-
公开(公告)号：CN112257226B
公开(公告)日：2024-07-23
申请号：CN202010982709.1
申请日：2020-09-17
Applicant: 北京空间飞行器总体设计部
IPC: G06F30/20
Abstract: 一种不依赖器件工艺参数的重离子单粒子翻转率分析方法，属于空间辐射技术领域。本发明通过获取器件重离子单粒子翻转截面试验数据及拟合结果；建立器件单粒子翻转率分析模型；计算器件所处轨道的重离子LET谱；分析器件在轨单粒子翻转率。本发明的方法仅采用器件重离子单粒子翻转试验数据，就可以构建确定的单粒子翻转率分析模型，并进行单粒子翻转率分析，解决了以往单粒子模型参数依赖器件工艺参数、难以确定、无法形成统一标准的问题。
-
公开(公告)号：CN110646833B
公开(公告)日：2021-04-13
申请号：CN201910882312.2
申请日：2019-09-18
Applicant: 北京空间飞行器总体设计部
Abstract: 本发明涉及一种基于单片阵列粒子探测器的卫星单粒子翻转监测方法，包括步骤如下：设计粒子探测器；不同种类粒子的鉴别和处理；建立敏感器件与粒子探测器中粒子数目和LET值的关系；建立敏感器件单粒子翻转位数与粒子探测器测量数据的关系；确定卫星敏感器件在轨异常与空间高能粒子的关联性。本发明的方法实现了卫星敏感器件单粒子翻转效应的在轨监测，能够获得卫星单粒子翻转敏感器件位置处的高能粒子环境，确定卫星异常与空间高能粒子的关联性。
-
公开(公告)号：CN105866573B
公开(公告)日：2018-10-09
申请号：CN201610183676.8
申请日：2016-03-28
Applicant: 北京空间飞行器总体设计部
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明一种基于重离子加速器的单粒子软错误防护设计验证方法，涉及一种基于加速器试验数据的系统单粒子防护效果验证的重离子和质子等效试验验证领域；包括：(1)采用基于LET值确定的地面加速器重离子试验；(2)分析质子静态翻转截面；(3)分析系统在任意工作模式下的敏感位因子；(4)分析系统在重离子辐照下的动态翻转截面；(5)分析系统在质子辐照下的动态翻转截面；本发明提供一种基于重离子加速器的单粒子软错误防护设计验证方法，该方法可用于单粒子防护效果验证，解决国内加速器时间紧张以及难以实现高能质子试验的问题。
-
公开(公告)号：CN105869679A
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201610183678.7
申请日：2016-03-28
Applicant: 北京空间飞行器总体设计部
Abstract: 本发明涉及一种SRAM型FPGA单粒子软错误与电路失效率关系快速测定方法，步骤如下：(1)选定初始向配置区注入的翻转位数N；(2)随机选择FPGA配置区N位进行故障注入，运行FPGA，记录FPGA输出是否出现错误；(3)重复第(2)k次，直到失效率在30％到70％；(4)根据实际条件，按照最终选定的N，进行尽量多次的故障注入，获得较好的统计性，推荐注入以N位随机翻转的故障注入试验次数不的小于30次；(5)最终得到注入N位随机故障后电路失效率为λN，然后用1?(1?λN)M/N估计电路的失效率上限，得到电路设计的SEU数目M?电路失效率λM评估结果。采用本发明的方法通过次数很少的故障注入，即可对FPGA电路设计抗SEU性能作出有效评价，大大减少了实验的次数和评估的周期。
-
公开(公告)号：CN104461808A
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201410636120.0
申请日：2014-11-06
Applicant: 北京空间飞行器总体设计部
IPC: G06F11/26
Abstract: 本发明公开了一种FPGA单粒子软错误影响评估方法，能够针对未采取防护措施的SRAM型FPGA的具体配置，综合考虑SRAM型FPGA的设计结构和资源占用量，获得了FPGA内部单元单粒子软错误故障的传递概率，并分析得到单粒子软错误对SRAM型FPGA的整体影响，使得卫星电子产品设计师能够掌握单粒子软错误对SRAM型FPGA的整体影响，有利于指导SRAM型FPGA的抗单粒子软错误设计。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118070639A
