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公开(公告)号：CN117665441A
公开(公告)日：2024-03-08
申请号：CN202311586696.6
申请日：2023-11-24
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本申请公开了一种温度频率稳定度测试方法，包括以下步骤：多个晶体振荡器同时晶振上电模块固定在高低温箱中，在设定的温度条件下，控制保温时间，通过电脑控制多路选择开关轮流对各个晶体振荡器输出信号进行采样，在采样时长内获得晶体振荡器输出信号周期的计数值；根据获得的采样数据，计算任一晶体振荡器在所述设定的温度条件下的频率值。本申请还包含使用所述方法进行温度频率稳定度测试的系统。本申请解决单独测试晶振效率低、误差大的问题。
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公开(公告)号：CN112629790A
公开(公告)日：2021-04-09
申请号：CN202011589346.1
申请日：2020-12-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01M7/02
Abstract: 一种晶体振荡器振动工装夹具，属于振动试验技术领域，包括安装座，安装座的安装面可拆卸设置有工装压条；工装压条包括若干个第一支架、第二支架和第三支架；若干个第一支架彼此间隔设置，且相邻两个第一支架的间隔处设置有与第一支架平行的第二支架，第二支架朝向相邻两个第一支架的两端均固设于第三支架的第一端，第三支架的第二端固设于相邻的第一支架上，且相邻的第一支架、第二支架以及两块第三支架共同围设出卡槽，用于容置晶体振荡器；本发明通过将产品放入工装压条的卡槽里，接着通过螺钉紧固在安装台，确保产品与工装夹具的刚性连接，同时减少产品与工装间产生的划动、脱落、共振现象，确保产品振动量级达到试验要求，提高产品的质量。
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公开(公告)号：CN117607014A
公开(公告)日：2024-02-27
申请号：CN202311460279.7
申请日：2023-11-03
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种晶体振荡器防盐雾性能测试方法，包括以下步骤：对晶体振荡器外壳表面进行镀层加工，采集多批次不同镀层厚度的晶体振荡器进行盐雾试验，测量腐蚀缺陷面积；和/或，对晶体振荡器外壳表面镀层刻字，采集多批次不同刻字深度的晶体振荡器进行盐雾试验，测量腐蚀缺陷面积。本申请还提出一种晶体振荡器防盐雾方法，以及防盐雾的晶体振荡器，在晶体振荡器表面进行镀层加工，使镀层厚度超过设定厚度阈值，并且，在晶体振荡器表面进行刻字加工，使刻字深度不超过设定深度阈值。本申请解决封装的晶体振荡器存在抗盐雾能力缺陷的问题。
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公开(公告)号：CN116086751A
公开(公告)日：2023-05-09
申请号：CN202211726029.9
申请日：2022-12-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种新型冲击试验工装夹具及使用方法，属于冲击试验技术领域，解决了冲击试验安装过程中工装夹具与上压板条不易安装，试验过程中台体下落时上压条板和试验工装夹具发生摩擦滑动所产生共振对试验结果造成较大影响的技术问题。该新型冲击试验工装夹具包括冲击台体、工装夹具和上压板条，上压板条两端通过螺栓可拆卸的设置在冲击台体台面上，以在二者之间形成容纳工装夹具的固定空间；晶体振荡器固定在工装夹具内；工装夹具固定在冲击台体和上压板条之间的固定空间内，上压板条朝向工装夹具一侧设置有用于卡设工装夹具顶部的卡槽，以将工装夹具卡住固定。本发明能减少冲击试验时产生的额外的谐波和次谐波响应效果。
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公开(公告)号：CN112649680B
公开(公告)日：2023-03-21
申请号：CN202011558279.7
申请日：2020-12-25
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种晶体振荡器动态相位噪声测试夹具，该测试夹具包括壳体和装在壳体内的振动测试电路板，壳体上设有安装被测晶体振荡器的凹槽，凹槽底部设有与振动测度电路板连通的通孔，振动测试电路板上固定有插装被测晶体振荡器上引脚的插孔，插孔内设有与被测晶体振荡器上引脚固定相接的插针，振动测试电路板上还连接有伸出壳体的电源线和测试电缆线。本发明通过增加振动测试电路板，将电源线、测试电缆线与电路板相连，而非直接与被测晶体振荡器连接，连接更为稳固可靠，减少了线缆软连接引入的噪声干扰，提升了测试可靠性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118527576A
