一种SRAM型FPGA单粒子软错误与电路失效率关系快速测定方法

    公开(公告)号:CN105869679B

    公开(公告)日:2018-09-18

    申请号:CN201610183678.7

    申请日:2016-03-28

    Abstract: 本发明涉及一种SRAM型FPGA单粒子软错误与电路失效率关系快速测定方法,步骤如下:(1)选定初始向配置区注入的翻转位数N;(2)随机选择FPGA配置区N位进行故障注入,运行FPGA,记录FPGA输出是否出现错误;(3)重复第(2)k次,直到失效率在30%到70%;(4)根据实际条件,按照最终选定的N,进行尽量多次的故障注入,获得较好的统计性,推荐注入以N位随机翻转的故障注入试验次数不的小于30次;(5)最终得到注入N位随机故障后电路失效率为λN,然后用1‑(1‑λN)M/N估计电路的失效率上限,得到电路设计的SEU数目M‑电路失效率λM评估结果。采用本发明的方法通过次数很少的故障注入,即可对FPGA电路设计抗SEU性能作出有效评价,大大减少了实验的次数和评估的周期。

    一种基于组装盾的载人登月辐射防护方法

    公开(公告)号:CN109974526B

    公开(公告)日:2021-07-13

    申请号:CN201910355987.1

    申请日:2019-04-29

    Abstract: 一种基于组装盾的载人登月辐射防护方法,涉及深空探测技术领域;包括如下步骤:步骤一、将防护盾折叠后放入登月舱中的航天员睡眠舱中;步骤二、当航天员出舱在月球表面执行任务时,将防护盾从睡眠舱取下随身携带;步骤三、当航天员接收到地面站传来的辐射预警后;并根据辐射预警内容,判断是否打开防护盾对自身进行遮蔽防辐射处理;同时判断是否继续执行任务;步骤四、航天员实现自身辐射防护的同时,完成任务;本发明实现了航天员在月面出舱活动时进行便捷有效的应急防护,同时也可兼顾任务期内其他时段的辐射防护。

    一种基于组装盾的载人登月辐射防护方法

    公开(公告)号:CN109974526A

    公开(公告)日:2019-07-05

    申请号:CN201910355987.1

    申请日:2019-04-29

    Abstract: 一种基于组装盾的载人登月辐射防护方法,涉及深空探测技术领域;包括如下步骤:步骤一、将防护盾折叠后放入登月舱中的航天员睡眠舱中;步骤二、当航天员出舱在月球表面执行任务时,将防护盾从睡眠舱取下随身携带;步骤三、当航天员接收到地面站传来的辐射预警后;并根据辐射预警内容,判断是否打开防护盾对自身进行遮蔽防辐射处理;同时判断是否继续执行任务;步骤四、航天员实现自身辐射防护的同时,完成任务;本发明实现了航天员在月面出舱活动时进行便捷有效的应急防护,同时也可兼顾任务期内其他时段的辐射防护。

    一种适用于长期载人任务的空间高能质子组合辐射防护结构

    公开(公告)号:CN108877976A

    公开(公告)日:2018-11-23

    申请号:CN201810708522.5

    申请日:2018-07-02

    Abstract: 本发明涉及一种适用于长期载人任务的空间高能质子组合辐射防护结构,所涉及的结构为铝蒙皮、水箱、水、含硼聚乙烯结构板、高密度聚乙烯、GD414胶组成,第一层采用载人航天器铝蒙皮结构,第二层为水箱,第三层是吸收前两层产生次级中子和质子的含硼聚乙烯结构板,最后一层为进一步降低次级粒子在人体中产生能量沉积的聚乙烯材料;以质量屏蔽面密度为基础,构建了组合防护结构的分析模型,根据蒙特卡洛对太阳质子事件能谱的抽样分析方法,分析获得了组合辐射防护结构后的人体组织辐射剂量。采用本发明设计的组合辐射防护结构,在相同质量屏蔽面密度下,相比于单一铝防护结构,将太阳质子事件在人体组织中沉积的辐射剂量降低39%左右。

    一种系统级单粒子效应影响表征参数及评价方法

    公开(公告)号:CN105893664A

    公开(公告)日:2016-08-24

    申请号:CN201610192270.6

    申请日:2016-03-30

    CPC classification number: G06F17/5036

    Abstract: 本发明公开了一种系统级单粒子效应影响表征参数及评价方法:根据系统功能分析,建立以元器件为底事件的系统功能模型,结合元器件单粒子敏感性分析,建立系统单粒子效应影响功能模型;基于单粒子效应试验数据,计算分析敏感元器件的单粒子事件率,采用故障注入、重离子辐照试验法或系统历史数据分析方法确定系统各层次间单粒子效应影响传递因子;基于单粒子事件的叠加性原理,计算系统单粒子事件率;结合单粒子效应影响中断时间,计算系统单粒子效应危害度和可用性。本发明采用定量的方法表征单粒子效应对系统的影响,并评价系统单粒子效应的影响后果,该方法可用于指导系统级单粒子效应风险的量化控制。

    一种FPGA单粒子软错误影响评估方法

    公开(公告)号:CN104461808B

    公开(公告)日:2016-06-01

    申请号:CN201410636120.0

    申请日:2014-11-06

    Abstract: 本发明公开了一种FPGA单粒子软错误影响评估方法,能够针对未采取防护措施的SRAM型FPGA的具体配置,综合考虑SRAM型FPGA的设计结构和资源占用量,获得了FPGA内部单元单粒子软错误故障的传递概率,并分析得到单粒子软错误对SRAM型FPGA的整体影响,使得卫星电子产品设计师能够掌握单粒子软错误对SRAM型FPGA的整体影响,有利于指导SRAM型FPGA的抗单粒子软错误设计。

    一种基于信号波形的空间中子甄别装置

    公开(公告)号:CN117368956A

    公开(公告)日:2024-01-09

    申请号:CN202311301341.8

    申请日:2023-10-09

    Abstract: 本发明提出一种基于信号波形的空间中子甄别装置,用于解决现有技术中无法将中子从空间带电粒子有效甄别的问题。包括前3He中子计数器、高压电源、低压电源、前收集电极电荷放大器、主放大器、甄别电路、成形整形电路、输出电路;所述前收集电极电荷放大器用于收集3He中子计数器的电荷,将电荷放大转化为电压,并将电压信号发送到主放大器;所述主放大器接收前收集电荷放大器的电压信号,并对电压信号进行滤波,提高信噪比,并将滤波后的电压信号发送到甄别电路;所述甄别电路将主放大器输出模拟信号转换为数字逻辑脉冲输出;所述成形整形电路接收来自甄别电路的甄别信号,产生标准的TTL信号;所述输出电路接收标准TTL信号,并将TTL信号进行计数处理。

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