公开(公告)号：CN116381469A

公开(公告)日：2023-07-04

申请号：CN202310664607.9

申请日：2023-06-07

Applicant: 中汽研软件测评(天津)有限公司

Inventor： 张立雄 ,  夏显召 ,  翟瑞卿 ,  李予佳 ,  李明阳 ,  赵瑞 ,  戎辉 ,  窦汝鹏

IPC: G01R31/28 ,  H04B15/00

Abstract: 本发明涉及一种芯片功耗测信道信息交叉验证测试方法和装置，涉及芯片测试技术领域，通过将q种不同汉明重量的测试明文均输入至M颗同批次同型号的待测芯片中执行加密运算，采集每颗待测芯片运行时的功耗泄露曲线；每种汉明重量测试明文下的功耗泄露曲线进行平均，对平均功耗泄露迹进行离散傅里叶变换得到功率谱密度曲线；对功率谱密度曲线进行峰值特征提取得到峰值功率关键点；通过对不同待测芯片同种汉明重量测试明文下的峰值功率关键点进行异或操作，对各待测芯片进行批量交叉验证，实现基于功耗信号的批量的交叉验证，有利于提高测试效率。

公开(公告)号：CN116400205B

公开(公告)日：2023-09-19

申请号：CN202310664603.0

申请日：2023-06-07

Applicant: 中国汽车技术研究中心有限公司 ,  中汽研软件测评(天津)有限公司

Inventor： 夏显召 ,  翟瑞卿 ,  李予佳 ,  李明阳 ,  赵瑞 ,  吴含冰 ,  戎辉 ,  董长青 ,  姜国凯

IPC: G01R31/3183 ,  G01R31/317 ,  G06F11/22 ,  G06F1/04 ,  G06F11/263

Abstract: 本发明涉及一种芯片时钟网络延时交叉验证测试方法，涉及芯片测试技术领域，通过将测试向量输入至N颗同批次、同型号的待测芯片；控制OCC电路At‑speed模式提供的时钟信号作为待测芯片内各触发器的控制时钟；将来自各待测芯片的触发器输出信号进行异或运算，实现批量交叉验证。

公开(公告)号：CN116381469B

公开(公告)日：2023-08-15

申请号：CN202310664607.9

申请日：2023-06-07

Applicant: 中汽研软件测评(天津)有限公司

Inventor： 张立雄 ,  夏显召 ,  翟瑞卿 ,  李予佳 ,  李明阳 ,  赵瑞 ,  戎辉 ,  窦汝鹏

IPC: G01R31/28 ,  H04B15/00

Abstract: 本发明涉及一种芯片功耗测信道信息交叉验证测试方法和装置，涉及芯片测试技术领域，通过将q种不同汉明重量的测试明文均输入至M颗同批次同型号的待测芯片中执行加密运算，采集每颗待测芯片运行时的功耗泄露曲线；每种汉明重量测试明文下的功耗泄露曲线进行平均，对平均功耗泄露迹进行离散傅里叶变换得到功率谱密度曲线；对功率谱密度曲线进行峰值特征提取得到峰值功率关键点；通过对不同待测芯片同种汉明重量测试明文下的峰值功率关键点进行异或操作，对各待测芯片进行批量交叉验证，实现基于功耗信号的批量的交叉验证，有利于提高测试效率。

公开(公告)号：CN118777844B

公开(公告)日：2024-12-27

申请号：CN202411244330.5

申请日：2024-09-06

Applicant: 中国汽车技术研究中心有限公司 ,  中汽研软件测评(天津)有限公司

Inventor： 夏显召 ,  李予佳 ,  吴含冰 ,  李明阳 ,  赵瑞 ,  翟瑞卿 ,  闫明凯 ,  董长青 ,  戎辉 ,  张立雄

IPC: G01R31/28 ,  H04L9/00

Abstract: 本发明涉及集成电路安全和电磁故障注入技术领域，公开了一种针对密码芯片的高时间精度电磁故障注入方法及装置，方法包括：通过上位机对待攻击密码芯片进行初始化；根据电磁脉冲信号的尖峰时间和上升时间确定故障注入时间；在故障注入时间对待攻击密码芯片的目标位置进行故障注入；待完成一次故障注入后，判断该次故障注入是否为有效故障注入；将待攻击密码芯片初始化，改变待攻击密码芯片的输入明文；重新执行上述步骤；根据待攻击密码芯片在不同的明文下输出的有效错误密文，通过差分故障分析法破解待攻击密码芯片的密钥信息。本发明能够更加精准地控制故障注入的时间，提高差分故障分析的分析效率和效果，提高有效故障注入的成功率。

公开(公告)号：CN118740366A

公开(公告)日：2024-10-01

申请号：CN202411225117.X

申请日：2024-09-03

Applicant: 中国汽车技术研究中心有限公司 ,  中汽研软件测评(天津)有限公司

Inventor： 夏显召 ,  李丹阳 ,  李宇宁 ,  李明阳 ,  李予佳 ,  赵瑞 ,  翟瑞卿 ,  闫明凯 ,  董长青 ,  戎辉 ,  张立雄

IPC: H04L9/00 ,  H04L9/08

Abstract: 本发明涉及集成电路安全和电源毛刺故障注入技术领域，公开了针对密码芯片的高时间精度电源毛刺故障注入方法及装置，设置电源毛刺故障注入装置的参数，通过电脑对待攻击密码芯片进行初始化配置，根据电源毛刺电压和目标指令，确定电源毛刺的故障注入时间；通过电脑设置电源毛刺的故障注入时间，控制高压脉冲发生器产生电源毛刺故障，并注入所述待攻击密码芯片，判断并记录有效错误密文；通过多次电源毛刺故障注入，获取待攻击密码芯片在输入不同的明文时产生的有效错误密文；根据差分故障分析有效错误密文，破解待攻击密码芯片的密钥信息，能够在对密码芯片进行电源毛刺故障注入时，更加精准的控制注入时间点。

公开(公告)号：CN116400199A

公开(公告)日：2023-07-07

申请号：CN202310651538.8

申请日：2023-06-05

Applicant: 中国汽车技术研究中心有限公司 ,  中汽研软件测评(天津)有限公司

Inventor： 夏显召 ,  董长青 ,  翟瑞卿 ,  李予佳 ,  李明阳 ,  赵瑞 ,  吴含冰 ,  戎辉 ,  窦汝鹏

IPC: G01R31/28 ,  G06F11/22 ,  G06F11/263

Abstract: 本发明涉及一种芯片时钟毛刺故障注入交叉验证测试方法和装置，涉及芯片测试领域，在有限时间内将毛刺时钟信号输入至各待测芯片，使各待测芯片在系统时钟信号和毛刺时钟信号之间切换，将来自各待测芯片的输出信号进行异或运算，实现批量交叉验证，本发明基于时钟毛刺故障注入的批量级测试；而且，实现了毛刺时钟信号与系统时钟信号切换过程中，以及周期变化的毛刺时钟信号的批量测试。