一种晶体振荡器动态相位噪声测试夹具

    公开(公告)号:CN112649680B

    公开(公告)日:2023-03-21

    申请号:CN202011558279.7

    申请日:2020-12-25

    Abstract: 本发明公开了一种晶体振荡器动态相位噪声测试夹具,该测试夹具包括壳体和装在壳体内的振动测试电路板,壳体上设有安装被测晶体振荡器的凹槽,凹槽底部设有与振动测度电路板连通的通孔,振动测试电路板上固定有插装被测晶体振荡器上引脚的插孔,插孔内设有与被测晶体振荡器上引脚固定相接的插针,振动测试电路板上还连接有伸出壳体的电源线和测试电缆线。本发明通过增加振动测试电路板,将电源线、测试电缆线与电路板相连,而非直接与被测晶体振荡器连接,连接更为稳固可靠,减少了线缆软连接引入的噪声干扰,提升了测试可靠性。

    一种用于石英谐振器的测试电路及测试装置

    公开(公告)号:CN109239568B

    公开(公告)日:2020-12-22

    申请号:CN201811220647.X

    申请日:2018-10-19

    Abstract: 本发明公开一种用于石英谐振器的测试电路及测试装置,所述电路包括:可接入石英谐振器参数测试夹具的第一信号端和第二信号端,频率调节模块、频率展宽网络模块、压控或电调网络模块以及抑制网络模块,待测石英谐振器连接在所述频率调节模块和所述频率展宽网络模块之间。本发明通过将晶体振荡器振荡回路中的实际元件串联在石英谐振器支路中,达到真实模拟石英谐振器负载情况的目的,拓展了商用石英谐振器测试装置中的负载种类,可提高判断石英谐振器是否适用的准确性,并且,本发明的电路可以通过短接等手段使得部分元件失效,从而可以模拟不同的真实环境,进而具有更广的适用性,最后本发明的装置简便易操作,准确性高,具有较强的实用性。

    一种用于石英谐振器的测试电路及测试装置

    公开(公告)号:CN109239568A

    公开(公告)日:2019-01-18

    申请号:CN201811220647.X

    申请日:2018-10-19

    CPC classification number: G01R31/2607

    Abstract: 本发明公开一种用于石英谐振器的测试电路及测试装置,所述电路包括:可接入石英谐振器参数测试夹具的第一信号端和第二信号端,频率调节模块、频率展宽网络模块、压控或电调网络模块以及抑制网络模块,待测石英谐振器连接在所述频率调节模块和所述频率展宽网络模块之间。本发明通过将晶体振荡器振荡回路中的实际元件串联在石英谐振器支路中,达到真实模拟石英谐振器负载情况的目的,拓展了商用石英谐振器测试装置中的负载种类,可提高判断石英谐振器是否适用的准确性,并且,本发明的电路可以通过短接等手段使得部分元件失效,从而可以模拟不同的真实环境,进而具有更广的适用性,最后本发明的装置简便易操作,准确性高,具有较强的实用性。

    一种表贴晶振电性能调试装置及方法

    公开(公告)号:CN116581045A

    公开(公告)日:2023-08-11

    申请号:CN202310484086.9

    申请日:2023-04-28

    Abstract: 本申请公开了一种表贴晶振电性能调试装置及方法,解决了现有技术中需反复取放调试结构的问题。本申请实施例提供一种表贴晶振电性能调试装置,包含测试电路板、压板、调节限位结构、固定座和第一软性导电材料。所述固定座固定设置在测试电路板上,固定座上开有柱状的贯通腔。所述压板可拆卸的固定设置在固定座上。所述贯通腔的两端分别正对测试电路板和压板。所述第一软性导电材料设置在贯通腔内。所述调节限位结构,用于限位压板远离固定座。本申请操作方便,连接可靠,抗干扰能力强,简单改造后就可成为电路板和底座以及晶振的测试和筛选装置,具有较强实用性。

    一种晶体振荡器电性能测试系统

    公开(公告)号:CN108957282B

    公开(公告)日:2021-09-10

    申请号:CN201811172710.7

    申请日:2018-10-09

    Abstract: 本申请实施例中提供了一种晶体振荡器电性能测试系统,该系统包括:第一电源接口,用于接入测试电源;第二电源接口,用于接入加电预热电源;多个通断切换模块,基于第一外部控制信号,连接或断开待测试晶体振荡器;选择测试模块,选择待测试晶体振荡器,并对其进行测试项目匹配;多个匹配接口,用于与外部测试仪器连接,并根据所述测试项目匹配与外部测试仪器进行信号传输。本方案通过采用计算机自动控制和多通道良好隔离的方式,实现了多种晶体振荡器的多性能参数的批量测试,并且可方便的进行测试设备及测试晶体振荡器数量的扩展,有效降低了人工操作的复杂度,提高了测试精度和测试效率。

