一种无碲存储材料、制备方法及应用

    公开(公告)号:CN101049934A

    公开(公告)日:2007-10-10

    申请号:CN200710040302.1

    申请日:2007-04-29

    Abstract: 本发明涉及了一种无碲存储材料、制备方法及应用。其特征在于所述的存储材料为硅-锑混合物,组成通式为SixSb100-x,0<x<90,优先推荐组成为5≤x≤70。所述的材料在外部能量作用下为电驱动、激光脉冲驱动或电子束驱动。通过调整这种材料中两种元素的组份,可以得到具有不同结晶温度、熔点和结晶激活能的存储材料。所提供的材料体系具备如下优点:较好的可调性、较强的数据保持能力、较简单的成份和制备工艺、对半导体设备没有污染、较好的可加工性、环境友好性等,具有广阔的应用前景。硅-锑合金材料是用于存储器的理想存储介质。

    一种绝缘层上硅结构的制备方法

    公开(公告)号:CN1315155C

    公开(公告)日:2007-05-09

    申请号:CN200410017080.8

    申请日:2004-03-19

    Abstract: 本发明涉及一种绝缘体上硅结构的制备方法属于微电子技术领域。其特征在于先后通过Al薄膜沉积、键合、离子注入,结合热处理等技术来制备以氮化铝或氧化铝或AlN、Al2O3、Si3N4或SiO2中两种或多种复合层为埋层的SOI结构衬底材料,即先在硅片表面淀积Al薄膜,然后通过键合技术实现层转移,最后经N或O离子注入形成所需埋层材料。所制备的绝缘层上硅结构由三层构成,顶层为单晶硅层,厚度为20-2000nm,中间是绝缘埋层,厚度为50-500nm,底层为硅衬底。得到的SOI衬底材料具有良好的热传导性能,适合高温、大功率或辐照环境下的SOI电路的需要。

    一种双栅金属氧化物半导体晶体管的结构及其制备方法

    公开(公告)号:CN1610127A

    公开(公告)日:2005-04-27

    申请号:CN200410067219.X

    申请日:2004-10-15

    Abstract: 本发明提供一种双栅金属氧化物半导体晶体管的结构及其制备方法,其结构包括底部栅电极、底部栅介质层、顶部栅电极、顶部栅介质层、源区、漏区以及沟道区,其中底栅比顶栅宽,沟道区为单晶半导体薄膜。本发明的双栅金属氧化物半导体晶体管结构,较长的底栅用于克服短沟道效应,而尽量小的顶栅目的是为了提高速度,有源区制备在大面积高质量单晶半导体薄膜上,可提高速度,降低功耗。该双栅结构的制备方法是,在制备好底栅(包括栅电极和栅介质层)之后将单晶半导体薄膜转移至底栅上部,在高质量的单晶半导体薄膜上制备晶体管的有源区,然后制备顶部栅介质层和栅电极,形成高性能的双栅金属氧化物半导体晶体管。

    一种三维多层平面互补金属氧化物半导体器件结构及其制备方法

    公开(公告)号:CN1610114A

    公开(公告)日:2005-04-27

    申请号:CN200410067220.2

    申请日:2004-10-15

    Abstract: 本发明涉及一种三维互补金属氧化物半导体器件(CMOS)结构及其制备方法。结构上特征是PMOS和NMOS处在不同的平面上,但在同一平面上仍是传统的平面MOS晶体管,是一种CMOS结构。先在体硅或SOI衬底上制备PMOS或NMOS,然后利用化学机械抛光、低温键合和低温剥离工艺在器件层上制备另一层SOI结构,在第二层的SOI结构上制备NMOS或PMOS。如此反复,形成多层MOS结构。NMOS与PMOS之间用层间连线相联,形成三维CMOS结构。采用常规的MOS工艺实现高密度器件集成,工艺方法简单,在同样CMOS数量的情况下,可减少光刻次数,减小器件单元面积,并可以减少金属互联线的数目,提高器件的速度。

    三维互补金属氧化物半导体晶体管结构及其制备方法

    公开(公告)号:CN1588642A

    公开(公告)日:2005-03-02

    申请号:CN200410067218.5

    申请日:2004-10-15

    Abstract: 本发明提供一种高速三维互补金属氧化物半导体晶体管(CMOS)的结构及其制备方法,其特征在于pMOS制备在大面积高质量单晶硅(110)面上,nMOS制备在大面积高质量单晶硅(100)面上,且pMOS和nMOS分开在不同层上。其制作方法是在(100)面上形成nMOS并覆盖上绝缘层后,将表面为(110)面的单晶硅薄膜转移到绝缘层上,在(110)面上制备pMOS,连线形成高速的CMOS结构;也可以在(110)面上形成pMOS并覆盖上绝缘层后,将表面为(100)面的单晶硅薄膜转移到绝缘层上,在(100)面上制备nMOS。本发明提供的金属氧化物半导体晶体管结构及其制备方法,可以获得高迁移率、高集成度和低成本。

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