公开(公告)号：CN117607014A

公开(公告)日：2024-02-27

申请号：CN202311460279.7

申请日：2023-11-03

Applicant: 北京无线电计量测试研究所

Inventor： 张雷 ,  轩久霞 ,  彭慧丽 ,  王超 ,  赵靖 ,  范翠云 ,  张亮 ,  王巨 ,  郄莉 ,  贾丽娜 ,  苏霞 ,  罗梦佳

IPC: G01N17/00 ,  H03H3/02 ,  H03H9/10 ,  H03H9/19

Abstract: 本申请公开了一种晶体振荡器防盐雾性能测试方法，包括以下步骤：对晶体振荡器外壳表面进行镀层加工，采集多批次不同镀层厚度的晶体振荡器进行盐雾试验，测量腐蚀缺陷面积；和/或，对晶体振荡器外壳表面镀层刻字，采集多批次不同刻字深度的晶体振荡器进行盐雾试验，测量腐蚀缺陷面积。本申请还提出一种晶体振荡器防盐雾方法，以及防盐雾的晶体振荡器，在晶体振荡器表面进行镀层加工，使镀层厚度超过设定厚度阈值，并且，在晶体振荡器表面进行刻字加工，使刻字深度不超过设定深度阈值。本申请解决封装的晶体振荡器存在抗盐雾能力缺陷的问题。