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公开(公告)号:CN114350263A
公开(公告)日:2022-04-15
申请号:CN202111152096.X
申请日:2021-09-29
Applicant: 三星SDI株式会社
IPC: C09G1/02 , B82Y30/00 , H01L21/321
Abstract: 本发明涉及一种用于抛光钨图案晶片的化学机械抛光浆料组合物和使用其抛光钨图案晶片的方法。化学机械抛光组合物包含溶剂和研磨剂。研磨剂包含用聚乙烯亚胺衍生的氨基硅烷改性的二氧化硅,且组合物具有4到7的pH。所述组合物可改进钨图案晶片的抛光速率和平整度,同时抑制在抛光后产生刮痕缺陷。
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公开(公告)号:CN114302930A
公开(公告)日:2022-04-08
申请号:CN202080060553.X
申请日:2020-10-28
Applicant: 三星SDI株式会社
IPC: C09G1/02 , H01L21/321
Abstract: 一种研磨钨图案晶圆的化学机械研磨(CMP)浆料组成物以及一种使用其研磨钨图案晶圆的方法。所述化学机械研磨浆料组成物包含:选自极性溶剂及非极性溶剂中的至少一者;磨蚀剂;由式1表示的化合物;及多羧酸,其中在化学机械研磨浆料组成物中,由式1表示的化合物以约0.001重量%至约2重量%的量存在,且多羧酸以约0.001重量%至约5重量%的量存在。
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公开(公告)号:CN115109519A
公开(公告)日:2022-09-27
申请号:CN202210263056.0
申请日:2022-03-17
Applicant: 三星SDI株式会社
IPC: C09G1/02 , H01L21/3213
Abstract: 本发明提供一种用于抛光钨图案晶片的化学机械抛光浆料组合物和使用其抛光钨图案晶片的方法。化学机械抛光组合物包含:溶剂;研磨剂;以及树枝状聚(酰氨基胺),含有pKa为6或小于6的末端官能团。本发明可改进凹陷特性且降低腐蚀速率,同时使钨图案晶片的抛光速率的降低最小化。
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公开(公告)号:CN113969106A
公开(公告)日:2022-01-25
申请号:CN202110829759.0
申请日:2021-07-22
Applicant: 三星SDI株式会社
Abstract: 一种用于抛光钨图案晶片的CMP浆料组合物以及使用其抛光钨图案晶片的方法。所述CMP浆料组合物包含:选自极性溶剂及非极性溶剂中的至少一种溶剂;研磨剂;以及杀生物剂,其中所述研磨剂包含用选自含两个氮原子的硅烷及含三个氮原子的硅烷中的至少一者改性的二氧化硅,并且所述杀生物剂包含式3的化合物。所述CMP浆料组合物可在抛光钨图案晶片时提高钨图案晶片的抛光速率及平整度。
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公开(公告)号:CN115710463B
公开(公告)日:2024-07-23
申请号:CN202211011094.3
申请日:2022-08-23
Applicant: 三星SDI株式会社
IPC: C09G1/02 , H01L21/3213 , H01L21/321
Abstract: 本发明公开一种用于图案化钨晶片的CMP浆料组成物和使用其的钨抛光方法。CMP浆料组成物包含:溶剂;磨料;以及非树枝状聚(酰胺基胺)。
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公开(公告)号:CN114350263B
公开(公告)日:2023-07-25
申请号:CN202111152096.X
申请日:2021-09-29
Applicant: 三星SDI株式会社
IPC: C09G1/02 , B82Y30/00 , H01L21/321
Abstract: 本发明涉及一种用于抛光钨图案晶片的化学机械抛光浆料组合物和使用其抛光钨图案晶片的方法。化学机械抛光组合物包含溶剂和研磨剂。研磨剂包含用聚乙烯亚胺衍生的氨基硅烷改性的二氧化硅,且组合物具有4到7的pH。所述组合物可改进钨图案晶片的抛光速率和平整度,同时抑制在抛光后产生刮痕缺陷。
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公开(公告)号:CN114302930B
公开(公告)日:2023-08-08
申请号:CN202080060553.X
申请日:2020-10-28
Applicant: 三星SDI株式会社
IPC: C09G1/02 , H01L21/321
Abstract: 一种研磨钨图案晶圆的化学机械研磨(CMP)浆料组成物以及一种使用其研磨钨图案晶圆的方法。所述化学机械研磨浆料组成物包含:选自极性溶剂及非极性溶剂中的至少一者;磨蚀剂;由式1表示的化合物;及多羧酸,其中在化学机械研磨浆料组成物中,由式1表示的化合物以约0.001重量%至约2重量%的量存在,且多羧酸以约0.001重量%至约5重量%的量存在。
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