测量,该类光谱仪具备高光谱分辨率、高波长准确度等技术特点,标定方法首先对线阵探测器中心像元的波长标定,然后对线阵探测器非中心像元的波长标定。本发明可解决此类光谱仪波长的准确标定,尤其可实现紫外到近红外波段波长准确度±0.05nm的二次衍射的线阵光谱仪波长标定。

    一种用于扫描型红外搜索系统的非均匀性校正方法

    公开(公告)号:CN111983710B

    公开(公告)日:2023-07-28

    申请号:CN202010816061.0

    申请日:2020-08-14

    Abstract: 本发明公开了一种用于扫描型红外搜索系统的非均匀性校正方法,其包括以下步骤:步骤1:建立缓存区,缓存扫描型红外搜索系统的场景实时原始图像数据;步骤2:分别计算缓存区图像的增益参数和偏移参数;步骤3:分别判断缓存区图像水平均匀性和垂直均匀性;步骤4:当水平和垂直均匀性同时满足时,利用步骤2计算的增益参数和偏移参数,更新扫描型红外搜索系统非均匀校正参数,否则返回步骤1,重新寻找均匀场景;步骤5:利用校正参数执行非均匀性校正。本发明克服了校正参数随时间失效的问题,实现了实时高效自动化非均匀性校正,因此本发明提高了校正效率,增强了搜索系统的环境适应性和自动化程度。

    用于光电系统校准的反射靶标、校准方法及靶标制备方法

    公开(公告)号:CN115752506A

    公开(公告)日:2023-03-07

    申请号:CN202211369748.X

    申请日:2022-11-03

    Abstract: 本发明公开了一种用于光电系统校准的反射靶标、校准方法及反射靶标制备方法,反射靶标包括基板及设置在基板上的反射靶材,所述的反射靶材由重量比为15‑25份的上转换材料粉、50‑70份的氧化铝粉和15‑25份的导热胶混合后烧结而成;反射靶标在受到1μm激光照射后,上转换材料发出可见光,用于可见光像机的轴向校准,同时激光到反射靶标后因温升达到数十度至百度,激光照射位置同时产生红外谱,对红外热像仪进行轴向标校,故一只反射靶标在一次照射中方便实现了激光测距机、可见光摄像机和红外热像仪的光轴轴向校准,该反射靶和同类产品相比,具有高硬度、抗激光损伤、高导热、光斑弥散小的优点,满足在线自校和工程测试的要求。

    菲索干涉型波长计中柱面成像压缩系统的匹配调试方法

    公开(公告)号:CN114942079A

    公开(公告)日:2022-08-26

    申请号:CN202210482690.3

    申请日:2022-05-05

    Abstract: 本发明属于光学计量测试技术领域,公开了一种柱面压缩成像系统最佳匹配调试方法,首先匹配柱面镜和线阵CCD,通过观察线阵CCD的输出至示波器的波形,当输出波形接近一条直线且信号的幅值最大时,完成柱面镜和线阵CCD的匹配;然后将柱面镜和线阵CCD作为一个整体与干涉模块进行匹配,通过观察线阵CCD输出至示波器的波形,当输出波形的占空比接近1:1且信号峰谷值最大时,干涉模块与柱面镜线阵CCD整体匹配完成。本发明解决了菲索激光波长计中的柱面压缩成像系统的调式难题,有效保证菲索波长计的波长测量精度。

    一种高精度激光测距距离模拟装置

    公开(公告)号:CN112904354B

    公开(公告)日:2024-06-18

    申请号:CN202110088653.X

    申请日:2021-01-22

    Abstract: 本发明公开了一种高精度激光测距距离模拟装置,其中,激光测距仪的发射端发出的激光脉冲信号进入激光探测器及放大比较电路转换为电脉冲信号,产生的脉冲信号分两路分别送入FPGA模块和TDC模块,FPGA模块通过IO接口向TDC模块发送控制和通讯信息,FPGA模块通过IO接口向激光二极管及驱动电路发送脉冲驱动信号使激光二极管发光,激光二级管输出的激光信号通过分光棱镜进行分光,一路送入激光测距仪的接收端,另一路送入激光探测器,FPGA模块通过IO口与通讯模块进行通讯,通讯模块通过RS232接口与上位机进行通讯。本发明提升了装置的距离模拟精度,增强了装置的可靠性,并降低了装置的使用维护成本。

