半导体封装
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113284862A

    公开(公告)日:2021-08-20

    申请号:CN202110188275.2

    申请日:2021-02-18

    Abstract: 公开了一种半导体封装,包括:芯构件,具有彼此相对的第一表面和第二表面、以及在第一表面与第二表面之间的外侧表面,芯构件具有将第一表面与第二表面连接的通孔,通孔具有从外侧表面突出的突出部分并且具有0.5μm或以上的表面粗糙度Ra;再分布衬底,在芯构件的第一表面上,并且包括再分布层;半导体芯片,在再分布衬底上在所述通孔中,并具有电连接至再分布层的接触焊盘;以及密封物,在再分布衬底上并且覆盖半导体芯片和芯构件,芯构件的突出部分具有暴露于密封物的侧表面的表面。

    半导体封装
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN113284862B

    公开(公告)日:2024-11-19

    申请号:CN202110188275.2

    申请日:2021-02-18

    Abstract: 公开了一种半导体封装,包括:芯构件,具有彼此相对的第一表面和第二表面、以及在第一表面与第二表面之间的外侧表面,芯构件具有将第一表面与第二表面连接的通孔,通孔具有从外侧表面突出的突出部分并且具有0.5μm或以上的表面粗糙度Ra;再分布衬底,在芯构件的第一表面上,并且包括再分布层;半导体芯片,在再分布衬底上在所述通孔中,并具有电连接至再分布层的接触焊盘;以及密封物,在再分布衬底上并且覆盖半导体芯片和芯构件,芯构件的突出部分具有暴露于密封物的侧表面的表面。

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