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公开(公告)号：CN117706317B
公开(公告)日：2024-05-28
申请号：CN202410168535.3
申请日：2024-02-06
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/26
Abstract: 本申请涉及一种热阻测试方法和热阻测试电路。方法包括：目标宽禁带半导体器件的温度为第一温度的情况下，控制目标宽禁带半导体器件中的缺陷捕获载流子；在捕获载流子后，控制目标宽禁带半导体器件中缺陷捕获的载流子释放，并在载流子释放的过程中，采集目标宽禁带半导体器件中栅极电容的电容变化数据；根据第一温度、电容变化数据以及目标宽禁带半导体器件的功率确定目标宽禁带半导体器件的热阻。采用本方法能够可以实现宽禁带半导体器件的无损测试。
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公开(公告)号：CN116359708B
公开(公告)日：2024-05-17
申请号：CN202310344389.0
申请日：2023-03-31
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/28
Abstract: 本申请涉及一种芯片安全测试电路、方法及设备。该芯片安全测试电路包括：电压毛刺激发模块，用于向芯片测试板电路输出携带电压毛刺的电源电压信号；芯片测试板电路，用于根据所述电源电压信号和接收的测试输入数据，输出测试输出数据；数据采集与处理模块，用于采集所述测试输入数据、所述测试输出数据以及所述电源电压信号，并根据所述测试输入数据、所述测试输出数据以及所述电源电压信号，检测所述芯片测试板电路中芯片的安全性。该芯片安全测试电路可以实现以自动进行硬件注入故障的方式测试芯片的安全性，保证测试环境与真实环境基本一致，因此可以提升芯片安全测试的准确度。
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公开(公告)号：CN118033497A
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202410156024.X
申请日：2024-02-02
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种电磁场测量探头、方法、装置和系统。属于电磁探测技术领域，所述电磁场测量探头包括：连接器和叠层设置的多层电路板；其中，多层电路板包括第一环路板和第二环路板。本申请中的第一环路板上具有第一差分环路，第一差分环路用于探测干扰源的第一电磁信号，并将第一电磁信号输出至连接器。本申请中的第二环路板上具有第二差分环路，第二差分环路用于探测干扰源的第二电磁信号，并将第二电磁信号输出至连接器。基于本申请的电磁场测量探头可同时测量电场分量和磁场分量，降低了测量电场分量和磁场分量时的复杂度，提高了测量效率。
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公开(公告)号：CN117706317A
公开(公告)日：2024-03-15
申请号：CN202410168535.3
申请日：2024-02-06
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/26
Abstract: 本申请涉及一种热阻测试方法和热阻测试电路。方法包括：目标宽禁带半导体器件的温度为第一温度的情况下，控制目标宽禁带半导体器件中的缺陷捕获载流子；在捕获载流子后，控制目标宽禁带半导体器件中缺陷捕获的载流子释放，并在载流子释放的过程中，采集目标宽禁带半导体器件中栅极电容的电容变化数据；根据第一温度、电容变化数据以及目标宽禁带半导体器件的功率确定目标宽禁带半导体器件的热阻。采用本方法能够可以实现宽禁带半导体器件的无损测试。
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公开(公告)号：CN117575995A
公开(公告)日：2024-02-20
申请号：CN202311376792.8
申请日：2023-10-23
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种器件缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质，通过根据检测图像的目标图像标识，确定待检测缺陷类型；并从各候选检测模型中选择出与待检测缺陷类型对应的目标检测模型；最后采用目标检测模型，对检测图像进行缺陷检测。本申请提供的器件缺陷检测方法，能够根据检测图像的目标图像标识自动识别出待检测缺陷类型，并能够筛选出与待检测缺陷类型对应的目标检测模型，从而实现自动对各类缺陷图像进行检测，提高了器件缺陷检测的效率；并且，各候选检测模型用于检测不同的缺陷，能够适用于更多的缺陷检测场景，扩大了缺陷检测方法的使用范围。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117406056A
公开(公告)日：2024-01-16
申请号：CN202311397697.6
申请日：2023-10-25
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/26
