-
公开(公告)号：CN109557545A
公开(公告)日：2019-04-02
申请号：CN201810151188.8
申请日：2018-02-13
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01S17/08
Abstract: 本发明获得一种能够精度良好地测量到测量对象面的距离的位移测量装置、测量系统及位移测量方法。本发明的位移测量装置包括：投光部，产生光；传感器头，对测量对象物照射光，且接收所照射的光中在测量对象物的测量对象面反射的光；以及控制部，基于传感器头所接收的光，算出表示与测量对象面之间的距离的值。控制部是以所算出的值包含在预先设定的数值范围内为条件，将所算出的值作为表示到测量对象面的距离的值进行处理，且基于所算出的值，重新设定数值范围。
-
公开(公告)号：CN108375349A
公开(公告)日：2018-08-07
申请号：CN201711045907.X
申请日：2017-10-31
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01B11/26
Abstract: 提供便利性优越的倾斜测定装置。倾斜测定装置(1)具备：光学系列(传感器头30)，其向测量对象物(2)照射来自光源(10)的照射光，并且接收来自测量面的反射光；受光部(40)，其包含将所述反射光分离为各波长成分的至少1个分光器(42)及具有多个受光元件的检测器(44)；包含多个缆芯的导光部(20)；以及处理部(50)，其根据与所述测量面上多个位置上的多个照射光相对应的反射光，来计算测量面的倾斜角度。
-
公开(公告)号：CN107228635A
公开(公告)日：2017-10-03
申请号：CN201710034921.3
申请日：2017-01-17
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明的一个方面的光学测量装置(1)包括：光源(10)，其产生具有多个波长成分的照射光；传感器头部(30)，其使从光源(10)发出的照射光产生轴向色差，并接收从至少一部分配置在光轴的延长线上的测量对象(2)反射的反射光；光接收部(40)，其将由传感器头部(30)接收的反射光分离成各波长成分，并接收各波长成分的光；导光部(20)，其将光源(10)、光接收部(40)以及传感器头部(30)光学性地连接；以及处理部(50)，其基于光接收部(40)中的各波长成分的受光量，计算从光学系统到测量对象的距离。处理部(50)将光接收波形中的多个波长成分的各受光量与受光量的基准值比较，当多个波长成分中的每个波长成分的所述受光量相对于基准值的变化量均为预设的阈值以上时，检测出所述光接收波形的异常。
-
公开(公告)号：CN110058249B
公开(公告)日：2023-09-15
申请号：CN201811194957.9
申请日：2018-10-15
Applicant: 欧姆龙株式会社
Abstract: 本发明提供一种光学测量装置及光学测量方法，可容易地去除在对象物的一部分中所测量的距离中可能产生的噪声。光学测量装置(100)具备：光源(10)，发出光；光接收部(40)，检测由对象物(TA)反射的反射光的光接收量；测量部(51)，根据反射光的光接收量，测量从光学测量装置(100)至对象物(TA)为止的距离；以及检测部(52)，检测反射光的每单位时间的光接收量小于阀值的对象物(TA)的一部分。
-
公开(公告)号：CN107300393B
公开(公告)日：2020-11-10
申请号：CN201710201760.2
申请日：2017-03-30
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01D5/26
Abstract: 本发明提供一种光学式传感器安装用适配器及其安装位置的调整方法，用以根据使用环境来对光学式传感器的温度特性进行调整。适配器是用以将光学式传感器的传感头安装于安装部位的适配器。适配器包括：传感器设置面，用以将传感头设置于适配器；以及安装面，位于传感器设置面的相反侧，以将传感头与适配器一起安装于安装部位。在传感器设置面中，形成有用以将传感头固定于传感器设置面的固定孔。在适配器中，形成有贯穿传感器设置面与安装面的安装孔。安装孔相对于固定孔而形成在传感头的光投射接收面侧，以及相对于固定孔而形成在光投射接收面的相反侧(背面侧)。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107063127B
公开(公告)日：2020-06-30
申请号：CN201611059428.9
申请日：2016-11-25
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01B11/245 , G01J3/10 , G01J3/02 , G01J3/28
Abstract: 本发明提供一种光学测量装置，通过提高光的利用效率，能够实现更高采样率。光学测量装置具有：光源，其产生具有多个波长成分的照射光；光学系统，其对来自光源的照射光产生轴向色差，并且接收来自至少一部分配置在光轴的延长线上的测量对象物的反射光；分光器，其将在光学系统接收的反射光分离为各个波长成分的光；检测器，其中与分光器的分光方向对应地一维配置有多个受光元件。导光部和受光部构成为，在从光学系统向多个纤芯所包含的第一纤芯提供第一波长的第一光时，多个受光元件中入射该第一光的受光元件，与从光学系统向多个纤芯所包含的第二纤芯提供第一波长的第二光时，多个受光元件中入射该第二光的受光元件的至少一部分共用。
-
公开(公告)号：CN110672034A
公开(公告)日：2020-01-10
申请号：CN201910999860.3
申请日：2017-01-17
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明的一个方面的光学测量装置(1)包括：光源(10)，其产生具有多个波长成分的照射光；传感器头部(30)，其使从光源发出的照射光产生轴向色差，并接收从至少一部分配置在光轴的延长线上的测量对象(2)反射的反射光；光接收部(40)，其将由传感器头部接收的反射光分离成各波长成分，并接收各波长成分的光；导光部(20)，其将光源(10)、光接收部以及传感器头部光学性地连接；以及处理部(50)，其基于光接收部中的各波长成分的受光量，计算从光学系统到测量对象的距离。处理部将光接收波形中的多个波长成分的各受光量与受光量的基准值比较，基于该比较结果，判断是否正常测定到所述测量对象的所述距离。
-
公开(公告)号：CN107228635B
公开(公告)日：2019-11-08
申请号：CN201710034921.3
申请日：2017-01-17
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明的一个方面的光学测量装置(1)包括：光源(10)，其产生具有多个波长成分的照射光；传感器头部(30)，其使从光源(10)发出的照射光产生轴向色差，并接收从至少一部分配置在光轴的延长线上的测量对象(2)反射的反射光；光接收部(40)，其将由传感器头部(30)接收的反射光分离成各波长成分，并接收各波长成分的光；导光部(20)，其将光源(10)、光接收部(40)以及传感器头部(30)光学性地连接；以及处理部(50)，其基于光接收部(40)中的各波长成分的受光量，计算从光学系统到测量对象的距离。处理部(50)将光接收波形中的多个波长成分的各受光量与受光量的基准值比较，当多个波长成分中的每个波长成分的所述受光量相对于基准值的变化量均为预设的阈值以上时，检测出所述光接收波形的异常。
-
公开(公告)号：CN103988046B
公开(公告)日：2017-03-08
申请号：CN201280057337.5
申请日：2012-09-12
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01B11/00
CPC classification number: G01B11/00 , G01B11/026
Abstract: 在本发明的光学计测装置中，利用光对计测对象物(200)进行计测，具有头部(10)、控制部测装置中，光纤(11)连接头部(10)和控制部(20)。存储部(40)分别与所制造的头部(10)的各个体相关联，存储由控制部(20)进行运算所需的信息，来作为头部(10)的个体信息。控制部(20)，从相对于控制部(20)而在物理上独立存在的存储部(40、41)中读取个体信息，利用所读取的个体信息进行运算。(20)、光纤(11)、存储部(40)。在本发明的光学计
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
22
records
(took 0.022 seconds)
