一种基于光纤传感的空间碎片撞击定位与损伤成像方法

    公开(公告)号:CN119165061A

    公开(公告)日:2024-12-20

    申请号:CN202411006045.X

    申请日:2024-07-25

    Abstract: 本发明一种基于光纤传感的空间碎片撞击定位与损伤成像方法,采用光纤传感器对结构组网布局,并接收含有撞击信息与冲击能的传感器损伤信号。基于自适应阈值正交小波变换去噪算法对碎片撞击前后的传感器信号进行滤波去噪;基于信号去噪与变模态分解方法获取各传感器信号中对撞击损伤敏感的中心频率,并基于小波窗函数获取该中心频率下的传感器窄带信号,进而得到该窄带信号的波导速率。基于光纤传感器布局位置和波导速率,在传感器菱形定位与损伤概率成像算法的基础上,分析撞击前后的窄带信号实现碎片撞击结构定位、损伤包络与程度的成像。本发明可实现空间结构的在轨全生命周期碎片撞击损伤的实时监控。

    一种微振动隔振器加速寿命试验方法及系统

    公开(公告)号:CN107764528B

    公开(公告)日:2019-08-09

    申请号:CN201710827962.8

    申请日:2017-09-14

    Abstract: 一种微振动隔振器加速寿命试验方法及系统,该隔振器的主要特征是使用硅橡胶作为主承力部件,之前未有该类隔振器加速寿命试验方法。根据影响隔振器寿命的主要因素确定加速寿命试验包括加速疲劳试验和加速老化试验。在加速寿命试验中主要根据相关公式分别确定加速疲劳试验和加速老化试验的条件。并在相关试验前后及试验中对隔振器进行功能和性能测试,以判断隔振器工作能否满足要求以及能满足多少时间的寿命要求。本发明填补了该类设备寿命试验方法的空白,可确保通过加速寿命试验了解该类设备在轨正常工作的寿命,可有效压缩寿命试验的时间,提高地面寿命试验效率,降低地面寿命试验成本。

    一种航天器总装过程风险分析方法和系统

    公开(公告)号:CN107719701B

    公开(公告)日:2019-12-20

    申请号:CN201710801980.9

    申请日:2017-09-07

    Abstract: 本发明公开了一种航天器总装过程风险分析方法和系统,其中,所述方法包括:按照航天器总装作业的流程顺序,从航天器总装作业中选择多个工序,得到特征工序集;根据风险分析模型,对特征工序集中的各个特征工序分别进行严重度、频度和探测度评估,得到严重度评分、频度评分和探测度评分;根据的严重度评分、频度评分和探测度评分,确定各个特征工序的风险顺序数;根据各个特征工序的严重度评分、频度评分、探测度评分和风险顺序数,设置一个或多个风险点。可见,本发明通过对航天器总装作业过程中的各个特征工序进行梳理和分析,可以准确识别出航天器总装作业过程中的薄弱环节,指导航天器总装作业,保障航天器总装过程的顺利实现。

    一种航天器总装过程风险分析方法和系统

    公开(公告)号:CN107719701A

    公开(公告)日:2018-02-23

    申请号:CN201710801980.9

    申请日:2017-09-07

    Abstract: 本发明公开了一种航天器总装过程风险分析方法和系统,其中,所述方法包括:按照航天器总装作业的流程顺序,从航天器总装作业中选择多个工序,得到特征工序集;根据风险分析模型,对特征工序集中的各个特征工序分别进行严重度、频度和探测度评估,得到严重度评分、频度评分和探测度评分;根据的严重度评分、频度评分和探测度评分,确定各个特征工序的风险顺序数;根据各个特征工序的严重度评分、频度评分、探测度评分和风险顺序数,设置一个或多个风险点。可见,本发明通过对航天器总装作业过程中的各个特征工序进行梳理和分析,可以准确识别出航天器总装作业过程中的薄弱环节,指导航天器总装作业,保障航天器总装过程的顺利实现。

    一种CCD器件位移效应试验验证方法

    公开(公告)号:CN107870082A

    公开(公告)日:2018-04-03

    申请号:CN201710892699.0

    申请日:2017-09-27

    CPC classification number: G01M11/00

    Abstract: 本发明提供一种CCD器件位移效应试验验证方法,涉及卫星寿命与可靠性分析技术领域,步骤为:(1)配置试验过程中的测试条件和测试性能指标;(2)根据卫星在轨运行环境信息,确定试验过程中的辐照条件;(3)根据CCD器件在轨成像时的组成结构,确定参试CCD器件的工作模式;(4)当不存在辐照时,获取在步骤(3)确定的工作模式下CCD器件的初始性能测试指标;(5)根据步骤(1)配置的CCD器件工作温度、步骤(2)中确定的辐照条件以及步骤(3)中确定的工作模式进行试验,得到不同辐照剂量下分别对应的测试性能指标;(6)得到位移效应与测试性能指标之间的影响关系。

    一种微振动隔振器加速寿命试验方法及系统

    公开(公告)号:CN107764528A

    公开(公告)日:2018-03-06

    申请号:CN201710827962.8

    申请日:2017-09-14

    CPC classification number: G01M13/00 G01M7/02

    Abstract: 一种微振动隔振器加速寿命试验方法及系统,该隔振器的主要特征是使用硅橡胶作为主承力部件,之前未有该类隔振器加速寿命试验方法。根据影响隔振器寿命的主要因素确定加速寿命试验包括加速疲劳试验和加速老化试验。在加速寿命试验中主要根据相关公式分别确定加速疲劳试验和加速老化试验的条件。并在相关试验前后及试验中对隔振器进行功能和性能测试,以判断隔振器工作能否满足要求以及能满足多少时间的寿命要求。本发明填补了该类设备寿命试验方法的空白,可确保通过加速寿命试验了解该类设备在轨正常工作的寿命,可有效压缩寿命试验的时间,提高地面寿命试验效率,降低地面寿命试验成本。

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