公开(公告)日：2024-08-23
申请号：CN202410679708.8
申请日：2024-05-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: B21F1/00
Abstract: 本申请公开了一种插装元器件引线成型装置和方法，解决了现有技术加工的插装元器件引线弯曲点与元器件本体距离过远的问题。一种插装元器件引线成型装置，壳体内有空腔，壳体侧面和一个端面分别设置开口；开口之间在壳体上连通。元器件定位块上设置有凹槽。凹槽的一个槽口设置在元器件定位块上至少两个相邻的侧面上。元器件定位块进入空腔，凹槽的槽口正对两个开口。定位板可拆卸的固定设置在第二开口上。定位板上设置有条状贯通槽，槽口正对一开口。本申请能够有效减少引线弯曲点与插接元器件本体的距离，同时由于采用固定的装置结构，因此多个插接元器件经过装置加工后效果基本一致。
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公开(公告)号：CN116008686A
公开(公告)日：2023-04-25
申请号：CN202211608703.3
申请日：2022-12-14
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种动态相位噪声测试方法，包括以下步骤：多个晶体振荡器同时通过专用夹具固定在振动试验台上，在设定的振动条件下，在每一个采样周期内，通过电脑控制多路选择开关轮流对各个晶体振荡器输出信号进行采样，直到采样周期的数量达到设定的计数值；根据获得的采样数据，计算任一晶体振荡器在所述设定的振动条件下的相位噪声值。本申请还包含使用所述方法进行动态相位噪声测试的系统。本申请解决单独测试晶振效率低、误差大的问题。
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公开(公告)号：CN114397073A
公开(公告)日：2022-04-26
申请号：CN202111515792.2
申请日：2021-12-13
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Inventor： 张雷
IPC: G01M7/02
Abstract: 本申请公开了一种防共振脱落工装夹具，包含压条，压条两端配置有与振动台面连接的L形拐角，压条中部配置有与振动台面连接的U形拐角。所述压条和拐角为一体成型材料制成，在拐角之间与压条表面围成的空间为卡槽，用于固定被测物体；所述L形拐角的底部和所述U形拐角的底部与压条的垂直距离相同，且设置有垂直于所述压条表面的螺孔。本申请还包含使用所述工装夹具的测试方法。本申请消除振动测试中被测产品和工装夹具之间的滑动、脱落和共振。
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公开(公告)号：CN114397073B
公开(公告)日：2023-12-22
申请号：CN202111515792.2
申请日：2021-12-13
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Inventor： 张雷
IPC: G01M7/02
Abstract: 本申请公开了一种防共振脱落工装夹具，包含压条，压条两端配置有与振动台面连接的L形拐角，压条中部配置有与振动台面连接的U形拐角。所述压条和拐角为一体成型材料制成，在拐角之间与压条表面围成的空间为卡槽，用于固定被测物体；所述L形拐角的底部和所述U形拐角的底部与压条的垂直距离相同，且设置有垂直于所述压条表面的螺孔。本申请还包含使用所述工装夹具的测试方法。本申请消除振动测试中被测产品和工装夹具之间的滑动、脱落和共振。
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公开(公告)号：CN112649680A
公开(公告)日：2021-04-13
申请号：CN202011558279.7
申请日：2020-12-25
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种晶体振荡器动态相位噪声测试夹具，该测试夹具包括壳体和装在壳体内的振动测试电路板，壳体上设有安装被测晶体振荡器的凹槽，凹槽底部设有与振动测度电路板连通的通孔，振动测试电路板上固定有插装被测晶体振荡器上引脚的插孔，插孔内设有与被测晶体振荡器上引脚固定相接的插针，振动测试电路板上还连接有伸出壳体的电源线和测试电缆线。本发明通过增加振动测试电路板，将电源线、测试电缆线与电路板相连，而非直接与被测晶体振荡器连接，连接更为稳固可靠，减少了线缆软连接引入的噪声干扰，提升了测试可靠性。
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