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公开(公告)号：CN105424730B
公开(公告)日：2018-07-17
申请号：CN201510593545.2
申请日：2015-09-17
Applicant: 三菱电机株式会社
IPC: G01N23/02
CPC classification number: B07C5/346 , B07C5/3416 , G01N23/087
Abstract: 本发明涉及树脂片的挑选方法以及树脂片的挑选装置。该挑选方法具备：X射线检查工序，对树脂片照射包括能量范围不同的第一X射线和第二X射线的X射线，测定透射了树脂片的第一X射线的强度即第一透射强度、和透射了树脂片的第二X射线的强度即第二透射强度；第一判定工序，使用第一透射强度，判定树脂片是否为有用的树脂片的候选；第二判定工序，对于被第一判定工序判定为有用的树脂片的候选的树脂片，使用根据第一透射强度和第二透射强度所得到的差分值，判定是否为有用的树脂片；以及收集工序，收集根据第二判定工序的判定结果被判定为有用的树脂片。
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公开(公告)号：CN106491147A
公开(公告)日：2017-03-15
申请号：CN201610801690.X
申请日：2016-09-05
Applicant: 通用电气公司
IPC: A61B6/00
CPC classification number: A61B6/482 , A61B6/405 , A61B6/4208 , A61B6/4233 , A61B6/542 , G01N23/044 , G01N23/087 , G01N2223/423 , H01L27/14641 , H01L27/14658 , A61B6/40 , A61B6/42 , A61B6/50 , A61B6/504 , A61B6/505 , A61B6/5264
Abstract: 一些实施例与X射线源关联，X射线源配置成生成被引导朝向对象的X射线，其中X射线源要执行下列操作：(i)生成第一能量X射线脉冲，(ii)切换以生成第二能量X射线脉冲，以及(iii)切换回以生成另一个第一能量X射线脉冲。检测器可与多个图像像素关联，并且对于各像素检测器包括：X射线敏感元件，用于接收X射线；第一存储元件及关联开关，用于捕获与第一能量X射线脉冲关联的信息；以及第二存储元件及关联开关，用于捕获与第二能量X射线脉冲关联的信息。控制器可同步X射线源和检测器。
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公开(公告)号：CN102187206B
公开(公告)日：2015-10-14
申请号：CN200980141603.0
申请日：2009-09-08
Applicant: 技术资源有限公司
Inventor： 安德烈·加布里埃尔·皮得考克 , 罗宾·格林伍德-史密斯 , 特雷弗·霍伊尔
CPC classification number: G01N23/087 , G01N33/22
Abstract: 本发明公开了一种用于分析包含组分的材料的颗粒的方法。该方法包括下列步骤：将材料颗粒暴露于具有一定范围内的x-辐射能量的x辐射，检测透射穿过所述颗粒的两个不同能级的x-辐射强度，以及根据检测出的强度确定组分的浓度。
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公开(公告)号：CN103069305B
公开(公告)日：2015-10-07
申请号：CN201180040433.4
申请日：2011-06-28
Applicant: 法国原子能及替代能源委员会
IPC: G01V5/00 , G01N23/087
CPC classification number: G06F17/18 , G01N23/087 , G01T1/366 , G01T7/005
Abstract: 披露了一种用于利用X-射线识别材料的装置的校准方法，包括：a）确定至少一种校准材料以及，对于每种校准材料，至少一个该材料的校准厚度，b）对于每种校准材料以及对于每个选定的校准厚度，测量X辐射的衰减或透射系数，c）由所述系数计算统计参数，d）对于每种校准材料以及对于每个校准厚度，确定或计算存在概率分布规律作为所述统计参数的函数。
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公开(公告)号：CN102088907B
公开(公告)日：2013-03-27
申请号：CN200980126238.6
申请日：2009-06-22
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: A61B6/00
CPC classification number: G01N23/087 , A61B5/4869 , A61B6/032 , A61B6/4241 , A61B6/481 , A61B6/482
Abstract: 一种成像系统，包括发射穿过检查区域的多色辐射的辐射源(110)，以及探测穿过所述检查区域的辐射并产生指示探测的光子的能量的信号的探测器(116)。所述系统还包括能量鉴别器(122)，其基于多个不同能量阈值能量分辨所述信号，其中，所述能量阈值中的至少两个具有与置于所述检查区域内的混合物中的两种不同元素的至少两个不同K边缘能量对应的值。所述系统还包括信号分解器(132)，其将经能量分辨的信号分解为代表至少两个不同K边缘能量的至少多K边缘成分。在一个例子中，造影剂中两种不同元素的化学计量比已知并且基本恒定。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101796400B
公开(公告)日：2012-08-29
申请号：CN200880105770.5
