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公开(公告)号：CN106559070A
公开(公告)日：2017-04-05
申请号：CN201610906047.3
申请日：2016-10-18
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: H03L1/04
Abstract: 本申请公开了一种恒温晶体振荡器，解决恒温晶体振荡器温度控制精度不高、控温电路复杂的问题。恒温晶体振荡器包含晶体振荡电路、控温电路、加热电路、偏置电阻、热敏电路，偏置电阻和热敏电路串联构成分压电路，分压电路一端接地，另一端接供电电压，从热敏电阻与偏置电路之间引出温度传感电压，控温电路根据温度传感电压和基准电压的差值控制加热电路，对晶体振荡电路加热，热敏电路包含第一热敏电阻，用于检测晶体振荡电路的温度；以及第二热敏电阻，用于检测外部环境温度。第一热敏电阻与第二热敏电阻串联连接。本发明能够高精度地确保晶体振荡器的工作温度恒定；本发明的恒温晶体振荡器的结构简单，不仅容易调试，而且能够降低成本。
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公开(公告)号：CN112737540A
公开(公告)日：2021-04-30
申请号：CN202011589471.2
申请日：2020-12-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: H03H9/08
Abstract: 本申请涉及压电元件技术领域，公开了一种内加热表贴晶体。该内加热表贴晶体包括基座、盖板、温度感应件、加热件和石英晶片，其中，基座为凹形结构，凹形结构的凹面中部设置支撑部件；石英晶片设置在支撑部件上；盖板设置在基座的顶部；温度感应件和加热件设置在凹形结构的凹面底部，且温度感应件和加热件的高度均低于支撑部件的高度。该内加热表贴晶体具备体积小的优点。本公开实施例还提供了一种晶体振荡器的恒温结构和晶体振荡器。
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公开(公告)号：CN112696456A
公开(公告)日：2021-04-23
申请号：CN202011531742.9
申请日：2020-12-22
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种晶体振荡器辅助减振装置，其特征在于，包括承载晶体振荡器的电路板、钢丝绳及底座；钢丝绳中部与所述电路板固定连接，钢丝绳两端固定在底座；所述电路板的重量由钢丝绳中部的固定点承受。本申请还包含晶体振荡器辅助减振方法，解决现有技术的减振方法仍然存在较大振动幅度的问题。
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公开(公告)号：CN112649680A
公开(公告)日：2021-04-13
申请号：CN202011558279.7
申请日：2020-12-25
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种晶体振荡器动态相位噪声测试夹具，该测试夹具包括壳体和装在壳体内的振动测试电路板，壳体上设有安装被测晶体振荡器的凹槽，凹槽底部设有与振动测度电路板连通的通孔，振动测试电路板上固定有插装被测晶体振荡器上引脚的插孔，插孔内设有与被测晶体振荡器上引脚固定相接的插针，振动测试电路板上还连接有伸出壳体的电源线和测试电缆线。本发明通过增加振动测试电路板，将电源线、测试电缆线与电路板相连，而非直接与被测晶体振荡器连接，连接更为稳固可靠，减少了线缆软连接引入的噪声干扰，提升了测试可靠性。
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公开(公告)号：CN112649680B
公开(公告)日：2023-03-21
申请号：CN202011558279.7
申请日：2020-12-25
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种晶体振荡器动态相位噪声测试夹具，该测试夹具包括壳体和装在壳体内的振动测试电路板，壳体上设有安装被测晶体振荡器的凹槽，凹槽底部设有与振动测度电路板连通的通孔，振动测试电路板上固定有插装被测晶体振荡器上引脚的插孔，插孔内设有与被测晶体振荡器上引脚固定相接的插针，振动测试电路板上还连接有伸出壳体的电源线和测试电缆线。本发明通过增加振动测试电路板，将电源线、测试电缆线与电路板相连，而非直接与被测晶体振荡器连接，连接更为稳固可靠，减少了线缆软连接引入的噪声干扰，提升了测试可靠性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118041240A
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202311822827.6
