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公开(公告)号：CN119063880B
公开(公告)日：2025-04-11
申请号：CN202411164943.8
申请日：2024-08-23
Applicant: 北京市计量检测科学研究院
Abstract: 本发明涉及状态检测分析的技术领域，具体为热量表状态检测分析系统，包括，数据采集模块，数据处理模块以及数据校准分析模块，所述数据采集模块，用于采集热量表相关数据，并将采集结果发送至数据处理模块；所述数据处理模块，用于对数据采集模块采集的数据进行数据处理，同时将处理结果发送至数据校准分析模块；所述数据校准分析模块，用于对数据处理模块的处理结果实现数据的校准以及热量表的状态分析；本发明通过利用修正系数进行动态修正，增加的数据修正的应用场景；通过引入异步并发校准规则，提高的数据处理速度，通过设定的准确度等级，提高了数据匹配精度，增加了对热量表状态分析的维度。
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公开(公告)号：CN119573918A
公开(公告)日：2025-03-07
申请号：CN202510140595.9
申请日：2025-02-08
Applicant: 北京市计量检测科学研究院
Abstract: 本发明涉及温度测量技术领域，提供了一种水平温场的测量方法与装置。该方法包括：根据待测石墨烯所采用的目标制备方法，选取与所述目标制备方法对应的基础导热率；获取所述待测石墨烯的实际密度和实际碳氢比；根据所述待测石墨烯的实际密度和实际碳氢比，确定导热率修正值；利用所述导热率修正值，对与所述目标制备方法对应的基础导热率进行修正，以得到所述待测石墨烯的修正导热率；通过所述修正导热率推算所述待测石墨烯的水平温场。因此该方法只需获取目标制备方法以及待测石墨烯的实际密度和实际碳氢比，即可最终推算待测石墨烯的水平温场，相对于目前通过特定测量设备测量石墨烯水平温场的方式，效率更高，并且也能够降低成本。
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公开(公告)号：CN119573918B
公开(公告)日：2025-04-08
申请号：CN202510140595.9
申请日：2025-02-08
Applicant: 北京市计量检测科学研究院
Abstract: 本发明涉及温度测量技术领域，提供了一种水平温场的测量方法与装置。该方法包括：根据待测石墨烯所采用的目标制备方法，选取与所述目标制备方法对应的基础导热率；获取所述待测石墨烯的实际密度和实际碳氢比；根据所述待测石墨烯的实际密度和实际碳氢比，确定导热率修正值；利用所述导热率修正值，对与所述目标制备方法对应的基础导热率进行修正，以得到所述待测石墨烯的修正导热率；通过所述修正导热率推算所述待测石墨烯的水平温场。因此该方法只需获取目标制备方法以及待测石墨烯的实际密度和实际碳氢比，即可最终推算待测石墨烯的水平温场，相对于目前通过特定测量设备测量石墨烯水平温场的方式，效率更高，并且也能够降低成本。
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公开(公告)号：CN119594324A
公开(公告)日：2025-03-11
申请号：CN202411790499.0
申请日：2024-12-06
Applicant: 北京市计量检测科学研究院
Abstract: 本申请涉及一般车辆的电力制动系统技术领域，尤其涉及一种车辆加氢检测控制方法及系统，方法包括获取目标车辆的目标氢气罐装腔体的压力值，得到压力数据集；对压力数据集执行差值分析，分析结果集合为差值数据集；基于阈值模型，对差值数据集执行判断，获得判断数据集；基于判断数据集，执行加氢；对加氢后的目标氢气罐装腔体的压力执行比对；基于比对结果，执行加氢启停控制。本申请的方法通过阈值模型与差值数据集的配合，实现对于车辆的快速且及时地加氢检测控制；同时，由于本申请会对加氢后的目标氢气罐装腔体的压力执行比对，进而可以实现对于加氢进程地实时控制。
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公开(公告)号：CN118425220A
公开(公告)日：2024-08-02
申请号：CN202410531243.1
申请日：2024-04-29
Applicant: 北京市计量检测科学研究院
Inventor： 赵霞 , 史去非 , 吕庆斌 , 李晨 , 吴健 , 滕梓洁 , 徐建 , 桑素丽 , 窦萌 , 崔莉霞 , 王颖 , 裴立宁 , 郭芳 , 张曦雯 , 任禹菲 , 张玉律 , 刘锴 , 张峥 , 胡海涛 , 杨莹
Abstract: 本发明提供一种石墨烯薄膜热导率的测量方法，涉及二维碳材料技术领域，包括：测量石墨烯薄膜的尺寸；确定石墨烯薄膜的线膨胀系数；获取石墨烯薄膜的加热温度；依据傅里叶定律和热流原理，得到加热温度前后石墨烯薄膜热流速率与热膨胀系数的关系、以及石墨烯薄膜的热膨胀面积前后的变化关系；根据加热温度前后石墨烯薄膜热流速率与热膨胀系数的关系、石墨烯薄膜的热膨胀面积前后的变化关系，计算得到石墨烯薄膜的导热系数。本发明能够准确测量石墨烯薄膜在高温时导热率，从而准确评估石墨烯薄膜的导热性能。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117235511A
