信号测量系统、电传导信号的方法和信号电缆

    公开(公告)号:CN102822682A

    公开(公告)日:2012-12-12

    申请号:CN201180017323.6

    申请日:2011-03-29

    摘要: 本发明涉及用于测量信号的信号测量系统(100,200,300),所述系统包括用于检测原始信号的信号检测系统(41)、信号处理单元(42)以及使所述信号检测单元(41)与所述信号处理单元(42)电连接的信号电缆(10)。所述信号电缆(10)包括用于将第一信号从所述信号检测单元(41)电传导至所述信号处理单元(42)的信号导体(1,2),所述第一信号至少包括原始信号,所述信号电缆还包括参考导体(11,23),其仅用于检测由所述信号电缆(10)的移动或者由电磁干扰诱发的噪声信号并将其电传导至所述信号处理单元(42)。通过这种方式,降低了噪声对信号质量的影响,同时又不会提高功率使用或功率损耗,所述噪声是由信号电缆(10)的移动或者其他在信号电缆(10)中诱发噪声信号的诸如电磁干扰的噪声源导致的。

    电特性测试基板
    6.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102095901B

    公开(公告)日:2013-06-12

    申请号:CN201010529797.6

    申请日:2010-10-28

    发明人: 米仓博

    IPC分类号: G01R1/02 G01R31/00

    摘要: 本发明提供一种电特性测试基板,其对端子配置呈非线对称形且处于镜像关系的两个电子部件能够进行电特性的测试。电特性测试基板(1)层叠了多个电介质层而形成,在正主面上包括共面线(14A~14D),在背主面上包括共面线(24A~24D),在电介质层间包括层间接地电极(3A、3B)。共面线(14A~14D)的第一端集聚在一起所构成的正主面的部件搭载电极(12)与共面线(24A~24D)的第一端集聚在一起所构成的背主面的部件搭载电极(22),从正主面法线方向看,互为相同的图案,且分别相对于正主面或者背主面的中心线是非线对称形的电极图案。

    柔性测试电缆
    7.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100357747C

    公开(公告)日:2007-12-26

    申请号:CN200510055962.8

    申请日:2005-03-22

    IPC分类号: G01R29/08

    摘要: 一种柔性测试电缆具有中心导体(210)、有效电气长度等于感兴趣频率的四分之一波长奇数倍的导电套筒(240)、位于导电套筒(240)之内用于阻止中心导体的一部分电气耦合至导电套筒的介电隔离物(230)、以及用于将中心导体的一部分维持在导电套筒(240)的一端的中间的介电接头(220)。导电套筒(240)可以具有不同的截面形状。介电隔离物(230)可以由刚性或可压缩介电材料形成为不同的形状。同样,介电接头(220)可以由刚性或可压缩介电材料形成为不同的形状。使用介电接头(220)将多个导电套筒(240)连在一起,从而得到在感兴趣频率具有电气透明性的柔性测试电缆(200)。

    柔性测试电缆
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1673759A

    公开(公告)日:2005-09-28

    申请号:CN200510055962.8

    申请日:2005-03-22

    IPC分类号: G01R29/08

    摘要: 一种柔性测试电缆具有中心导体(210)、有效电气长度等于感兴趣频率的四分之一波长奇数倍的导电套筒(240)、位于导电套筒(240)之内用于阻止中心导体的一部分电气耦合至导电套筒的介电隔离物(230)、以及用于将中心导体的一部分维持在导电套筒(240)的一端的中间的介电接头(220)。导电套筒(240)可以具有不同的截面形状。介电隔离物(230)可以由刚性或可压缩介电材料形成为不同的形状。同样,介电接头(220)可以由刚性或可压缩介电材料形成为不同的形状。使用介电接头(220)将多个导电套筒(240)连在一起,从而得到在感兴趣频率具有电气透明性的柔性测试电缆(200)。

    用于波导系统的支架
    9.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1041668C

    公开(公告)日:1999-01-13

    申请号:CN92114246.3

    申请日:1992-12-12

    发明人: 林钟皓

    IPC分类号: H01P5/04 H01P5/00 G01R31/24

    CPC分类号: G01R21/01 G01R1/24

    摘要: 用于波导系统的支架包括:支架主体小孔和密封板。小孔位于支架主体的侧部,密封板可有选择性地插入小孔中并控制支架主体与可分离插入支架主体中的磁控管之间的耦合度以达阻抗匹配,从而能够测量两种不同天线尺寸的磁控管的特性。当小孔中未插入密封板且测量上述两种磁控管的特性时,将密封板插入小孔中以封闭小孔。这种支架可测量不同尺寸的磁控管特性,可降低测量费用,还能提高生产磁控管的生产率。