用于光学粒子计数器的校准验证的系统和方法

    公开(公告)号:CN101911139B

    公开(公告)日:2013-03-20

    申请号:CN200880124396.3

    申请日:2008-11-14

    发明人: T·贝茨

    IPC分类号: G08B17/10

    CPC分类号: G01N15/1012 G01N2015/1018

    摘要: 在此描述了一种便携式、低功耗的光学粒子计数器校准验证系统,以及用于验证气态或液态粒子计数器的校准状态的可靠且灵敏的方法。在此描述的校准验证方法可用于快速地确定光学粒子计数器在使用中的校准状态,以及允许终端用户在推荐的校准日程到来前确定光学粒子计数器是否需要校准。

    用于光学粒子计数器的校准验证的系统和方法

    公开(公告)号:CN101911139A

    公开(公告)日:2010-12-08

    申请号:CN200880124396.3

    申请日:2008-11-14

    发明人: T·贝茨

    IPC分类号: G08B17/10

    CPC分类号: G01N15/1012 G01N2015/1018

    摘要: 在此描述了一种便携式、低功耗的光学粒子计数器校准验证系统,以及用于验证气态或液态粒子计数器的校准状态的可靠且灵敏的方法。在此描述的校准验证方法可用于快速地确定光学粒子计数器在使用中的校准状态,以及允许终端用户在推荐的校准日程到来前确定光学粒子计数器是否需要校准。