公开(公告)日：2023-12-15
申请号：CN202311500724.8
申请日：2023-11-13
Applicant: 北京市计量检测科学研究院
IPC: G06F18/2135 , G06F17/11 , G06F17/18 , G06F18/27 , G01R35/00 , G06F123/02
Abstract: 本发明公开了一种二次仪表校准方法，涉及二次仪表校准技术领域，包括系统初始化与自检；进行自动化多点校准；实时反馈并进行自适应校准；实时监测环境因素并记录数据，根据环境因素的变化自动调整校准参数；系统自动分析所有校准数据，基于数据分析的结果，系统自动优化校准算法和参数；系统自动生成校准报告，包括校准参数、校准结果、环境因素数据。本发明所述方法综合应用了多种技术和方法，实现了一个高效、精准、可靠的电导率表校准系统，能够满足工业领域严格的校准需求。
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公开(公告)号：CN119063880A
公开(公告)日：2024-12-03
申请号：CN202411164943.8
申请日：2024-08-23
Applicant: 北京市计量检测科学研究院
Abstract: 本发明涉及状态检测分析的技术领域，具体为热量表状态检测分析系统，包括，数据采集模块，数据处理模块以及数据校准分析模块，所述数据采集模块，用于采集热量表相关数据，并将采集结果发送至数据处理模块；所述数据处理模块，用于对数据采集模块采集的数据进行数据处理，同时将处理结果发送至数据校准分析模块；所述数据校准分析模块，用于对数据处理模块的处理结果实现数据的校准以及热量表的状态分析；本发明通过利用修正系数进行动态修正，增加的数据修正的应用场景；通过引入异步并发校准规则，提高的数据处理速度，通过设定的准确度等级，提高了数据匹配精度，增加了对热量表状态分析的维度。
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公开(公告)号：CN117235511B
公开(公告)日：2024-02-20
申请号：CN202311500724.8
申请日：2023-11-13
Applicant: 北京市计量检测科学研究院
IPC: G06F18/2135 , G06F17/11 , G06F17/18 , G06F18/27 , G01R35/00 , G06F123/02
Abstract: 本发明公开了一种二次仪表校准方法，涉及二次仪表校准技术领域，包括系统初始化与自检；进行自动化多点校准；实时反馈并进行自适应校准；实时监测环境因素并记录数据，根据环境因素的变化自动调整校准参数；系统自动分析所有校准数据，基于数据分析的结果，系统自动优化校准算法和参数；系统自动生成校准报告，包括校准参数、校准结果、环境因素数据。本发明所述方法综合应用了多种技术和方法，实现了一个高效、精准、可靠的电导率表校准系统，能够满足工业领域严格的校准需求。
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公开(公告)号：CN117129523A
公开(公告)日：2023-11-28
申请号：CN202311102513.9
申请日：2023-08-29
Applicant: 北京市计量检测科学研究院
Abstract: 本发明公开了一种用于集成电路散热涂层温度测试装置及方法，属于集成电路散热领域。所述的温度测试装置包括测量装置由一个冷棒端和一个热棒端组成，其中冷棒端上安装显微红外探测器，冷棒端上安装5个热电偶，分别连接数据采集器，冷棒顶端上也安装显微红外探测器，用于测量冷棒顶端的温度。本发明提供一种集成电路界面温度测试方法，以热传导理论为基础，建立集成电路散热涂层材料散热模型和测量方法，得到界面涂层的散热温度和热流密度来表征散热能力。
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公开(公告)号：CN220729538U
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202322494716.9
申请日：2023-09-14
Applicant: 北京市计量检测科学研究院
IPC: G01L27/00
Abstract: 本实用新型公开了一种法兰式压力表试压机，涉及试压机技术领域，包括主体组件，包括试压机、操作杆、控制面板以及移动件，所述操作杆设置于所述试压机顶部，所述控制面板位于所述操作杆一侧，所述移动件位于所述试压机底部，夹持组件，设置于所述试压机上，包括夹持件和限位件，所述夹持件位于所述试压机顶部，所述限位件位于所述夹持件上。本实用新型有益效果为：通过夹持组件的设置可以对不同大小的法兰式压力表进行夹持，从而可以对不同大小的法兰式压力表进行试压，夹持组件可以根据不同大小的法兰式压力表进行调节，使其紧密固定在试压机上，这种灵活性使得试压机可以适应各种不同尺寸的压力表，提供更广泛的应用范围。
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