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公开(公告)号:CN113820152A
公开(公告)日:2021-12-21
申请号:CN202110972644.7
申请日:2021-08-24
Applicant: 上海精密计量测试研究所
IPC: G01M99/00
Abstract: 本发明的微波器件电热应力自动化测试评价系统包括应力施加、检测控制、电源和数据处理等子系统;应力施加子系统搁置在鱼骨式支撑架上的隔热板上,由隔热板与风扇板构成可变风道;检测控制子系统和电源子系统位于隔热板下方,且与隔热板有间隔;电源与应力施加子系统用电源线互连,电源线上串有电流传感器;检测控制子系统中夹具与热台上设有温度传感器;检测控制子系统采集温度和电流的数据和并发送给数据处理子系统;数据处理子系统分析测量数据并发送反馈指令,由检测控制子系统控制电源、风扇和热台。本发明解决现有微波器件电热应力测试效率低、准确度低和可靠性低等问题。
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公开(公告)号:CN108258379A
公开(公告)日:2018-07-06
申请号:CN201711201252.0
申请日:2017-11-27
Applicant: 上海精密计量测试研究所 , 上海航天信息研究所
Abstract: 本发明提供了一种基于LTCC技术的毫米波3D同轴传输线设计制造方法,LTCC技术是一种多层布线、立体互连技术,可实现100层的陶瓷基片烧结。本发明采用在毫米波频段内低损耗的Ferro A6M陶瓷材料作为基片,在单层基片上利用激光工艺加工准直度和形貌均良好的通孔,利用激光对准技术将多个通孔进行高精度对准,利用圆形保护焊盘将多个填充了金属浆料单层的通孔互连,叠加成所需要的高度的长通孔;利用环形保护焊盘将外围的长通孔互连,两者围绕成网状结构充当外导体,从而构建3D结构的毫米波同轴传输线。仿真结果显示,新型高可靠性同轴传输线可工作至300 GHz。
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公开(公告)号:CN214794502U
公开(公告)日:2021-11-19
申请号:CN202120121632.9
申请日:2021-01-16
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本实用新型提供了一种裸芯片表面缺陷智能检测系统,包括相机、镜头、升降支架、检测工作台和计算机;裸芯片放置在检测工作台上,检测工作台通过导轨进行前后和左右移动;镜头安装在相机前端,用于对采集的裸芯片图像进行放大,镜头位于检测工作台正上方;相机安装在升降支架上,通过升降支架进行上下移动,调整相机与裸芯片之间的距离;计算机与相机通过网线连接,将相机采集的裸芯片图像进行处理,并通过检测模型对裸芯片图像进行识别,判断裸芯片是否存在缺陷,当裸芯片存在缺陷时,计算机通过连接的报警器进行报警。本实用新型有效避免了漏检情况的发生,大幅提升了缺陷识别检测效率,降低了人工劳动强度。
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