具错误检验和校正电路的电可擦可编程只读存储器

    公开(公告)号:CN1077049A

    公开(公告)日:1993-10-06

    申请号:CN92115052.0

    申请日:1992-12-31

    Inventor: 金镇祺

    CPC classification number: G06F11/1008 G06F11/1076

    Abstract: 公开了一种EEPROM,该EEPROM有一个存储器阵列,该阵列包括多个位线、多个分别与各位线和奇偶位单元相连接的存储单元和一个错误检验和校正电路,其中列选通器与多个位线相连接,用以将所输入的数据存入相应的页面缓冲器中,并以输入数据的多个字节为单位处理存储数据,从而产生奇偶位数据,该奇偶位数据由多个随机写入页面缓冲器中的二进制位组成。最好配备一个分隔设备,供控制页面缓冲器与多个位线之间的连接。

    非易失型半导体存贮器
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1092548A

    公开(公告)日:1994-09-21

    申请号:CN94100839.8

    申请日:1994-01-13

    CPC classification number: G11C16/16 G11C16/12

    Abstract: 一种在编程时不必给未选位线加上高的编程禁止电压就能缩小芯片面积和功耗、防止过编程的非易失性半导体存贮器。在块擦除操作中,令被选存贮块的字线处于参考电压,而令未选字线处于浮动态,给衬底加上擦除电压,则处于浮动态的字线就会自动防止通过电容耦合上述擦除电压而被擦除。

    非易失性半导体存储器件的多块擦去与验证装置及其方法

    公开(公告)号:CN1099679C

    公开(公告)日:2003-01-22

    申请号:CN95117155.0

    申请日:1995-09-02

    Inventor: 权锡千 金镇祺

    CPC classification number: G11C16/3445 G11C16/08 G11C16/16 G11C16/344

    Abstract: 提供一种同时擦去应变更的已写入多个存储块的数据的电可擦可编程的非易失性半导体存储器件。该非易失性半导体存储器件具有多个与存储块相接的块选择电路,该多个块选择电路寄存着块选择标志,以便在擦去工作中选择至少一个所选定的存储块内的多个存储晶体管的控制栅,由于分别具有寄存着使其余的非选择的存储块内的多个存储晶体管的控制栅浮动的复位标志的寄存装置,在该擦去工作中只同时擦去该所选定的存储块内的存储晶体管。

    具错误检验和校正电路的电可擦可编程只读存储器

    公开(公告)号:CN1035698C

    公开(公告)日:1997-08-20

    申请号:CN92115052.0

    申请日:1992-12-31

    Inventor: 金镇祺

    CPC classification number: G06F11/1008 G06F11/1076

    Abstract: 公开了一种EEPROM,该EEPROM有一个存储器阵列,该阵列包括多个位线、多个分别与各位线和奇偶位单元相连接的存储单元和一个错误检验和校正电路,其中列选通器与多个位线相连接,用以将所输入的数据存入相应的页面缓冲器中,并以输入数据的多个字节为单位处理存储数据,从而产生奇偶位数据,该奇偶位数据由多个随机写入页面缓冲器中的二进制位组成。最好配备一个分隔设备,供控制页面缓冲器与多个位线之间的连接。

    非易失性半导体存储器件的多块擦去与验证装置及其方法

    公开(公告)号:CN1139812A

    公开(公告)日:1997-01-08

    申请号:CN95117155.0

    申请日:1995-09-02

    Inventor: 权锡千 金镇祺

    CPC classification number: G11C16/3445 G11C16/08 G11C16/16 G11C16/344

    Abstract: 提供一种同时擦去应变更的已写入多个存储块的数据的电可擦可编程的非易失性半导体存储器件。该非易失性半导体存储器件具有多个与存储块相接的块选择电路,该多个块选择电路寄存着块选择标志,以便在擦去工作中选择至少一个所选定的存储块内的多个存储晶体管的控制栅,由于分别具有寄存着使其余的非选择的存储块内的多个存储晶体管的控制栅浮动的复位标志的寄存装置,在该擦去工作中只同时擦去该所选定的存储块内的存储晶体管。

    非易失性半导体存储器件及其所用的优化编程方法

    公开(公告)号:CN1032283C

    公开(公告)日:1996-07-10

    申请号:CN92103954.9

    申请日:1992-04-30

    Inventor: 金镇祺 徐康德

    Abstract: 一种非易失性半导体存储器,特别是“与非”结构的EEPROM,及一种对它的优化编程方法。该存储器包括:由一组串联存储单元构成的“与非”结构存储单元阵列,每个存储单元由电荷存储层和半导体基片上的控制栅极相迭而构成,并可通过电荷存储层与基片间的电荷互换实现电擦除,数据锁存电路LT;高电压源电路HV,电流源电路CS;程序检验电路PC;及程序状态检验电路PS。程序状态被优化并不受参数变化之影响,通过采用验证电位而避免过度编程,由于采用芯片内部验正功能自动优化编程,芯片的功能得到加强。无须外部控制,则整个系统性能亦被加强。此外,采用了已有的带页功能的闪烁存储器中的页寄存器PB,则本发明可用于已有的产品中。

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