一种基于多质量参数的封装引线键合工艺参数优化方法

    公开(公告)号:CN114912342B

    公开(公告)日:2024-07-12

    申请号:CN202210312686.2

    申请日:2022-03-28

    Abstract: 本发明公开了一种基于多质量参数的封装引线键合工艺参数优化方法,先获取与引线键合质量参数相关的工艺参数和每个工艺参数的取值范围,随机组合工艺参数,通过实验和仿真收集不同工艺参数条件下的引线键合的质量参数,生成数据集,基于神经网络进行训练;结合质量参数预测模型生成目标函数,设置初始参数集合并导入质量参数预测模型,得到相应的质量参数的实时预测值;将新的工艺参数集合导入质量参数预测模型,得到满足设计要求的质量参数。本发明利用贝叶斯优化算法,自动简单地优化引线键合的工艺参数,使得最终优化过后的工艺参数的质量参数能够达到目标值,从而降低人力、物力耗费,具有成本低,速度快,精度高等优势。

    一种基于多质量参数的封装引线键合工艺参数优化方法

    公开(公告)号:CN114912342A

    公开(公告)日:2022-08-16

    申请号:CN202210312686.2

    申请日:2022-03-28

    Abstract: 本发明公开了一种基于多质量参数的封装引线键合工艺参数优化方法,先获取与引线键合质量参数相关的工艺参数和每个工艺参数的取值范围,随机组合工艺参数,通过实验和仿真收集不同工艺参数条件下的引线键合的质量参数,生成数据集,基于神经网络进行训练;结合质量参数预测模型生成目标函数,设置初始参数集合并导入质量参数预测模型,得到相应的质量参数的实时预测值;将新的工艺参数集合导入质量参数预测模型,得到满足设计要求的质量参数。本发明利用贝叶斯优化算法,自动简单地优化引线键合的工艺参数,使得最终优化过后的工艺参数的质量参数能够达到目标值,从而降低人力、物力耗费,具有成本低,速度快,精度高等优势。

    一种基于图神经网络特征提取的智能化可测性设计方法

    公开(公告)号:CN116562207A

    公开(公告)日:2023-08-08

    申请号:CN202310359471.0

    申请日:2023-03-31

    Abstract: 本发明公开了一种基于图神经网络特征提取的智能化可测性设计方法,如下步骤:S1,读入待设计的网表文件,插入扫描链,收集运行结果;S2,利用计算机编程语言对插入扫描链的电路网表文件进行处理,读入处理后的电路网表文件,将电路转换为所需的图结构,构建基于图神经网络的图表示;S3,将生成的图表示加载到XGBoost模型中学习训练和预测;根据需求,得到测试覆盖率、测试周期、逻辑翻转和面积占比的单目标预测结果;对四个单目标预测结果误差值做归一化处理后,进行加权求和,预测最优的扫描测试参数配置。本发明能实现在高测试覆盖率的同时,又能维持测试周期、功率消耗、面积占比的平衡。

    一种基于CDCL算法和计算机代数的逻辑等价性验证方法

    公开(公告)号:CN116306478A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202310254694.0

    申请日:2023-03-16

    Abstract: 本发明公开了一种基于CDCL算法和计算机代数的逻辑等价性验证方法,包括步骤如下:S1,读入反向图文件,以内部编码的形式存储在软件中,运用计算机代数,将原电路中的加法器进行替换;S2,将待验证的两个电路的每一级输出通过异或门相连,连接为一个电路,以布尔可满足性问题文件输出;S3,读入布尔可满足性问题文件输出,运用CDCL算法对布尔可满足性问题文件进行求解。本发明的求解器求解前替换了部分加法器,使得电路复杂度降低,求解乘法器电路的等价性问题所需时间更短,内存开销更小。

