Invention Grant
- Patent Title: 用于分析材料的方法和设备
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Application No.: CN200980141603.0Application Date: 2009-09-08
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Publication No.: CN102187206BPublication Date: 2015-10-14
- Inventor: 安德烈·加布里埃尔·皮得考克 , 罗宾·格林伍德-史密斯 , 特雷弗·霍伊尔
- Applicant: 技术资源有限公司
- Applicant Address: 澳大利亚维多利亚
- Assignee: 技术资源有限公司
- Current Assignee: 技术资源有限公司
- Current Assignee Address: 澳大利亚维多利亚
- Agency: 中原信达知识产权代理有限责任公司
- Agent 关兆辉; 谢丽娜
- Priority: 2008904660 2008.09.08 AU
- International Application: PCT/AU2009/001179 2009.09.08
- International Announcement: WO2010/025528 EN 2010.03.11
- Date entered country: 2011-04-19
- Main IPC: G01N23/00
- IPC: G01N23/00 ; G01N23/06
Abstract:
本发明公开了一种用于分析包含组分的材料的颗粒的方法。该方法包括下列步骤：将材料颗粒暴露于具有一定范围内的x-辐射能量的x辐射，检测透射穿过所述颗粒的两个不同能级的x-辐射强度，以及根据检测出的强度确定组分的浓度。
Public/Granted literature
- CN102187206A 用于分析材料的方法和设备 Public/Granted day:2011-09-14
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