一种制备GaN衬底材料的方法

    公开(公告)号:CN107587190A

    公开(公告)日:2018-01-16

    申请号:CN201710691185.9

    申请日:2017-08-14

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 一种制备GaN衬底材料的方法,在多功能氢化物气相外延(HVPE)生长系统中,原位外延Ga2O3和GaN薄膜;先在衬底如蓝宝石或硅片上利用类HVPE方法生长氧化镓薄膜,并在氨气气氛中对氧化镓进行原位部分或全部氮化形成GaN/Ga2O3或者GaN缓冲层;然后在缓冲层上进行GaN的HVPE厚膜生长,获得高质量的GaN厚膜材料;利用化学腐蚀去掉界面层氧化镓即可获得自支撑GaN衬底材料;或者利用传统的激光剥离的方法,实现GaN厚膜与异质衬底如蓝宝石之间的分离,得到GaN自支撑衬底材料。

    AlGaN异质结纳米柱阵列发光器件及其制备方法

    公开(公告)号:CN107293625A

    公开(公告)日:2017-10-24

    申请号:CN201710464683.X

    申请日:2017-06-19

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 本发明公开了一种AlGaN异质结纳米柱阵列发光器件,其结构自下至上依次包括:一衬底;一生长在衬底上的GaN缓冲层;一生长在GaN缓冲层上的AlN插入层;一生长在AlN插入层上的AlxGa1-xN层;并刻蚀形成贯穿AlxGa1-xN层、AlN插入层,深至GaN缓冲层的纳米柱阵列;所述纳米柱阵列中,AlxGa1-xN层的直径小于AlN插入层的直径。并公开了该AlGaN异质结纳米柱阵列发光器件的制备方法。本发明利用纳米柱结构,释放异质外延薄膜中的应力,提高器件发光效率;通过改变阵列结构参数,调控光场分布,提高紫外光的抽取效率。采用优化的三层胶紫外软压印技术,可克服AlGaN外延片表面粗糙带来的缺陷,压印图形边缘平滑无锯齿,可实现大面积制备,且纳米柱阵列形状、直径大小可调,结构可转移。

    基于NFC标签的无源无线气体传感器及其制备方法

    公开(公告)号:CN106872528A

    公开(公告)日:2017-06-20

    申请号:CN201710047469.4

    申请日:2017-01-22

    Applicant: 南京大学

    CPC classification number: G01N27/023 G01N27/04 G06K19/07775 H01Q1/2225

    Abstract: 一种基于NFC标签的无源无线气体传感器,包括:NFC芯片、与所述NFC芯片两端相连的谐振天线、集成于所述NFC谐振天线上的气敏薄膜、以及用于读取气体浓度信息的NFC设备;所述NFC芯片的工作频段为HF频段,聚苯胺及其与金属氧化物的复合物构成气敏薄膜。所述气敏薄膜集成于所述NFC标签的方式为:串联方式,所述气敏薄膜为所述NFC谐振天线的串联的一部分;或气敏薄膜与NFC谐振天线的连接形式为并联时,所述气敏薄膜涂覆于所述NFC谐振天线相邻线圈之间。

    一种实现硅表面结构平滑的方法与设备

    公开(公告)号:CN103065956B

    公开(公告)日:2015-02-25

    申请号:CN201210579182.3

    申请日:2012-12-27

    Applicant: 南京大学

    Abstract: 一种实现硅表面结构平滑的方法,步骤如下:通过红外光加热的方式控制硅或锗材料温度以及加热和冷却的时间;基于高真空或超高真空的石英腔体中引入氢气气氛加热,在加热过程中加入氩气,氦气或氪气等抑制表面的过迁移现象,在温度开始下降即600℃-1000℃时通过氮气终结硅表面的迁移,或者继续加入氩气或二氧化碳等抑制硅原子的迁移,然后在后期降温即从800℃到室温的过程中引入高纯氧气;通入氧气形成一层致密的氧化硅薄膜作为保护层材料的表面结构。本发明平滑方法同样可以改善光栅等各类表面结构。该平滑方法要求的周期短,工艺要求价格低廉,可以实现量产,并有效实现硅原子表面的平滑。

    Ge基三栅器件及制造方法

    公开(公告)号:CN103219381A

    公开(公告)日:2013-07-24

    申请号:CN201310015376.5

    申请日:2013-01-16

    Abstract: 本发明提供一种锗基三栅器件及其制造方法,该锗基三栅器件主要包括四个功能层:绝缘层上的锗(GOI)基底、氧化锗过渡层、栅极介质层、栅电极层。其中经过臭氧后氧化工艺实现的高质量超薄氧化锗过渡层和经过臭氧后氧化改善的高质量栅极介质层是实现高性能的关键层,通过牺牲氧化工艺去除锗体表面质量较差(表面粗糙度大、杂质含量高)的锗是实现高性能的关键步骤。制造过程主要包括在绝缘层上的锗(GOI)基底上沉积并刻蚀制作各功能层。本发明具有较高的效率和较低的耗电量,且制造方法简单,适于广泛应用到实际生产中。

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