用于制造用于电池单池的电极的过程装置以及方法

    公开(公告)号:CN118867137A

    公开(公告)日:2024-10-29

    申请号:CN202410483405.9

    申请日:2024-04-22

    发明人: T·亚伯

    摘要: 本发明涉及一种用于制造用于电池单池的电极的过程装置,在所述过程装置中,导电体箔(1)作为连续料幅连续导引通过加工站,确切而言形成电极料幅(E),电极料幅在最后的切割站处定尺寸截断和/或切割成电极。根据本发明所述过程装置具有测量站(M),所述测量站带有至少一个测量装置(4),在所述测量装置中能测量活性材料层(3)的比电阻(ρ)和/或活性材料层(3)与导电体箔(1)的接触电阻(Ω)或与之相关的值。

    基板功耗监测的校准系统、校准方法、设备及介质

    公开(公告)号:CN118860801A

    公开(公告)日:2024-10-29

    申请号:CN202411331692.8

    申请日:2024-09-24

    发明人: 赵国玲 施秋云

    IPC分类号: G06F11/30 G01R22/06 G01R27/08

    摘要: 本发明涉及计算机技术领域,公开了一种基板功耗监测的校准系统、校准方法、设备及介质,以解决当前功率监测的校准检测作业流程较为繁琐且会增加设备损坏概率的问题。该基板功耗监测的校准系统包括功耗电路和校准电路。功耗电路包括依次连接的供电模块、第一电压检测单元、功耗电阻、第二电压检测单元以及负载开关,第一电压检测单元和第二电压检测单元用于检测流经功耗电阻前后的电压值。校准电路包括第一校准电阻和第一校准开关,第一校准开关的一端与第一校准电阻串联连接,且第一校准开关的另一端并联于功耗电阻和负载开关之间。本申请提供的基板功耗监测的校准系统用于简化功耗监测的检测校准流程,并提高检测校准精度。

    一种火花通道等效电阻的测量方法及装置

    公开(公告)号:CN118858764A

    公开(公告)日:2024-10-29

    申请号:CN202410864488.6

    申请日:2024-06-30

    IPC分类号: G01R27/08

    摘要: 本发明公开了一种火花通道等效电阻的测量方法及装置,方法包括:将两支电极针调整为同轴,加载高压使两支电极针之间产生放电火花;选定充电电容C,改变电极间隙长度D,测量各个电极间隙长度所产生的放电火花电流波形;根据放电火花电流波形计算各个电极间隙长度D对应的放电回路总电阻;利用计算式拟合数据以获得充电电容C时的线路电阻;放电回路总电阻减去线路电阻可得到火花通道等效电阻;同时,还公开了对应的火花通道等效电阻的测量装置。本发明避免了在电极短接情况下测量线路电阻,利用多周期的峰值电流值和波谷电流值计算平均对数衰减率和回路电感,提高火花通道等效电阻的测量准确性,可有效提升火花能量的计算精度。

    电气开关的回路阻抗测量装置、方法及电气开关

    公开(公告)号:CN118837730A

    公开(公告)日:2024-10-25

    申请号:CN202310457545.4

    申请日:2023-04-25

    摘要: 本申请提供一种电气开关的回路阻抗测量装置、方法及电气开关,涉及电气开关技术领域。该测量装置中电流采样单元,用于对待测量电气开关的母线电流进行采样,将采样后的回路电流信号转换为第一电压信号并发送给隔离转换单元;电压采样单元,用于采集待测量电气开关的触头系统的输入端和输出端之间的第二电压信号并发送给隔离转换单元;隔离转换单元,用于对第一电压信号和第二电压信号进行模数转换后发送给控制单元;控制单元,用于基于模数转换后的第一电压信号和模数转换后的第二电压信号,计算待测量电气开关的回路阻抗,不需要引入额外的恒流电路模块,且可以实现对回路阻抗的在系统测试,可操作性较强。

    一种碳滑板粘接电阻测试装置

    公开(公告)号:CN108490263B

    公开(公告)日:2024-10-22

    申请号:CN201810556236.1

    申请日:2018-05-31

    发明人: 周威 段振魁

    IPC分类号: G01R27/08

    摘要: 本发明提供的一种碳滑板粘接电阻测试装置,包括:基座;两组供电结构,设置在所述基座上并分别与碳滑板相接触,两组所述供电结构之间形成用以容纳所述碳滑板的测试区域,所述供电结构能够在外力作用下压紧位于测试区域内部的碳滑板使碳滑板通电,所述供电结构压紧碳滑板时,所述碳滑板与所述供电结构之间为面接触;测试件,作用在碳滑板的第一检测点与第二检测点上,用以得到碳滑板的电流值或电阻值。将碳滑板与所述供电结构之间设置面接触,所述供电结构提供给所述碳滑板的电压比较稳定,测量精度较高。

    一种两端接地电阻矩阵网络的调阻方法及系统

    公开(公告)号:CN118800540A

    公开(公告)日:2024-10-18

    申请号:CN202410811447.0

    申请日:2024-06-21

    发明人: 蔡磊

    摘要: 本发明公开了一种测量两端和基材相连的电阻矩阵的测量方法,属于高精度电阻调阻技术领域,具体涉及一种两端接地电阻矩阵网络的调阻方法及系统,本发明通过多路探针卡接触电阻网络,形成接触,多路电压电流源测试电压和电流网络参数,数据发送给电脑,电脑计算出特定位置的导纳矩阵,并且提取出被测电阻的值,将调试量计算出后,发送给激光,激光切割电阻,调整阻值,本发明解决了两端短路的电阻网络的测量问题,相比与现有的调阻系统,不需要要求切割前的电阻网络一端开路,方便了电阻矩阵网络的测试。

    一种高阻外延电阻率的测量方法及反型高阻外延硅片

    公开(公告)号:CN118777698A

    公开(公告)日:2024-10-15

    申请号:CN202410783405.0

    申请日:2024-06-17

    IPC分类号: G01R27/08 H01L21/02 H01L21/20

    摘要: 本发明提供一种高阻外延片电阻率的测量方法,针对反型高阻外延层的电阻率的量测,在衬底上形成外延层,外延层与衬底的掺杂类型相反,且外延层的掺杂浓度高于衬底的掺杂浓度,或者外延层的掺杂浓度与衬底的掺杂浓度的差值小于等于一个数量级,以避免衬底内的掺杂离子扩散至外延层内,保证了外延层电阻率测试的准确性。通过先执行特定的预处理,去除所述外延层的表面自然氧化层和颗粒以使外延层的表面洁净,减少电学干扰,满足量测需求;再将所述高阻外延置于四探针机台上采用四探针法对所述外延层进行IV测试,根据四探针的电流源电压以及所述外延层端电流电压特性,准确测量高阻外延的电阻率。