申请日：2023-12-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种新型抗冲击倍频晶振装置，包括：用于使输出信号频率等于输入信号频率整数倍的倍频电路单元；用于供各种频率、波形和输出电平电信号的信号发生单元，所述信号发生单元和所述倍频电路单元连接；容纳单元，沿其部分周向设有缓冲件，所述倍频电路单元和所述信号发生单元分别设置于所述容纳单元内，其中，所述信号发生单元与所述缓冲件抵接。实现了能够集成倍频模块，也兼顾对抗冲击性能。
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公开(公告)号：CN114442721B
公开(公告)日：2024-03-19
申请号：CN202111523698.1
申请日：2021-12-14
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G05F1/625
Abstract: 本发明公开了一种稳压器筛选方法、测试装置及筛选系统，在一个具体的实施例中，所述稳压器筛选方法包括：通过插拔方式将待测三端稳压器和晶体振荡器与测试装置连接，所述测试装置的输出端通过SMA转接头与所述相位噪声测试仪连接；判断所述相位噪声测试仪的测试结果是否满足所述晶体振荡器的相位噪声指标，若满足，则所述待测三端稳压器合格。本发明通过测试装置依次连接三端稳压器、晶体振荡器和相位噪声测试仪，在装机前对晶体振荡器用三端稳压器进行相位噪声筛选测试，测试方面快捷，不损伤器件，解决了由于频繁拆装对稳压器造成的伤害。
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公开(公告)号：CN114442721A
公开(公告)日：2022-05-06
申请号：CN202111523698.1
申请日：2021-12-14
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G05F1/625
Abstract: 本发明公开了一种稳压器筛选方法、测试装置及筛选系统，在一个具体的实施例中，所述稳压器筛选方法包括：通过插拔方式将待测三端稳压器和晶体振荡器与测试装置连接，所述测试装置的输出端通过SMA转接头与所述相位噪声测试仪连接；判断所述相位噪声测试仪的测试结果是否满足所述晶体振荡器的相位噪声指标，若满足，则所述待测三端稳压器合格。本发明通过测试装置依次连接三端稳压器、晶体振荡器和相位噪声测试仪，在装机前对晶体振荡器用三端稳压器进行相位噪声筛选测试，测试方面快捷，不损伤器件，解决了由于频繁拆装对稳压器造成的伤害。
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公开(公告)号：CN112578215A
公开(公告)日：2021-03-30
申请号：CN202011600609.4
申请日：2020-12-30
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种新型晶体振荡器频率温度稳定度测试装置，该装置包括带盒盖的测试盒、测试电路板和若干晶体振荡器，测试盒内壁上固定有安放测试电路板的支撑块，测试电路板上安装有插装被测晶体振荡器的管簧，每个被测晶体振荡器的上方均设有电源线和压控线的引出端，测试电路板上设有与所有被测晶体振荡器的电源线和压控线相连的汇总端，测试盒上安装有连接测试线和测试电路板的接头，在所述测试盒上设有供电源线和压控线穿出的穿线孔。本发明设带管簧的测试电路板，将电源线、压控线与电路板相连，而非直接与被测晶体振荡器连接，连接更为稳固可靠，减少了线缆软连接引入的噪声干扰，提升了测试可靠性。
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公开(公告)号：CN117651397A
公开(公告)日：2024-03-05
申请号：CN202311588701.7
申请日：2023-11-24
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: H05K7/20
Abstract: 本申请公开了一种晶振恒温结构和安装方法，解决了现有技术恒温晶振的频率温度稳定度指标差问题。一种晶振恒温结构，包含槽体、加热功率器件。所述槽体内部设置有相邻的第一密封腔和第二密封腔。所述第一密封腔，用于设置晶体谐振器。所述第二密封腔，用于设置加热功率器件。本申请加热功率器件在槽体内部，因此全部加热功耗都用来加热槽体，提高了加热效率，在相同的控制温度下，利于降低晶振功耗。同时，晶体谐振器及热敏器件也处于恒温结构内部，而槽体及上盖均采用了高热导率的金属材料，内部热梯度较小，热分布均匀，利于改善晶振的频率温度稳定度指标。
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