半导体膜
    15.
    发明授权

    公开(公告)号:CN113677833B

    公开(公告)日:2024-08-23

    申请号:CN201980093708.7

    申请日:2019-09-10

    Abstract: 本发明提供结晶缺陷明显较少的半导体膜。该半导体膜具有由α-Ga2O3或α-Ga2O3系固溶体构成的刚玉型结晶结构,半导体膜的至少一个表面的结晶缺陷密度为1.0×106/cm2以下。

    AlN单晶基板以及器件
    16.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118339330A

    公开(公告)日:2024-07-12

    申请号:CN202280079682.2

    申请日:2022-03-24

    Abstract: 提供一种在被加工(磨削、研磨、切断等)时难以产生裂纹的AlN单晶基板。该AlN单晶基板在将AlN单晶基板在25℃时的热导率(W/m·K)设为λ25、将AlN单晶基板在200℃时的热导率(W/m·K)设为λ200、将AlN单晶基板在25℃时的电阻率(Ω·cm)设为ρ、将AlN单晶基板在透射光谱中的640~660nm时的透过率(%)的平均值设为T640-660、将在上述透射光谱中的260~280nm时的透过率(%)的平均值设为T260-280时,满足5≤[(λ25-λ200)×log10ρ]/(T640-660-T260-280)≤50的关系式。

    AlN单晶基板
    18.
    发明公开
    AlN单晶基板 审中-实审

    公开(公告)号:CN116888311A

    公开(公告)日:2023-10-13

    申请号:CN202280016509.8

    申请日:2022-02-16

    Abstract: 本发明提供一种裂纹的产生得到了抑制的AlN单晶基板。该AlN单晶基板是从缺陷密度的观点出发能够沿厚度方向依次划分为第一层、第二层以及第三层的、整体由一个AlN单晶构成的3层结构的AlN单晶基板,其中,第二层具有第一层以及第三层各自的缺陷密度的10倍以上的缺陷密度。

    平坦片材
    19.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115057711A

    公开(公告)日:2022-09-16

    申请号:CN202210702305.1

    申请日:2018-10-24

    Abstract: 本发明涉及一种平坦片材,其中,用厚度为75μm且表面的算术平均粗糙度Ra为0.03μm的PET膜夹持所述平坦片材后,载置于厚度为10mm且表面的算术平均粗糙度Ra为0.29μm的不锈钢板上并进行真空包装,以200kg/cm2进行等静压压制后,所述平坦片材的与所述不锈钢板侧相反一侧的面的截面曲线的最大截面高度Pt为0.8μm以下。

    半导体膜
    20.
    发明公开
    半导体膜 审中-实审

    公开(公告)号:CN113677834A

    公开(公告)日:2021-11-19

    申请号:CN201980093713.8

    申请日:2019-09-10

    Abstract: 本发明提供结晶缺陷明显较少的α-Ga2O3系半导体膜。该半导体膜具有由α-Ga2O3或α-Ga2O3系固溶体构成的刚玉型结晶结构,半导体膜的至少一个表面中的(104)晶面的X射线摇摆曲线半值宽度为500arcsec以下。

Patent Agency Ranking