探测空间粒子可变采样快门时间的采样方法、系统及设备

    公开(公告)号:CN108931807B

    公开(公告)日:2019-09-27

    申请号:CN201810824461.9

    申请日:2018-07-24

    Abstract: 本发明提供一种探测空间粒子可变采样快门时间的采样方法、系统及设备,所述方法包括:将采样快门时间按照时间片数划分,并于每一个时间片数检测存储器的存储量状态;当在经历第N个时间片数时检测到存储量状态为半满标识状态,采样快门时间为N×k,1≤N≤Nmax,k为单个时间片的长度,Nmax为最大时间片数;当第Nmax个时间片数时检测存储量状态未达到半满标识状态,采样快门时间为Nmax×k;在检测到存储量状态为半满标识状态或达到第Nmax个时间片数时,停止采样,从存储器读取空间粒子信号,根据当前经历的时间片数、最大时间片数、当前经历的时间片数所记录的空间粒子数确定估算总粒子数。本发明能够实现动态调整采样快门时间,提高粒子探测中通量测量的动态范围,提高采样效率。

    探测空间粒子可变采样快门时间的采样方法、系统及设备

    公开(公告)号:CN108931807A

    公开(公告)日:2018-12-04

    申请号:CN201810824461.9

    申请日:2018-07-24

    Abstract: 本发明提供一种探测空间粒子可变采样快门时间的采样方法、系统及设备,所述方法包括:将采样快门时间按照时间片数划分,并于每一个时间片数检测存储器的存储量状态;当在经历第N个时间片数时检测到存储量状态为半满标识状态,采样快门时间为N×k,1≤N≤Nmax,k为单个时间片的长度,Nmax为最大时间片数;当第Nmax个时间片数时检测存储量状态未达到半满标识状态,采样快门时间为Nmax×k;在检测到存储量状态为半满标识状态或达到第Nmax个时间片数时,停止采样,从存储器读取空间粒子信号,根据当前经历的时间片数、最大时间片数、当前经历的时间片数所记录的空间粒子数确定估算总粒子数。本发明能够实现动态调整采样快门时间,提高粒子探测中通量测量的动态范围,提高采样效率。

    一种在轨微小空间碎片多参数测量探头及测量方法

    公开(公告)号:CN112304365A

    公开(公告)日:2021-02-02

    申请号:CN202011026809.3

    申请日:2020-09-25

    Abstract: 本发明涉及一种在轨微小空间碎片多参数测量探头及测量方法,本发明属于空间碎片监测测量领域,涉及一种在轨被动微小碎片尺寸、速度、质量多个参数测量方法,用于航天器在轨空间碎片测量载荷。本发明的包括前后薄膜传感器、前后电荷收集电极、电荷测量放大器以及高频脉冲计数器。前后薄膜上镀有金属膜,前薄膜后、后薄膜前装有等间距电荷收集丝,收集电极与薄膜间加负直流电压,用于收集微小碎片撞击到前后薄膜产生的电荷信号。前后薄膜产生的电荷被收集电极收集,并由电荷放大器放大为电压脉冲信号,由高频脉冲计数器测量前后薄膜上的撞击信号的时间差,获得速度和方向信息。由电荷量信号获得撞击碎片能量,结合速度可以得到空间碎片的质量。

    微小空间碎片探测用探测器探头及其传感器制备方法

    公开(公告)号:CN104375205B

    公开(公告)日:2016-11-23

    申请号:CN201410588832.X

    申请日:2014-10-28

    Abstract: 本发明公开了一种用于微小空间碎片探测的探测器探头及其传感器的制备方法。在探测器探头中,传感器和电极引出板安装在底座与顶板装配形成的空腔内;其中,在传感器中,底电极与顶电极均位于传感器顶面,避免了底电极与顶电极分别位于顶面和底面导致的不便于电极的引出及安装的问题。通过金丝焊压工艺将顶电极和底电极引到电极引出板,电极引出板的引出线通过底座上的导线引出孔引出,能够解决因焊接工艺以及引线多且复杂导致的薄铝电极容易损毁的问题。

    一种基于斜入射的卫星电离总剂量解析分析方法

    公开(公告)号:CN115391713A

    公开(公告)日:2022-11-25

    申请号:CN202210838677.7

    申请日:2022-07-18

    Abstract: 本发明提出一种基于斜入射的卫星电离总剂量解析分析方法,考虑了斜入射带来的屏蔽厚度增厚、总剂量变低效应,显著降低电离总剂量数据。具体包括以下步骤:步骤一、根据卫星运行轨道参数分析卫星电离总剂量与垂直入射条件下等效屏蔽厚度的关系;步骤二、根据所述卫星电离总剂量与垂直入射条件下等效铝屏蔽厚度的关系获取所述卫星电离总剂量与垂直入射条件下等效屏蔽铝厚度关系的拟合公式及拟合系数;步骤三、利用所述拟合公式及拟合系数分析考虑斜入射效应的各向同性入射条件下的卫星电离总剂量与等效铝屏蔽厚度的计算公式;步骤四、根据所述计算公式分析卫星内部单机中器件的电离总剂量。

Patent Agency Ranking