Abstract: 本申请涉及一种边界值确定方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：根据待测电子器件的稳定运行数据，对所述待测电子器件的目标指标进行毛刺测试，以获取所述待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况；根据所述待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，确定所述待测电子器件在所述目标指标下的目标取值范围；根据所述目标取值范围和所述待测电子器件在各目标指标毛刺下的运行情况，绘制所述目标指标在所述目标取值范围内的概率分布曲线；根据所述概率分布曲线，确定所述待测电子器件在所述目标指标下的目标边界值。采用本方法能够更加高效、准确的确定电子器件在某一指标下的边界值。
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公开(公告)号：CN113568031B
公开(公告)日：2023-11-03
申请号：CN202110654904.6
申请日：2021-06-11
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01T1/36
Abstract: 本发明涉及电子器件可靠性技术领域，公开了一种α粒子发射率测试方法，包括获取测试样品；对测试设备的背底噪声进行调试，使得测试设备的α粒子发射率小于设定值；利用完成调试的测试设备对测试样品进行α粒子发射率测试，并对测试到的α粒子进行计数；当α粒子的计数达到目标计数时结束测试，并获取测试数据；对测试数据进行分析和处理。通过在对测试过程前通过背底噪声调试来降低环境噪声和设备自身发射α粒子本底对测试结果的影响，在测试完成后通过数据分析来进一步确定超低本底电子材料的测试样品的实际α粒子发射率。利用上述α粒子发射率测试方法可以实现对超低本底电子材料的测试样品α粒子发射率、能谱的准确测量，提高试验准确度。
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公开(公告)号：CN111709120B
公开(公告)日：2023-09-05
申请号：CN202010431029.0
申请日：2020-05-20
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F119/02
Abstract: 本发明涉及一种α粒子有效通量的分析方法、装置及计算机存储介质，分析方法包括：根据放射源辐照试验平台构建分析仿真模型，分析仿真模型包括放射源和半导体器件，放射源位于半导体器件上方；进行仿真试验，以使放射源发射α粒子，并记录到达半导体器件表面的有效α粒子数量；根据有效α粒子数量和放射源发射的α粒子数量获取有效因子；根据有效因子和放射源的α粒子发射率获取到达半导体器件表面的α粒子有效通量。由于所获得的α粒子有效通量是根据有效因子确定，而该有效因子考虑了放射源与半导体之间的空间几何效应和气体层的屏蔽效应，因而可以保证所获得的α粒子有效通量的准确度，大大减小了半导体器件α粒子软错误率试验的误差。
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公开(公告)号：CN116628689A
公开(公告)日：2023-08-22
申请号：CN202310549428.0
申请日：2023-05-16
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F21/56
Abstract: 本申请涉及一种硬件木马攻击模型构建方法以及硬件木马的检测方法。其中，硬件木马攻击模型构建方法包括：获取硬件电路中植入的硬件木马；根据硬件电路的电路结构特征、以及硬件木马的属性特征，形成硬件木马的属性层级；对属性层级中的硬件木马子属性进行分类，得到属性节点；基于属性层级得到的硬件木马在硬件电路中的传递方向，形成属性节点之间的有向边；汇集属性节点、以及有向边，构建得到硬件木马攻击模型。方法能够为硬件木马检测提供更加具体的理论指导，使得硬件木马检测和分析结果更具针对性，进一步提高硬件木马识别或分析处理的可靠性。
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公开(公告)号：CN116451093A
公开(公告)日：2023-07-18
申请号：CN202310541792.2
申请日：2023-05-12
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F18/22 , G06F18/24 , G06F18/214 , G06F18/20 , G06N3/006 , G06N3/045 , G06N3/0464 , G06N3/0442
Abstract: 本申请涉及一种电路故障分析模型的训练方法以及电路故障分析方法。其中，训练方法包括获取待训练的电路故障分析模型、以及电路故障的训练数据，训练数据包括样本数据以及样本标签；将样本数据输入至待训练的电路故障分析模型，通过电路故障分析模型对样本数据进行特征突出处理，得到故障特征；通过电路故障分析模型对故障特征进行时序特征提取，将时序特征提取得到的特征数据进行分类预测；将分类预测结果与样本标签进行相似度对比；更新待训练的电路故障分析模型的模型参数直至相似度对比结果不大于预设误差，得到已训练的电路故障分析模型。方法提升了电路故障分析模型的适用性，也提升了电路模型故障分析结果的准确性和可靠性。
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