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公开(公告)号：CN114520648A
公开(公告)日：2022-05-20
申请号：CN202111641318.4
申请日：2021-12-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及信号源技术领域，尤其涉及一种梳状谱信号发生器，该信号发生器包括壳体、盖板、电路板以及设置于电路板上的电源电路、晶体振荡器、频率转换电路、放大电路、滤波电路和合路器；本发明的梳状谱信号发生器，通过晶体振荡器发射频率信号，频率转换电路将晶体振荡器发射的频率信号，转换成多路所需设定的频率信号输出，多路所需设定的频率信号经放大电路放大以及滤波电路滤波后，进入合路器合成一路信号输出；输出信号稳定且功率大，同时输出信号功率差异小、谱线一致性好，且调试方便、功耗低。另外，电路板整体置于密闭的金属壳体中，屏蔽性好且安装方便。
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公开(公告)号：CN112737540A
公开(公告)日：2021-04-30
申请号：CN202011589471.2
申请日：2020-12-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: H03H9/08
Abstract: 本申请涉及压电元件技术领域，公开了一种内加热表贴晶体。该内加热表贴晶体包括基座、盖板、温度感应件、加热件和石英晶片，其中，基座为凹形结构，凹形结构的凹面中部设置支撑部件；石英晶片设置在支撑部件上；盖板设置在基座的顶部；温度感应件和加热件设置在凹形结构的凹面底部，且温度感应件和加热件的高度均低于支撑部件的高度。该内加热表贴晶体具备体积小的优点。本公开实施例还提供了一种晶体振荡器的恒温结构和晶体振荡器。
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公开(公告)号：CN112649680A
公开(公告)日：2021-04-13
申请号：CN202011558279.7
申请日：2020-12-25
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种晶体振荡器动态相位噪声测试夹具，该测试夹具包括壳体和装在壳体内的振动测试电路板，壳体上设有安装被测晶体振荡器的凹槽，凹槽底部设有与振动测度电路板连通的通孔，振动测试电路板上固定有插装被测晶体振荡器上引脚的插孔，插孔内设有与被测晶体振荡器上引脚固定相接的插针，振动测试电路板上还连接有伸出壳体的电源线和测试电缆线。本发明通过增加振动测试电路板，将电源线、测试电缆线与电路板相连，而非直接与被测晶体振荡器连接，连接更为稳固可靠，减少了线缆软连接引入的噪声干扰，提升了测试可靠性。
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公开(公告)号：CN117651397A
公开(公告)日：2024-03-05
申请号：CN202311588701.7
申请日：2023-11-24
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: H05K7/20
Abstract: 本申请公开了一种晶振恒温结构和安装方法，解决了现有技术恒温晶振的频率温度稳定度指标差问题。一种晶振恒温结构，包含槽体、加热功率器件。所述槽体内部设置有相邻的第一密封腔和第二密封腔。所述第一密封腔，用于设置晶体谐振器。所述第二密封腔，用于设置加热功率器件。本申请加热功率器件在槽体内部，因此全部加热功耗都用来加热槽体，提高了加热效率，在相同的控制温度下，利于降低晶振功耗。同时，晶体谐振器及热敏器件也处于恒温结构内部，而槽体及上盖均采用了高热导率的金属材料，内部热梯度较小，热分布均匀，利于改善晶振的频率温度稳定度指标。
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公开(公告)号：CN116008686A
公开(公告)日：2023-04-25
申请号：CN202211608703.3
申请日：2022-12-14
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种动态相位噪声测试方法，包括以下步骤：多个晶体振荡器同时通过专用夹具固定在振动试验台上，在设定的振动条件下，在每一个采样周期内，通过电脑控制多路选择开关轮流对各个晶体振荡器输出信号进行采样，直到采样周期的数量达到设定的计数值；根据获得的采样数据，计算任一晶体振荡器在所述设定的振动条件下的相位噪声值。本申请还包含使用所述方法进行动态相位噪声测试的系统。本申请解决单独测试晶振效率低、误差大的问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112743476A
