检测用于记录介质的磁头位置的方法

    公开(公告)号:CN1825435A

    公开(公告)日:2006-08-30

    申请号:CN200510077629.7

    申请日:2005-06-17

    CPC classification number: B82Y10/00 G11B5/743 G11B5/746 G11B5/82

    Abstract: 本发明公开了一种检测用于记录介质的磁头位置的方法及记录介质驱动器。磁头在记录介质上的分隔轨道和记录轨道之间的边界上沿横向移动。分隔轨道将相邻的记录轨道彼此隔离。检测基于记录轨道从磁头提供的输出中的变化。基于所述变化产生表示磁头位置的位置信息。从磁头提供的输出响应于所述横向上的移动即间歇时间而变化。由此可以基于输出中的变化产生位置信息。产生的位置信息有助于在方便的方式下精确定位。此外,可以从所述记录介质中省略定位磁头所需要的信息。在所述记录介质的制造中可以简化工艺。操作时间由此可以缩短。

    检测用于记录介质的磁头位置的方法

    公开(公告)号:CN100437757C

    公开(公告)日:2008-11-26

    申请号:CN200510077629.7

    申请日:2005-06-17

    CPC classification number: B82Y10/00 G11B5/743 G11B5/746 G11B5/82

    Abstract: 本发明公开了一种检测用于记录介质的磁头位置的方法及记录介质驱动器。磁头在记录介质上的分隔轨道和记录轨道之间的边界上沿横向移动。分隔轨道将相邻的记录轨道彼此隔离。检测基于记录轨道从磁头提供的输出中的变化。基于所述变化产生表示磁头位置的位置信息。从磁头提供的输出响应于所述横向上的移动即间歇时间而变化。由此可以基于输出中的变化产生位置信息。产生的位置信息有助于在方便的方式下精确定位。此外,可以从所述记录介质中省略定位磁头所需要的信息。在所述记录介质的制造中可以简化工艺。操作时间由此可以缩短。

    磁记录介质及其制造方法、以及磁记录装置和磁记录方法

    公开(公告)号:CN100351905C

    公开(公告)日:2007-11-28

    申请号:CN03825181.7

    申请日:2003-03-19

    Abstract: 本发明的目的是提供一种能进行高密度记录和高速记录的、重写特性优良的、具有均匀特性的高品质、大容量的磁记录介质等。本发明的磁记录介质是在基板上具有在与该基板面大致垂直的方向上形成了多个细孔的多孔质层而构成,在该细孔的内部,从上述基板侧开始依次具有软磁性层和强磁性层,(1)该强磁性层的厚度为该软磁性层的厚度或其以下,(2)该强磁性层的厚度是由在记录时使用的线记录密度决定的最小位长的1/3倍~3倍的任意一个。本发明的磁记录介质的制造方法是上述磁记录介质的记录方法,包括:多孔质层形成工序,在基板上形成多孔质层形成材料层后,对该多孔质层形成材料层进行多孔质化处理,在与该基板面大致垂直的方向上形成多个细孔,形成多孔质层;软磁性层形成工序,在该细孔的内部形成软磁性层;以及,强磁性层形成工序,在该软磁性层上形成强磁性层。

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