由多能量X-射线识别材料的方法
Abstract:
披露了一种用于利用X-射线识别材料的装置的校准方法,包括:a)确定至少一种校准材料以及,对于每种校准材料,至少一个该材料的校准厚度,b)对于每种校准材料以及对于每个选定的校准厚度,测量X辐射的衰减或透射系数,c)由所述系数计算统计参数,d)对于每种校准材料以及对于每个校准厚度,确定或计算存在概率分布规律作为所述统计参数的函数。
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