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公开(公告)号：CN112953481A
公开(公告)日：2021-06-11
申请号：CN202110114019.9
申请日：2021-01-27
Applicant: 复旦大学
IPC: H03K17/567 , H03K17/081
Abstract: 本发明提供了一种GaN晶体管的驱动模块、开关电路与电子设备，包括：第一下拉晶体管与反向过冲抑制单元，所述第一下拉晶体管的第一端直接或间接连接至所述GaN晶体管的栅极，所述反向过冲抑制单元连接于所述第一下拉晶体管的第二端与地之间，所述反向过冲抑制单元还直接或间接连接至所述GaN晶体管的栅极；所述反向过冲抑制单元用于：在所述GaN晶体管的栅极电压下降时，若所述栅极电压高于指定阈值时，以第一阻抗控制所述GaN晶体管栅极电荷的释放；若所述栅极电压低于所述指定阈值时，以第二阻抗控制所述GaN晶体管栅极电荷的释放；所述第一阻抗小于所述第二阻抗。
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公开(公告)号：CN112908853A
公开(公告)日：2021-06-04
申请号：CN202110114036.2
申请日：2021-01-27
Applicant: 复旦大学 , 上海集成电路制造创新中心有限公司
IPC: H01L21/336 , H01L29/78 , H01L29/08
Abstract: 本发明提供了一种GAA晶体管及其制备方法、电子设备，其中的制备方法，包括：提供一衬底；在所述衬底上形成外延层，所述外延层包括交替层叠的牺牲层与硅层，其中，所述外延层中与所述衬底相接触的一层为底层牺牲层；刻蚀所述衬底与所述外延层，以形成鳍片；刻蚀所述鳍片中剩余的外延层，以在鳍片的第一侧与第二侧刻蚀出源极区域与漏极区域，其中，刻蚀的最终终点低于所述剩余的外延层中底层牺牲层的最高处，且不低于衬底与底层牺牲层的连接处；鳍片的第一侧与第二侧为鳍片一对相对的两侧；在所述源极区域制作源极，在所述漏极区域制作漏极。
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公开(公告)号：CN110501063B
公开(公告)日：2021-06-04
申请号：CN201910685221.X
申请日：2019-07-27
Applicant: 复旦大学
IPC: G01H9/00
Abstract: 本发明属于精密测量技术领域，具体为一种光滑表面元件高频谐振驻波振幅分布的测量方法。本发明方法步骤如下：构建偏折测量系统，将相机和投影屏幕对被测元件左右对称放置；投影显示圆斑图样，用相机测量高频振动元件反射形成的模糊特征斑；采用差分算子识别特征斑的边界，拟合得到圆斑偏斜距离；基于标定获得的系统几何参数，计算被测表面各部分的法向偏转量；最后重构积分得到驻波振幅分布。本发明的系统结构简单，灵敏度高，抗干扰能力强，可以测量元件局部区域的驻波振幅分布，对于元件振动机理与特性分析、元件谐振性能保障有重要意义。
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公开(公告)号：CN112747029A
公开(公告)日：2021-05-04
申请号：CN201911051295.4
申请日：2019-10-31
Applicant: 复旦大学
IPC: F16B47/00
Abstract: 本发明提供了一种面向超薄光学零件吸取的真空吸盘，包括：真空通路部，呈圆盘状，具有设置在内部的真空腔、设置在真空腔上表面的通过圆心且沿直径方向均匀设置的第一贯通圆孔以及在设置在真空腔下表面中心的第二贯通圆孔；橡胶吸附部，设置在真空通路部的上方，呈圆盘状，具有环形槽以及设置在环形槽下方的与第一贯通圆孔相对齐的贯通孔；以及真空发生器部，设置在真空通路部的下方，呈圆盘状，其内部设有真空发生器，上表面中心处开有与第二贯通圆孔对齐的圆孔，其中，真空发生器部、橡胶吸附部以及真空通路部之间用密封胶密封，并用螺丝和螺母旋紧固定，形成一体式结构。
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公开(公告)号：CN112113527A
公开(公告)日：2020-12-22
申请号：CN202011010510.9
申请日：2020-09-23
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于弱刚性薄形零件检测技术领域，具体涉及一种精准测量弱刚性薄形零件厚度的装置及方法。该装置包括基板，基板上设有与基板转动配合的真空回转工作台，真空回转工作台的两侧对称设有两个竖直导轨，两个竖直导轨之间设有横向导轨，横向导轨的两端分别与竖直导轨滑动连接；横向导轨上设有与横向导轨滑动连接的测量探针。本发明通过旋转真空回转工作台和调整测量探针的横向位移，对置于真空回转工作台上的弱刚性薄形零件的两个测量面对应的各个位点的坐标进行螺线式扫描检测，通过计算得到待测零件各个检测位点的厚度值，从而获取弱刚性薄形零件表面的形变信息，对弱刚性薄形零件的加工应用具有重要指导作用。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108555729B
公开(公告)日：2020-01-10
