公开(公告)号：CN117235511B

公开(公告)日：2024-02-20

申请号：CN202311500724.8

申请日：2023-11-13

Applicant: 北京市计量检测科学研究院

Inventor： 徐建 ,  史去非 ,  李晨 ,  吴健 ,  王颖 ,  赵霞 ,  孙晨 ,  王媛媛 ,  张玉律 ,  裴明赞

IPC: G06F18/2135 ,  G06F17/11 ,  G06F17/18 ,  G06F18/27 ,  G01R35/00 ,  G06F123/02

Abstract: 本发明公开了一种二次仪表校准方法，涉及二次仪表校准技术领域，包括系统初始化与自检；进行自动化多点校准；实时反馈并进行自适应校准；实时监测环境因素并记录数据，根据环境因素的变化自动调整校准参数；系统自动分析所有校准数据，基于数据分析的结果，系统自动优化校准算法和参数；系统自动生成校准报告，包括校准参数、校准结果、环境因素数据。本发明所述方法综合应用了多种技术和方法，实现了一个高效、精准、可靠的电导率表校准系统，能够满足工业领域严格的校准需求。

公开(公告)号：CN117235511A

公开(公告)日：2023-12-15

申请号：CN202311500724.8

申请日：2023-11-13

Applicant: 北京市计量检测科学研究院

Inventor： 徐建 ,  史去非 ,  李晨 ,  吴健 ,  王颖 ,  赵霞 ,  孙晨 ,  王媛媛 ,  张玉律 ,  裴明赞

IPC: G06F18/2135 ,  G06F17/11 ,  G06F17/18 ,  G06F18/27 ,  G01R35/00 ,  G06F123/02

Abstract: 本发明公开了一种二次仪表校准方法，涉及二次仪表校准技术领域，包括系统初始化与自检；进行自动化多点校准；实时反馈并进行自适应校准；实时监测环境因素并记录数据，根据环境因素的变化自动调整校准参数；系统自动分析所有校准数据，基于数据分析的结果，系统自动优化校准算法和参数；系统自动生成校准报告，包括校准参数、校准结果、环境因素数据。本发明所述方法综合应用了多种技术和方法，实现了一个高效、精准、可靠的电导率表校准系统，能够满足工业领域严格的校准需求。