一种包含赝衬底的InP基应变量子阱结构及制备方法

    公开(公告)号:CN101982905B

    公开(公告)日:2012-05-30

    申请号:CN201010290432.2

    申请日:2010-09-25

    发明人: 顾溢 张永刚

    IPC分类号: H01S5/343 H01L33/12 H01L33/00

    摘要: 本发明涉及一种包含赝衬底的InP基应变量子阱结构及制备方法,自下而上为InP衬底、赝衬底和量子阱结构,其中赝衬底包括组分连续渐变缓冲层及单一组分缓冲层;制备方法即采用分子束外延法,首先在InP衬底上生长组分连续渐变的缓冲层;再生长单一组分的材料作为缓冲层,完成赝衬底的生长;生长完的赝衬底上生长相对赝衬底应变补偿的量子阱结构。本发明包含赝衬底的InP基应变量子阱结构既适合于需要采用与InP衬底具有大应变的量子阱的半导体激光器,也适合于其他新型电子或光电子器件,具有很好的通用性;应用此制备方法,为InP基量子结构和功能的设计和实现引入了更大的自由度。

    晶格匹配体系上裁剪带隙波长提高光电探测器性能的方法

    公开(公告)号:CN102176489A

    公开(公告)日:2011-09-07

    申请号:CN201110044512.4

    申请日:2011-02-22

    发明人: 张永刚 顾溢

    CPC分类号: Y02P70/521

    摘要: 本发明涉及一种晶格匹配体系上裁剪带隙波长提高光电探测器性能的方法,包括:采用分子束外延法或金属有机物气相外延法,在衬底上生长晶格匹配的缓冲层、光吸收层和宽禁带帽层得到光电探测器件外延结构;其中,生长过程中对光吸收层的带隙进行裁剪设定,在满足应用中对光电探测器长波端截止波长要求的前提下选取宽带隙。本发明材料生长方法简单,通过对光电探测器光吸收层带隙的裁剪设定,在基本不改变原有器件设计的前提下显著改善器件性能,探测率改善3倍以上;既适合一些不同种类的III-V族化合物材料体系光电探测器件的制作,也适合其他类型的光电器件及电子器件的制作及拓展到其他材料体系,具有良好的应用前景。

    用分子束外延方法制作光电探测单元或焦平面器件的方法

    公开(公告)号:CN102130208A

    公开(公告)日:2011-07-20

    申请号:CN201010608360.1

    申请日:2010-12-28

    发明人: 张永刚 顾溢

    IPC分类号: H01L31/18 C30B29/40 C30B25/02

    CPC分类号: Y02P70/521

    摘要: 本发明涉及一种用分子束外延方法制作光电探测单元或焦平面器件的方法,包括:(1)应用分子束外延生长技术,在导电衬底上生长缓冲层、光吸收层和宽禁带帽层的外延结构,然后连续生长一层铍高掺杂或δ掺杂的异质窄禁带薄层作为扩散源层;(2)用常规图形加工工艺刻蚀扩散源层形成局部掺杂源图形,在钝化介质膜的保护下应用扩散技术形成pn结,扩散温度为450-600℃;然后制作电极构成光电探测单元或焦平面器件。本发明的方法具有普适性,简单,掺杂成结工艺结合了光电探测器件制作中台面型原位掺杂成结工艺成结方便和平面型扩散成结工艺钝化效果好的优点,简化器件工艺和提高器件的性能。

    用于拓展In0.53Ga0.47As探测器及其阵列短波响应的材料体系及其制备

    公开(公告)号:CN101976696B

    公开(公告)日:2013-06-12

    申请号:CN201010292223.1

    申请日:2010-09-26

    发明人: 顾溢 张永刚

    CPC分类号: Y02P70/521

    摘要: 本发明涉及一种用于拓展In0.53Ga0.47As探测器及其阵列短波响应的材料体系及其制备,采用禁带宽度大于In0.53Ga0.47As吸收层材料且大于常规InP的含铝砷化物材料作为上下接触层材料体系实现拓展In0.53Ga0.47As探测器及其阵列短波响应。本发明采用宽禁带透明上接触层和下接触层材料体系,可以减小表面复合并提高量子效率,可利用分子束外延方法或金属有机物气相外延方法无需As/P切换而不间断生长,有利于在生长过程中保持平整的表面态,保证材料的高质量生长,可降低器件噪声,具有很好的通用性。