    一种自检测3D DFT测试架构
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116136812A

    公开(公告)日:2023-05-19

    申请号:CN202310150163.7

    申请日:2023-02-22

    Abstract: 本发明公开了一种自检测3D DFT测试架构,该架构基于IEEE1687标准,其中配置有基于IEEE 1149.1经典JTAG仪器及接口、芯片检测器、若干个待检测芯片,JTAG接口作为测试访问接口,芯片检测器包括上芯片检测器和下芯片检测器,若干个芯片共用控制信号TRST、TCK与TMS,输入及输出数据信号TDI与TDO串行连接并通过3D电路形成菊花链;通过引入自动芯片检测机制,控制3D堆叠中的JTAG路径以允许优化整体3D测试架构,使其可用于所有堆叠级别,无需配置步骤,即可大幅减少测试时间,芯片检测器的使用解决了经典3D测试架构的一些限制,特别是通过指令寄存器避免多路复用器的配置步骤;该架构中多芯片共用控制信号并串行形成菊花链,增加了芯片测试覆盖率,整体架构成本低、面积开销小。

    一种基于改进有限差分法的二维电容提取方法

    公开(公告)号:CN114611455A

    公开(公告)日:2022-06-10

    申请号:CN202210265663.0

    申请日:2022-03-17

    Abstract: 本发明公开一种基于改进有限差分法的二维电容提取方法,以解决现有技术在求解精度和运行时间两个方面折中的问题,属于计算、推算或计数的技术领域。首先,输入求解区域和导体的几何信息,利用最短步长、倍增因子、导体周围均匀划分的宽度对求解区域进行非均匀网格划分;然后,将格点相对坐标哈希映射为待求电势向量,对未知电势进行基于差值法的拟合,将拉普拉斯方程转换为矩阵方程Ax=b后,求解得到每个格点处电势;最后,根据高斯定理对导体周围格点的电势进行积分获取电荷Q,输出主导体的单位长度总电容、主导体和相邻导体之间的单位长度耦和电容。通过对网格进行非均匀划分构建FDM的不对称系数矩阵,提高求解精度并减少运行时间。

    动态视角体育赛事场况俯瞰图实时生成方法

    公开(公告)号:CN118154728A

    公开(公告)日:2024-06-07

    申请号:CN202410587345.5

    申请日:2024-05-13

    Abstract: 本发明属于计算机视觉和图像处理领域,公开了一种动态视角体育赛事场况俯瞰图实时生成方法,通过摄像头捕捉实时场景,利用灰度化处理识别直线,以确定场地内关键点的位置,再利用维度变换算法将原图中的场景映射到俯瞰图中,通过初步筛选矩形和寻找误差最小矩形,根据重匹配识别策略获取最优的矩形坐标,从而得到维度变换矩阵,利用其对整个图像进行变换,生成最终的俯瞰图。本方法将通过对每一帧图像进行维度变化,从而实时生成动态视角俯视图,最终可以实现在体育赛事的实时俯瞰图生成,帮助使用者更好地掌握场况,帮助使用者更好了解场上形势变化,为使用者观看和分析体育赛事实时情况提供了便利。

    基于决策协商算法的多实例化分块布图下的顶层布线方法

    公开(公告)号:CN116467997A

    公开(公告)日:2023-07-21

    申请号:CN202310520554.3

    申请日:2023-05-10

    Abstract: 本发明公开基于决策协商算法的多实例化分块布图下的顶层布线方法,有效解决多实例化分块布线难以布通、用时过长、路径过长等问题,属于计算、推算或计数的技术领域。本发明提出一种非均匀划分网格形式拟定备选点集,确定端点间布线的可选通道;通过决策提取和决策评价算法处理多实例化产生的路径冗余和短路问题,在候选决策集上通过改进BFS算法确定可行解,在可行解中循环进行决策评价,淘汰低分决策,确定曼哈顿路径最短的最优解。通过实验分析证明本发明所提方法在合理时间范围内可以解决多实例化模块的顶层布线问题,在路径长度方面得到了较优解。

Patent Agency Ranking