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公开(公告)号:CN111983710A
公开(公告)日:2020-11-24
申请号:CN202010816061.0
申请日:2020-08-14
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明公开了一种用于扫描型红外搜索系统的非均匀性校正方法,其包括以下步骤:步骤1:建立缓存区,缓存扫描型红外搜索系统的场景实时原始图像数据;步骤2:分别计算缓存区图像的增益参数和偏移参数;步骤3:分别判断缓存区图像水平均匀性和垂直均匀性;步骤4:当水平和垂直均匀性同时满足时,利用步骤2计算的增益参数和偏移参数,更新扫描型红外搜索系统非均匀校正参数,否则返回步骤1,重新寻找均匀场景;步骤5:利用校正参数执行非均匀性校正。本发明克服了校正参数随时间失效的问题,实现了实时高效自动化非均匀性校正,因此本发明提高了校正效率,增强了搜索系统的环境适应性和自动化程度。
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公开(公告)号:CN111983710B
公开(公告)日:2023-07-28
申请号:CN202010816061.0
申请日:2020-08-14
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明公开了一种用于扫描型红外搜索系统的非均匀性校正方法,其包括以下步骤:步骤1:建立缓存区,缓存扫描型红外搜索系统的场景实时原始图像数据;步骤2:分别计算缓存区图像的增益参数和偏移参数;步骤3:分别判断缓存区图像水平均匀性和垂直均匀性;步骤4:当水平和垂直均匀性同时满足时,利用步骤2计算的增益参数和偏移参数,更新扫描型红外搜索系统非均匀校正参数,否则返回步骤1,重新寻找均匀场景;步骤5:利用校正参数执行非均匀性校正。本发明克服了校正参数随时间失效的问题,实现了实时高效自动化非均匀性校正,因此本发明提高了校正效率,增强了搜索系统的环境适应性和自动化程度。
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公开(公告)号:CN115876336A
公开(公告)日:2023-03-31
申请号:CN202211606625.3
申请日:2022-12-14
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01J5/53
Abstract: 本发明公开了一种实时扫描反射式黑体辐射源校准装置,其包括:黑体辐射源组件、黑体辐射源投射光学组件及实时数据校准处理组件;黑体辐射源组件产生辐射光斑;黑体辐射源投射光学组件设置有校准数据投射状态和探测数据投射状态,黑体辐射源投射光学组件处于校准数据投射状态时,黑体辐射源组件的辐射光斑折转汇聚至实时数据校准处理组件,用于数据校准,黑体辐射源投射光学组件处于探测数据投射状态时,实时数据校准处理组件获取外界场景辐射能量,用于数据处理;实时数据校准处理组件实现黑体辐射源数据的获取、处理并用于辐射计中的探测器数据校准和标校。本发明既能实现高速、高精度的目标辐射校准,又能实现场镜辐射源数据获取。
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