公开(公告)日：2024-05-24
申请号：CN202311301322.5
申请日：2023-10-09
Applicant: 北京空间飞行器总体设计部
IPC: G06F30/27 , G06N20/00 , G06F111/08
Abstract: 本发明公开了一种瞬态电磁发射特性概率评估方法，针对瞬态电磁发射特性，采用概率评估方法从概率层面进行电磁兼容性评估解决了瞬态电磁发射特性强随机性的问题，采用机器学习方法实现将瞬态电磁发射特性延拓到航天器系统关注的宽频段，并通过将测试数据进行预处理解决了电磁兼容性测试数据相位缺失和不连续性的问题，由此本发明将机器学习方法与概率评估方法相结合提高了瞬态电磁发射特性评估的准确性，克服了传统确定量级评估方法准确度较低的问题。
-
公开(公告)号：CN110646833A
公开(公告)日：2020-01-03
申请号：CN201910882312.2
申请日：2019-09-18
Applicant: 北京空间飞行器总体设计部
Abstract: 本发明涉及一种基于单片阵列粒子探测器的卫星单粒子翻转监测方法，包括步骤如下：设计粒子探测器；不同种类粒子的鉴别和处理；建立敏感器件与粒子探测器中粒子数目和LET值的关系；建立敏感器件单粒子翻转位数与粒子探测器测量数据的关系；确定卫星敏感器件在轨异常与空间高能粒子的关联性。本发明的方法实现了卫星敏感器件单粒子翻转效应的在轨监测，能够获得卫星单粒子翻转敏感器件位置处的高能粒子环境，确定卫星异常与空间高能粒子的关联性。
-
公开(公告)号：CN110209547A
公开(公告)日：2019-09-06
申请号：CN201910368564.3
申请日：2019-05-05
Applicant: 北京空间飞行器总体设计部
IPC: G06F11/26
Abstract: 一种SRAM型FPGA单粒子翻转加固定时刷新频率确定方法及系统，需要对SRAM型FPGA应用的加固措施进行验证与评估，利用故障注入作为验证手段，通过向FPGA的配置区注入翻转，观察FPGA应用的运行状态确定应用的单粒子翻转设计有效性，同时解决了现有技术无法定量评估FPGA应用加固有效性的问题，并能够确定FPGA的刷新频率取值范围，计算简便，方法可靠性高。
-
公开(公告)号：CN105869679B
公开(公告)日：2018-09-18
申请号：CN201610183678.7
申请日：2016-03-28
Applicant: 北京空间飞行器总体设计部
Abstract: 本发明涉及一种SRAM型FPGA单粒子软错误与电路失效率关系快速测定方法，步骤如下：(1)选定初始向配置区注入的翻转位数N；(2)随机选择FPGA配置区N位进行故障注入，运行FPGA，记录FPGA输出是否出现错误；(3)重复第(2)k次，直到失效率在30％到70％；(4)根据实际条件，按照最终选定的N，进行尽量多次的故障注入，获得较好的统计性，推荐注入以N位随机翻转的故障注入试验次数不的小于30次；(5)最终得到注入N位随机故障后电路失效率为λN，然后用1‑(1‑λN)M/N估计电路的失效率上限，得到电路设计的SEU数目M‑电路失效率λM评估结果。采用本发明的方法通过次数很少的故障注入，即可对FPGA电路设计抗SEU性能作出有效评价，大大减少了实验的次数和评估的周期。
-
公开(公告)号：CN104764421B
公开(公告)日：2017-07-28
申请号：CN201510146078.9
申请日：2015-03-30
Applicant: 北京空间飞行器总体设计部
IPC: G01B15/02
Abstract: 本发明涉及一种重离子加速器单粒子试验降能片厚度快速确定方法，步骤如下：根据加速器重离子类型和初始能量，确定重离子在硅中的初始射程；根据加速器重离子类型和要求的重离子LET值，确定对应的重离子在硅中的射程；根据重离子初始射程和与要求重离子LET值对应的重离子在硅中的射程，确定当降能片材料为硅时，屏蔽材料的厚度；确定硅材料厚度与降能片厚度的厚度转换系数；将硅材料的厚度转化为降能片的厚度。本发明快速确定降能片的厚度，节省了成本，提高了效率。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
25
records
(took 0.037 seconds)