公开(公告)日：2021-05-04
申请号：CN202011590565.1
申请日：2020-12-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: B25B11/02
Abstract: 本发明涉及一种晶振振荡器安装专用工装夹具，属于辅助工装领域，该夹具包括第一夹持机构和第二夹持机构，所述第一夹持机构和所述第二夹持机构分别用于装夹晶体振荡器中的印制板以及外壳，所述印制板上固设有弹性减震器，所述弹性减震器的另一端固设于所述外壳上；本发明结构简单，通过第一夹持机构和第二夹持机构，实现对印制板以及外壳的装夹，避免装配过程中二者的移位，确保装配的一致性，提高组装效率以及保障减震器的效果。
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公开(公告)号：CN114442721B
公开(公告)日：2024-03-19
申请号：CN202111523698.1
申请日：2021-12-14
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G05F1/625
Abstract: 本发明公开了一种稳压器筛选方法、测试装置及筛选系统，在一个具体的实施例中，所述稳压器筛选方法包括：通过插拔方式将待测三端稳压器和晶体振荡器与测试装置连接，所述测试装置的输出端通过SMA转接头与所述相位噪声测试仪连接；判断所述相位噪声测试仪的测试结果是否满足所述晶体振荡器的相位噪声指标，若满足，则所述待测三端稳压器合格。本发明通过测试装置依次连接三端稳压器、晶体振荡器和相位噪声测试仪，在装机前对晶体振荡器用三端稳压器进行相位噪声筛选测试，测试方面快捷，不损伤器件，解决了由于频繁拆装对稳压器造成的伤害。
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公开(公告)号：CN117607014A
公开(公告)日：2024-02-27
申请号：CN202311460279.7
申请日：2023-11-03
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种晶体振荡器防盐雾性能测试方法，包括以下步骤：对晶体振荡器外壳表面进行镀层加工，采集多批次不同镀层厚度的晶体振荡器进行盐雾试验，测量腐蚀缺陷面积；和/或，对晶体振荡器外壳表面镀层刻字，采集多批次不同刻字深度的晶体振荡器进行盐雾试验，测量腐蚀缺陷面积。本申请还提出一种晶体振荡器防盐雾方法，以及防盐雾的晶体振荡器，在晶体振荡器表面进行镀层加工，使镀层厚度超过设定厚度阈值，并且，在晶体振荡器表面进行刻字加工，使刻字深度不超过设定深度阈值。本申请解决封装的晶体振荡器存在抗盐雾能力缺陷的问题。
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公开(公告)号：CN116111954A
公开(公告)日：2023-05-12
申请号：CN202211732664.8
申请日：2022-12-30
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开一种恒温晶体振荡器及组装测试方法，涉及晶体振荡器技术领域，以解决传统振荡器在组装测试性能指标时，需要多次更换安装内部元器件，直至符合测试指标，每次均需要拆卸、安装，不仅繁琐复杂，也会影响连接可靠性的技术问题。装置包括：封闭壳体、恒温腔、石英振荡器、振荡电路板、控温电路板、放大电路板以及组合式连接件；放大电路板安装在封闭壳体内腔的底部，控温电路板通过组合式连接件安装在放大电路板上，恒温腔通过螺钉安装在振荡电路板和控温电路板之间，石英振荡器安装在恒温腔的空腔内，并与振荡电路板电连接。上述恒温晶体振荡器结构紧凑，调试方便，易于组装，缩短了调试的时间，具有很强实用性。
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公开(公告)号：CN114442721A
公开(公告)日：2022-05-06
申请号：CN202111523698.1
申请日：2021-12-14
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G05F1/625
Abstract: 本发明公开了一种稳压器筛选方法、测试装置及筛选系统，在一个具体的实施例中，所述稳压器筛选方法包括：通过插拔方式将待测三端稳压器和晶体振荡器与测试装置连接，所述测试装置的输出端通过SMA转接头与所述相位噪声测试仪连接；判断所述相位噪声测试仪的测试结果是否满足所述晶体振荡器的相位噪声指标，若满足，则所述待测三端稳压器合格。本发明通过测试装置依次连接三端稳压器、晶体振荡器和相位噪声测试仪，在装机前对晶体振荡器用三端稳压器进行相位噪声筛选测试，测试方面快捷，不损伤器件，解决了由于频繁拆装对稳压器造成的伤害。
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