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公开(公告)号:CN117934899A
公开(公告)日:2024-04-26
申请号:CN202311705049.2
申请日:2023-12-13
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G06V10/764 , G06V10/774 , G06T7/00 , G06T5/70 , G06T7/90
Abstract: 本发明公开了一种基于星图灰度分布特征的观星设备质量分类方法,包括:S1,星点图像数据采集;S2,星点图像噪声处理;S3,星点图像特征建模;S4,产品质量特征建模;S5,产品质量分类分析。对星点图像进行阈值去噪处理,依据去噪后星点图像的灰度分布特征建立星点图像模型,并以此模型结合光学像差成像原理建立产品质量分类模型,满足产品总装质量的智能分类需求。
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公开(公告)号:CN111079809B
公开(公告)日:2023-08-29
申请号:CN201911238101.1
申请日:2019-12-06
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G06F18/2431 , G06F18/10 , G06F18/214
Abstract: 本发明的电连接器智能统型方法包括:1)获取已有的电连接器业务数据;2)获取已有的电连接器失效数据;3)根据统型要求对电连接器数据进行清洗;4)由清洗后的电连接器数据形成电连接器的训练数据集以及测试数据集;5)利用训练数据集构建电连接器统型决策树;6)对电连接器统型决策树剪枝;7)通过剪枝后的电连接器统型决策树对测试数据集中的数据进行分类;8)依据步骤7)分类结果形成电连接器统型表,比对该电连接器统型表与人工统型结果,若比对结果满足要求,即利用步骤5)构建的电连接器统型决策树进行电连接器智能统型。本发明解决电连接器统型依赖领域专家人工处理的问题。
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公开(公告)号:CN116167636A
公开(公告)日:2023-05-26
申请号:CN202211533603.9
申请日:2022-12-01
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G06Q10/0639 , G06Q50/04 , G06F17/18
Abstract: 本发明的产品质量批次稳定性量化评估判据计算方法包括:S1,确定量化评估判据指标集;S2,设计各量化评估判据指标计算方法以及量化评估判据指标组合应用逻辑;S3,利用量化评估判据指标组合应用逻辑得到产品质量批次稳定性评估定性结论。本发明为产品质量批次稳定性评估设计一套量化评估判据计算方法,利用该量化评估判据计算方法可直接形成产品质量批次稳定性的分析结论,实现了产品质量批次稳定性评估过程规范化、工具化,提高产品质量检验效率和水平。
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公开(公告)号:CN111443966A
公开(公告)日:2020-07-24
申请号:CN202010165276.0
申请日:2020-03-11
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明实施例提供了一种通过桌面式虚拟仿真进行IETM内容的搜索和定位的方法,包括步骤:步骤1:在IETM阅读器中添加虚拟仿真软件插件,将可视化仿真引擎嵌入IETM中;所述IETM阅读器包括SNS码信息模块、第一消息传输模块、第一消息接收模块以及搜索模块;所述虚拟仿真制作软件包括SNS码信息模块、第二消息传输模块、第二消息接收模块以及虚拟仿真显示模块;步骤2:建立虚拟仿真模型的部件与IETM内容的关联;步骤3:通过第二消息传输模块,将虚拟仿真模型的部件的SNS码信息传输到IETM阅读器;步骤4:通过第一消息接收模块,IETM阅读接收虚拟仿真软件发出的部件SNS节点信息;步骤5:通过搜索模块,搜索并定位到IETM内容结构树,并显示该节点下的数据模块。
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公开(公告)号:CN111079809A
公开(公告)日:2020-04-28
申请号:CN201911238101.1
申请日:2019-12-06
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G06K9/62 , G06F16/215
Abstract: 本发明的电连接器智能统型方法包括:1)获取已有的电连接器业务数据;2)获取已有的电连接器失效数据;3)根据统型要求对电连接器数据进行清洗;4)由清洗后的电连接器数据形成电连接器的训练数据集以及测试数据集;5)利用训练数据集构建电连接器统型决策树;6)对电连接器统型决策树剪枝;7)通过剪枝后的电连接器统型决策树对测试数据集中的数据进行分类;8)依据步骤7)分类结果形成电连接器统型表,比对该电连接器统型表与人工统型结果,若比对结果满足要求,即利用步骤5)构建的电连接器统型决策树进行电连接器智能统型。本发明解决电连接器统型依赖领域专家人工处理的问题。
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公开(公告)号:CN110333962A
公开(公告)日:2019-10-15
申请号:CN201910407685.4
申请日:2019-05-16
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G06F11/07 , G06F16/215 , G06F16/25 , G06F16/28 , G06K9/62
Abstract: 本发明提供一种基于数据分析预测的电子元器件故障诊断模型,包括数据采集模块、数据预处理模块、故障诊断模型构建模块、预测模块和预测结果输出模块;所述故障诊断模型构建模块接收所述“干净”的结构化数据集后进行聚类,得到多个簇类;对于每一簇类,运用分形几何学量化其分维数值,每簇类的分维数值是其故障特征、此量值用于判断批次元器件中存在的故障类型;按故障类型将输入数据分类存储一份到存储模块。本发明减少了人工重复性检测工作、缩短乐检测周期、降低了筛选成本、挖掘制造商电子元器件生产质量控制潜力、实现乐能力与效益的持续提升,为型号提供高质量高可靠性的电子元器件,保证了航天型号产品可靠性和稳定性。
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