一种片上波导损耗测量方法、测量装置及其制造方法

    公开(公告)号:CN112444372A

    公开(公告)日:2021-03-05

    申请号:CN201910797728.4

    申请日:2019-08-27

    Abstract: 本申请提供一种片上波导损耗测量方法、测量装置及其制造方法。该片上波导损耗测量装置包括:形成于绝缘体上的硅(SOI)衬底的顶层硅中的光耦合器;形成于所述顶层硅中的沿直线方向延伸的直线型波导,所述直线型波导的光入射端与所述光耦合器的光出射端在横向上对置;形成于所述顶层硅中的环形谐振腔,所述环形谐振腔与所述直线型波导之间的最小距离为第一距离;位于所述直线型波导的靠近所述光耦合器一侧的偏振调节元件,所述偏振调节元件调节所述直线型波导中的光的偏振态;光电探测器,其形成于所述顶层硅上,探测所述直线型波导的光输出端所输出的光并生成电流;以及加热器,其形成于所述环形谐振腔的预定距离处。

    基于晶圆键合技术的Ⅲ-Ⅴ/Si异质结构及集成方法

    公开(公告)号:CN112186050A

    公开(公告)日:2021-01-05

    申请号:CN201910599543.2

    申请日:2019-07-04

    Abstract: 本发明提供一种基于晶圆键合技术的Ⅲ‑Ⅴ/Si异质结构及集成方法,集成方法包括:1)于硅波导层上形成介质层,于介质层中形成Ⅲ‑Ⅴ族材料异质集成窗口;2)于集成窗口内及介质层上形成非晶材料层并抛光,非晶材料层为非晶硅层或者非晶Ⅲ‑Ⅴ族材料层;3)键合Ⅲ‑Ⅴ族材料衬底及非晶材料层,并减薄Ⅲ‑Ⅴ族材料衬底;4)采用退火工艺实现非晶材料层的固相外延,形成单晶材料层,单晶材料层为单晶硅层或单晶Ⅲ‑Ⅴ族材料层。本发明通过将具有单晶结构的Ⅲ‑Ⅴ族材料衬底与硅直接键合方式集成,可获得高质量的Ⅲ‑Ⅴ族材料。本发明可有效发挥硅材料与Ⅲ‑Ⅴ族材料优势,形成Ⅲ‑Ⅴ族材料/硅异质结结构,大大提升光电器件的性能。

    偏振分束器及其形成方法
    15.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111830627A

    公开(公告)日:2020-10-27

    申请号:CN201910328570.6

    申请日:2019-04-23

    Abstract: 本发明涉及光学技术领域,尤其涉及一种偏振分束器及其形成方法。所述偏振分束器包括:衬底;位于所述衬底表面且均沿第一方向延伸的第一波导、狭缝波导和第二波导;所述第一波导、所述狭缝波导与所述第二波导在沿与所述第一方向垂直的第二方向上平行排列,且所述狭缝波导位于所述第一波导与所述第二波导之间;所述第一方向为光线的传播方向,所述第一方向与所述第二方向均为平行于所述衬底的方向;所述光线中的横磁偏振光能够自所述第一波导经所述狭缝波导耦合至所述第二波导。本发明实现了对光线中TM偏振模式与TE偏振模式的分离,在未来的偏振复用以及传感等方面有着诸多潜在的应用。

    一种锗铅合金材料的制备方法

    公开(公告)号:CN111785792A

    公开(公告)日:2020-10-16

    申请号:CN201910272710.2

    申请日:2019-04-04

    Abstract: 本发明提供了一种锗铅合金材料的制备方法。该方法包括:在衬底上沉积基底介质层;在基底介质层中形成开孔所述衬底从所述开孔露出的部分被作为生长种子窗口;在所述基底介质层表面以及从所述开孔露出的衬底表面沉积包含锗(Ge)元素和铅(Pb)元素的材料层;在所述材料层表面沉积阻挡介质层;以及对所述衬底进行退火,在所述材料层中形成所述四族半导体锗铅合金材料。根据本申请,能够在衬底表面形成质量较高的GePb合金,并且,该方法与CMOS工艺的兼容性较好,有利于GePb合金在硅基器件中的应用。

    波导集成的GeSn光电探测器及其制造方法

    公开(公告)号:CN110896112A

    公开(公告)日:2020-03-20

    申请号:CN201810958988.0

    申请日:2018-08-22

    Abstract: 本发明涉及半导体制造技术领域,尤其涉及一种波导集成的GeSn光电探测器及其制造方法。所述波导集成的GeSn光电探测器,包括GeSnOI衬底以及均位于所述GeSnOI衬底表面的光纤-波导模斑耦合器、SiN光波导和器件结构;所述器件结构,包括沿所述GeSnOI衬底的轴向方向设置于所述GeSnOI衬底上的GeSn吸收层;所述SiN光波导的输出端沿平行于所述GeSnOI衬底的方向与所述GeSn吸收层的中心对齐连接;所述光纤-波导模斑耦合器包括与所述SiN光波导的输入端连接的SiN反锥型波导,且所述SiN反锥型波导与所述SiN光波导同层设置。本发明能够有效避免光探测器速率与量子效率间相互制约的问题,提高了GeSn光电探测器的灵敏度以及稳定性。

    一种氮化硅波导结构及其制备方法

    公开(公告)号:CN119937090A

    公开(公告)日:2025-05-06

    申请号:CN202510253517.X

    申请日:2025-03-05

    Abstract: 本发明提供一种氮化硅波导结构的制备方法,包括如下步骤:提供衬底,所述衬底表面形成有氮化硅波导层;在所述氮化硅波导层表面依次形成第一氧化硅层、多晶硅层和第二氧化硅层,形成硬掩膜层;对所述硬掩膜层进行图案化处理,形成刻蚀硬掩膜;对所述氮化硅波导层进行刻蚀处理,形成目标氮化硅波导结构;移除剩余的刻蚀硬掩膜。本发明基于三层结构的硬掩模以及通过对各层硬掩模薄膜厚度的优化,能够将刻蚀尺寸偏差控制在极小范围内,且刻蚀的波导结构侧壁光滑、垂直度好,能够有效降低氮化硅端面耦合器的耦合损耗及氮化硅波导的传输损耗。

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