公开(公告)号：CN107063127B

公开(公告)日：2020-06-30

申请号：CN201611059428.9

申请日：2016-11-25

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 森野久康 ,  高岛润 ,  的场贤一 ,  早川雅之 ,  藤原直树 ,  丸川真理子

IPC: G01B11/245 ,  G01J3/10 ,  G01J3/02 ,  G01J3/28

Abstract: 本发明提供一种光学测量装置，通过提高光的利用效率，能够实现更高采样率。光学测量装置具有：光源，其产生具有多个波长成分的照射光；光学系统，其对来自光源的照射光产生轴向色差，并且接收来自至少一部分配置在光轴的延长线上的测量对象物的反射光；分光器，其将在光学系统接收的反射光分离为各个波长成分的光；检测器，其中与分光器的分光方向对应地一维配置有多个受光元件。导光部和受光部构成为，在从光学系统向多个纤芯所包含的第一纤芯提供第一波长的第一光时，多个受光元件中入射该第一光的受光元件，与从光学系统向多个纤芯所包含的第二纤芯提供第一波长的第二光时，多个受光元件中入射该第二光的受光元件的至少一部分共用。

公开(公告)号：CN107063127A

公开(公告)日：2017-08-18

申请号：CN201611059428.9

申请日：2016-11-25

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 森野久康 ,  高岛润 ,  的场贤一 ,  早川雅之 ,  藤原直树 ,  丸川真理子

IPC: G01B11/245 ,  G01J3/10 ,  G01J3/02 ,  G01J3/28

Abstract: 本发明提供一种光学测量装置，通过提高光的利用效率，能够实现更高采样率。光学测量装置具有：光源，其产生具有多个波长成分的照射光；光学系统，其对来自光源的照射光产生轴向色差，并且接收来自至少一部分配置在光轴的延长线上的测量对象物的反射光；分光器，其将在光学系统接收的反射光分离为各个波长成分的光；检测器，其中与分光器的分光方向对应地一维配置有多个受光元件。导光部和受光部构成为，在从光学系统向多个纤芯所包含的第一纤芯提供第一波长的第一光时，多个受光元件中入射该第一光的受光元件，与从光学系统向多个纤芯所包含的第二纤芯提供第一波长的第二光时，多个受光元件中入射该第二光的受光元件的至少一部分共用。

公开(公告)号：CN116601459A

公开(公告)日：2023-08-15

申请号：CN202180082421.1

申请日：2021-03-02

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 高岛润

IPC: G01C3/06

Abstract: 提供一种位移传感器，其能够抑制移动分辨率及受光量的下降，并且实现适当的计测精度、计测速度。位移传感器(11)包含：光源(110)，其输出白色光；导光部(201)，其包含至少一个光纤；传感器头(300)，其收纳使经由导光部(201)入射的白色光沿着光轴方向产生色差的衍射透镜(310)，将产生了色差的光照射至计测对象物(TA)；以及分光器(120)，其经由导光部(201)取得被计测对象物(TA)反射并由传感器头(300)会聚后的反射光，计测反射光的光谱，与传感器头(300)连接的光纤具有比与分光器(120)连接的光纤大的芯径。