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公开(公告)号:CN109153907B
公开(公告)日:2021-10-15
申请号:CN201680068602.8
申请日:2016-10-17
Applicant: 三星SDI株式会社
IPC: C09K3/14 , H01L21/304 , H01L21/306
Abstract: 本发明涉及一种CMP研浆组成物及使用其研磨有机膜的方法,所述CMP研浆组成物包含:含有含铁组分的氧化剂;具有一个羧基的有机酸;以及水。本发明的CMP研浆组成物不包含研磨颗粒,藉此有效地阻止研磨颗粒引起的过度研磨和/或在研磨有机膜时出现刮痕。
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公开(公告)号:CN108138029B
公开(公告)日:2021-05-18
申请号:CN201680056927.4
申请日:2016-09-30
Applicant: 三星SDI株式会社
IPC: C09K3/14 , H01L21/306
Abstract: 本发明提供一种有机膜CMP浆料组成物及使用其的研磨方法。所述CMP浆料组成物包含氧化铈及硝酸铈,其中由方程式(1)所计算的选择性比为约100或大于100:[方程式(1)]选择性比=α/β(其中α是对有机膜的研磨速率(埃/分钟)且β是对无机膜的研磨速率(埃/分钟))。本发明的有机膜CMP浆料组成物具有有机膜相对于无机膜的高选择性比。
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公开(公告)号:CN109153907A
公开(公告)日:2019-01-04
申请号:CN201680068602.8
申请日:2016-10-17
Applicant: 三星SDI株式会社
IPC: C09K3/14 , H01L21/304 , H01L21/306
Abstract: 本发明涉及一种CMP研浆组成物及使用其研磨有机膜的方法,所述CMP研浆组成物包含:含有含铁组分的氧化剂;具有一个羧基的有机酸;以及水。
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公开(公告)号:CN107109135A
公开(公告)日:2017-08-29
申请号:CN201580073046.9
申请日:2015-10-12
Applicant: 三星SDI株式会社
IPC: C09G1/02 , H01L21/304
Abstract: 本发明涉及一种用于抛光铜线的CMP浆料组合物,CMP浆料组合物包含胶态二氧化硅、氧化剂、络合剂、腐蚀抑制剂、pH调节剂、以及超纯水。胶态二氧化硅具有72.9至88.5m2/g的比表面积(BET),并且CMP浆料组合物中包括0.1至2wt%的胶态二氧化硅。CMP浆料组合物具有优异的铜线抛光速率,具有少量的缺陷,并且最小化抛光之后的刮痕,并且可以最小化凹陷。
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公开(公告)号:CN106687553A
公开(公告)日:2017-05-17
申请号:CN201580049063.9
申请日:2015-06-10
Applicant: 三星SDI株式会社
IPC: C09K3/14 , H01L21/304
CPC classification number: C09K3/14 , C09G1/02 , C09K3/1472 , H01L21/31058
Abstract: 本发明涉及用于抛光有机膜的用于有机膜的CMP浆料组合物以及使用其的有机膜抛光方法,所述CMP浆料组合物包含:极性溶剂和/或非极性溶剂;金属氧化物研磨剂;氧化剂;和杂环化合物,其中作为杂原子的杂环化合物包含氧(O)原子、硫(S)原子和氮(N)原子中的一种或两种并且具有50‑95原子%的碳含量。
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公开(公告)号:CN105143390A
公开(公告)日:2015-12-09
申请号:CN201480021926.7
申请日:2014-04-17
Applicant: 三星SDI株式会社
IPC: C09K3/14 , H01L21/304
CPC classification number: C09G1/02 , B24B1/00 , B24B37/044 , C09G1/00 , C09G1/04 , C09G1/06 , C09K3/1454 , C09K3/1463 , C09K3/1472 , C09K13/06 , H01L21/30625 , H01L21/31058 , H01L21/3212
Abstract: 本发明涉及一种用于研磨有机膜的有机膜CMP浆料组成物,其包含至少极性溶剂或非极性溶剂以及金属氧化物研磨剂,其中所述组成物为酸性,且所述有机膜具有约50原子%至95原子%的碳含量,且本发明涉及使用其的研磨方法。
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