Invention Publication
- Patent Title: 基于双目结构光系统的接触网磨耗检测系统、方法及终端
-
Application No.: CN202211712943.8Application Date: 2022-12-27
-
Publication No.: CN115930797APublication Date: 2023-04-07
- Inventor: 李辰懋 , 吴丽 , 李嘉茂 , 郭远博 , 明伟 , 黄乔中 , 朱冬晨 , 王磊 , 付凤杰 , 张晓林
- Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
- Applicant Address: 上海市长宁区长宁路865号
- Assignee: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
- Current Assignee: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
- Current Assignee Address: 上海市长宁区长宁路865号
- Agency: 上海光华专利事务所
- Agent 倪静
- Main IPC: G01B11/02
- IPC: G01B11/02 ; G06T7/80
Abstract:
本发明的基于双目结构光系统的接触网磨耗检测系统、方法及终端，通过基于采用标定板对两个相机进行标定获得的双目标定位置关系数据，将由两个相机采集到的目标接触网的图像数据提取的二维激光点集数据转换为待拟合的三维点集数据，并通过由所述三维点集数据拟合的目标接触网的磨耗截面计算磨耗宽度。本发明结合双目结构光系统可以针对导高拉出大范围变化区间的情况，拼接还原出完整的激光线轮廓，更精准地检测磨耗截面宽度。
Information query