申请号：CN201711382152.2
申请日：2017-12-20
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于光学零件加工技术领域，具体为一种光学镜片小磨头光学加工中的边缘误差控制方法。具体步骤为：首先测量工件得到面形误差，对表面去除量加上合适的二次项进行调整，减小边缘加工难度；同时将抛光路径抽象为离散的采样点，根据去除函数模型计算每个采样点上的去除函数；然后利用空间变化反卷积算法求解驻留时间，最后依据抛光路径和驻留时间生成控制程序，对工件进行抛光。求解驻留时间时采用随位置而变化的去除函数，可精确控制对边缘部分的去除量；非线性的反卷积算法可以适应移变的去除函数；面形调整技术最大程度地减小了边缘误差的收敛难度。本发明对抛光系统的控制精度要求较低，因此可降低小磨头抛光成本，提高加工效率。
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公开(公告)号：CN110260817A
公开(公告)日：2019-09-20
申请号：CN201910568780.2
申请日：2019-06-27
Applicant: 复旦大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明属于精密测量技术领域，具体为一种基于虚拟标志点的复杂曲面偏折测量自定位方法。本发明方法步骤为：将被测元件口径中心点作为虚拟标志点；首先探测此中心点的高度坐标，计算实测标志点的世界坐标；根据偏折测量图像的相位信息计算实测标志点对应的投影屏像素坐标，以及实测标志点的法向量；利用反向追迹方法，迭代估算球的半径和对应球心坐标；最后得到测量点的坐标，以确定被测工件面形的横向坐标。本发明可有效计算被测面形最佳拟合球面参数，提供可靠的初始测量坐标，避免传统方法中繁琐困难的位置标定工作，对于提高偏折测量的效率与通用性有重要意义。
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公开(公告)号：CN110248179A
公开(公告)日：2019-09-17
申请号：CN201910271140.5
申请日：2019-04-04
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于精密测量技术领域，具体为一种基于光场编码的相机光瞳像差校正方法。本发明步骤为：为了克服针孔相机的光瞳像差，确定每根成像光线，采用四维函数(x,y,u,v)描述成像光场，其中(x,y)表示像点坐标，(u,v)而表示该光线在光瞳上的坐标，也即表示光线方向；采用数字微镜阵列进行二值化光瞳编码；基于压缩感知思想，利用全变分优化解出光场矩阵；计算每个像点(x,y)对应的光瞳坐标(u,v)，再结合相机标定结果，可有效地校正相机的光瞳像差，从而构建一个符合实际成像过程的相机模型。本发明可有效消除针孔成像假设造成的光瞳像差，克服单目视觉的方向歧义性，准确计算成像光线的方向；对于提高摄影测量技术的测量精度有重要意义。
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公开(公告)号：CN108051121A
公开(公告)日：2018-05-18
申请号：CN201711134653.9
申请日：2017-11-16
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明公开了一种胶合过程在线应力分析装置。其包括瞬态干涉仪、光学扩束系统、胶合单元、数据处理单元、温度控制单元、UV照明单元和应力分析单元；胶合单元经过真空除气、通过UV照明单元固化，通过温度控制单元实施检测；瞬态干涉仪、光学扩束系统和胶合单元的光轴重合，瞬态干涉仪发出的准直光经光学扩束系统扩束后，再经胶合单元反射，回到瞬态干涉仪中输出干涉图，数据处理单元处理干涉图得到干涉图视频图像，数据处理单元、温度控制单元和UV照明单元的数据同时输入到应力分析单元，得到胶合过程中应力随着固化时间、固化温度和光源强度之间的变化关系。采用本发明装置可以快速找出适合不同应用场合的胶合剂，缩短胶合时间。
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公开(公告)号：CN103646383B
公开(公告)日：2016-04-20
申请号：CN201310675839.0
申请日：2013-12-12
Applicant: 复旦大学
IPC: G06T5/00
Abstract: 本发明属于数字信号处理技术领域，具体为一种基于轮廓非局部均值的滤波方法。其将传统滤波方法中的正方形面片改为线段，并允许线段旋转和镜像，在比较线段相似性时，取其偏差最小的情况；在计算线段偏差时，各自减去其平均高度(灰度)；并将所有线段利用k-means聚类法进行分组，只对在同一聚类中的相似线段才进行加权平均；其大大提供了信息冗余度，使得算法能够更有效地去除噪音，解决了原始非局部均值去噪方法中的稀有面片效应，即在信号突变处无法有效去噪的问题；不会引入光晕假信号；减少线段比较计算次数，可将算法计算速度提高两个数量级以上。本滤波方法可广泛应用于医学、数码相机、航空、侦察、精密测量等领域的图像处理。
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