    阵列CCD测量瞬态光源同步控制方法

    公开(公告)号:CN117906912A

    公开(公告)日:2024-04-19

    申请号:CN202311520254.1

    申请日:2023-11-15

    Abstract: 本发明公开了一种阵列CCD瞬态光源测量仪器系统,其中高速数据同步采集处理模块的采集系统连续采集阵列CCD探测器实时数据,判断瞬态光源已发光时,同步信号产生系统产生同步信号并输出至阵列CCD探测器驱动及信号处理模块,阵列CCD探测器开始进行光电转换,将待测光源光信号转换为电信号并按像元时序进行输出,采集系统按照时序在当前帧对阵列CCD探测器输出的信号进行采样,确保在瞬态光源发光时间范围内及时采集阵列CCD的探测数据;最后,采集系统获得的CCD数据传输至计算机进行处理,得到被测瞬态光源的光谱测量曲线。本发明完全弥补了需要被测光源提供同步信号的缺陷,大幅提升了测量仪器的应用范围。

    一种亚皮米量级近红外至中波红外波长校准系统及方法

    公开(公告)号:CN116183035A

    公开(公告)日:2023-05-30

    申请号:CN202211691978.8

    申请日:2022-12-28

    Abstract: 本发明属于光学计量测试技术领域,公开了一种亚皮米量级近红外至中波红外波长校准系统及方法,首先利用激光拍频测量模块和频率锁定反馈模块将窄线宽激光器频率锁定至频率梳其中一根梳齿上,测量频率锁定后窄线宽激光器的输出激光频率,然后利用气压计和温湿度计测量当前环境的气压、温度和湿度,计算当前环境空气折射率,根据锁定之后的输出频率和当前环境空气折射率计算窄线宽激光器输出波长,使频率锁定后的激光器入射至被校波长仪器之中,比较频率锁定后的窄线宽激光器输出波长和被校波长测量仪器的波长测量示值,完成被校波长测量仪器的校准。本发明实现了波长校准问题,并引入实时空气折射率,避免空气折射率变化对波长的影响。

    一种瞬态光谱仪采集时间测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN116147767A

    公开(公告)日:2023-05-23

    申请号:CN202211691973.5

    申请日:2022-12-28

    Abstract: 本发明属于光学计量测试技术领域,公开了一种瞬态光谱仪采集时间测量装置及测量方法,包括:信号发生器、系列脉冲激光器、分束器、纳秒探测器被测瞬态光谱仪和示波器;信号发生器生成并输出标准方波信号,标准方波信号分为两路,一路输入至示波器的Ⅰ通道;脉冲激光器输出脉冲激光,分为两束,一束激光经分束器折转之后被纳秒探测器接收,输出电信号输出至示波器的Ⅱ通道;另外一路分束入射至被测瞬态光谱仪,输出电信号输出至示波器的Ⅲ通道;Ⅲ通道的上升沿起始位置相对于Ⅱ通道的上升沿起始位置的时间延迟,即为采集时间。本发明解决了瞬态光谱仪采集时间测量、激光器触发延时时间测量,消除了脉冲激光器的触发出光延迟对采集时间的影响。

    一种用于红外线阵探测器的异常元检测方法

    公开(公告)号:CN111986171A

    公开(公告)日:2020-11-24

    申请号:CN202010822606.9

    申请日:2020-08-14

    Abstract: 本发明公开了一种用于红外线阵探测器的异常元检测方法,包括以下步骤:1:从输入图像序列中的每一行,选取采样点;2:将每个采样点的灰度值,与其上下邻近行的像素分别取差值,并将所有差值的绝对值取和,得到该行与上下邻近行的灰度阶跃值;3:设置灰度阶跃阈值,将所有行遍历统计得到的灰度阶跃值,与灰度阶跃阈值进行比较,超出灰度阶跃阈值的像元作为准异常元;4:在准异常元中,按照灰度阶跃值大小排序列表,并在列表中取规定个数的准异常元,作为最终异常元。本发明通过实时的图像分析和数据分析,不仅解决了盲元检测,而且针对随机出现的闪元,算法容易实现,能够实现自动实时检测,极大地提高了热像仪的调试效率、适应性和产品质量。

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