    一种晶体振荡器动态相位噪声测试夹具

    公开(公告)号:CN112649680A

    公开(公告)日:2021-04-13

    申请号:CN202011558279.7

    申请日:2020-12-25

    Abstract: 本发明公开了一种晶体振荡器动态相位噪声测试夹具,该测试夹具包括壳体和装在壳体内的振动测试电路板,壳体上设有安装被测晶体振荡器的凹槽,凹槽底部设有与振动测度电路板连通的通孔,振动测试电路板上固定有插装被测晶体振荡器上引脚的插孔,插孔内设有与被测晶体振荡器上引脚固定相接的插针,振动测试电路板上还连接有伸出壳体的电源线和测试电缆线。本发明通过增加振动测试电路板,将电源线、测试电缆线与电路板相连,而非直接与被测晶体振荡器连接,连接更为稳固可靠,减少了线缆软连接引入的噪声干扰,提升了测试可靠性。

    一种压控温度补偿晶体振荡器

    公开(公告)号:CN106374836B

    公开(公告)日:2023-07-28

    申请号:CN201610900492.9

    申请日:2016-10-14

    Inventor: 陈瑞 杨科 韩艳菊

    Abstract: 本申请公开了一种压控温度补偿晶体振荡器,解决调节振荡器频率稳定度和调制灵敏度问题。所述压控温度补偿晶体振荡器包括放大器电路和振荡支路,振荡支路包含晶体、可调电容电路和可调电感电路;可调电容电路、可调电感电路和晶体互相串联;可调电容电路中包含第一变容二极管,用于改变所述可调电容电路的等效电容,第一变容二极管的两极接第一控制电压;可调电感电路中包含第二变容二极管,用于改变所述可调电感电路的等效电感,第二变容二极管的两极接第二控制电压。本发明补偿电路和压控电路分开,调试过程干扰小,实现简单方便;在保证晶体振荡器获得足够大的压控灵敏度的同时实现较高的频率‑温度稳定度,电路可靠性高,实用性强。

    一种晶体振荡器模式抑制电路

    公开(公告)号:CN108923751B

    公开(公告)日:2022-07-08

    申请号:CN201810947828.6

    申请日:2018-08-20

    Inventor: 韩艳菊 杨科

    Abstract: 本发明公开一种晶体振荡器模式抑制电路,包括:电源端、第一节点、第二节点、晶体、第一振荡电容、第二振荡电容、抑制回路以及放大元件。本发明提供一种晶体振荡器模式抑制电路,仅通过调节电感L1和电容C1,使其谐振在SC切晶体所需泛音次数的C模频率处或附近,就可以起到抑制B模和其它泛音频率的作用,调试简单。仅利用振幅条件进行模式抑制,对振荡相位条件影响小,调试方便,参数耦合小,振荡调谐回路中的振荡电容C2和C3可以根据起振条件,以及增大晶体有载Q值等要求独立调节,可有效提高振荡频率稳定度和振荡信号质量,电路环境适应性强,可靠性高。

    一种同轴连接器插座
    9.
    发明授权

    公开(公告)号:CN108054525B

    公开(公告)日:2021-10-22

    申请号:CN201711164292.2

    申请日:2017-11-21

    Abstract: 本申请公开了一种同轴连接器插座,解决现有微带座连接器的密封问题。包含外导体、内导体、第一绝缘部件,还包含第二绝缘部件,所述第二绝缘部件的材料为玻璃;所述第二绝缘部件位于所述内导体和所述外导体之间,一端位于所述同轴连接器插座内部,另一端与所述外导体边缘一致。所述内导体包括两部分,焊接部为可伐合金材料,一端位于所述同轴连接器插座内部,另一端延伸到所述外导体边缘外部;插接部为铍青铜材料,一端用于连接插针连接器,一端和焊接部配合。所述外导体还包含用于搭接在印制板的接触角。

    一种晶体振荡器测试装置及测试方法

    公开(公告)号:CN110954757A

    公开(公告)日:2020-04-03

    申请号:CN201911368418.7

    申请日:2019-12-26

    Abstract: 本发明公开了一种晶体振荡器测试装置及测试方法,该装置包括振动测试台,还包括夹具和至少一个印刷电路板,所述夹具固定在所述振动测试台上,所述印刷电路板固定在所述夹具上,所述印刷电路板用于刚性电连接至少一个被测晶体振荡器。本发明通过设计可同时固定至少一个的被测晶体振荡器的夹具,以实现至少一个的被测晶体振荡器的同时测试;本发明还通过对被测晶体振荡器的四周进行固定的技术方案,以实现无需拆卸该测试装置而达到实时多次调测的目的。本发明可有效提高测试效率,降低了在振动测试时的外界噪声干扰,提高晶体振荡器测试的准确性,确保振动下被测晶体振荡器相位噪声指标的真实性。

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