申请日：2008-08-01
Applicant: 史密斯海曼有限公司
Inventor： U·西登博格
IPC: G01N23/087
CPC classification number: G01N23/087
Abstract: 一种用于改善X射线检查设备中的物质可识别度的方法，具有以下方法步骤：以不同的能量拍摄待检查对象的至少两幅吸收X射线图像，在假定每一层具有具体物质的情况下通过多个层来对该对象进行数学建模，其中吸收值描述了每一层的吸收能力，层的数量小于或等于X射线图像的数量，而且对于至少一层来说假定一种要在检查时识别的物质，将每层的吸收值分为去路径有关的因子和与能量有关的因子，借助吸收等式根据所述吸收X射线图像来计算所有层的与路径有关的因子，根据所有层的与权重因子相乘的吸收值之和来计算至少一幅合成图像，分析该合成图像。
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公开(公告)号：CN102472649A
公开(公告)日：2012-05-23
申请号：CN200980160339.5
申请日：2009-07-07
Applicant: 西门子公司
Inventor： S.A.波利克霍夫
CPC classification number: G01F1/74 , G01F1/704 , G01N23/04 , G01N23/087 , G01N23/12 , G01N2223/423 , G01N2223/635 , G01N2223/637
Abstract: 本发明提供了用于测量多相流体混合物的流速的设备和方法。所提出的设备（1）包括：辐射装置（2）、检测装置（3）、以及分析装置（3）。辐射装置（2）生成光子束（11,12），以在空间上在混合物的流的区段（19）之上照射所述混合物。检测装置（3）在空间上被配置成以不同时间间隔接收从混合物的流的该区段（19）发出的光子，并且提供针对每个所述时间间隔的所接收的光子的空间分布的图像。分析装置（4）基于所接收的光子的空间分布的图像的时间序列，确定所述混合物的一个或多个相的流速。
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公开(公告)号：CN102088907A
公开(公告)日：2011-06-08
申请号：CN200980126238.6
申请日：2009-06-22
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: A61B6/00
CPC classification number: G01N23/087 , A61B5/4869 , A61B6/032 , A61B6/4241 , A61B6/481 , A61B6/482
Abstract: 一种成像系统，包括发射穿过检查区域的多色辐射的辐射源(110)，以及探测穿过所述检查区域的辐射并产生指示探测的光子的能量的信号的探测器(116)。所述系统还包括能量鉴别器(122)，其基于多个不同能量阈值能量分辨所述信号，其中，所述能量阈值中的至少两个具有与置于所述检查区域内的混合物中的两种不同元素的至少两个不同K边缘能量对应的值。所述系统还包括信号分解器(132)，其将经能量分辨的信号分解为代表至少两个不同K边缘能量的至少多K边缘成分。在一个例子中，造影剂中两种不同元素的化学计量比已知并且基本恒定。
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公开(公告)号：CN101435783B
公开(公告)日：2011-01-26
申请号：CN200710177405.2
申请日：2007-11-15
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/04 , G01N23/087 , G01N23/10
CPC classification number: G01N23/04 , G01N23/087 , G01N2223/423
Abstract: 公开了一种物质识别方法和设备，该方法包括步骤：用高能射线和低能射线透射被检物体，以获得被检物体的高能透射图像和低能透射图像，所述高能图像中的每个像素的值表示高能射线对被检物体的相应部分的高能透明度，而所述低能图像中每个像素的值表示低能射线对被检物体的相应部分的低能透明度；针对每个像素，计算所述高能透明度的第一函数的值和所述高能透明度和所述低能透明度的第二函数的值；以及通过利用预先创建的分类曲线对由所述第一函数的值和所述第二函数的值所确定的位置进行分类来识别被检物体中与每个像素所对应的那部分的物质的类型。利用本发明，不仅能够获得被检查物体的透射图像，而且能够获得被检查物体中的材料信息。
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公开(公告)号：CN101796400A
公开(公告)日：2010-08-04
申请号：CN200880105770.5
申请日：2008-08-01
Applicant: 史密斯海曼有限公司
Inventor： U·西登博格
CPC classification number: G01N23/087
Abstract: 一种用于改善X射线检查设备中的物质可识别度的方法，具有以下方法步骤：以不同的能量拍摄待检查对象的至少两幅吸收X射线图像，在假定每一层具有具体物质的情况下通过多个层来对该对象进行数学建模，其中吸收值描述了每一层的吸收能力，层的数量小于或等于X射线图像的数量，而且对于至少一层来说假定一种要在检查时识别的物质，将每层的吸收值分为去路径有关的因子和与能量有关的因子，借助吸收等式根据所述吸收X射线图像来计算所有层的与路径有关的因子，根据所有层的与权重因子相乘的吸收值之和来计算至少一幅合成图像，分析该合成图像。
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