Invention Grant
- Patent Title: 粒子分析仪用参照物
- Patent Title (English): Standard material for particle analyzer
-
Application No.: CN200610098740.9Application Date: 2006-07-12
-
Publication No.: CN1880942BPublication Date: 2012-11-07
- Inventor: 川手康德
- Applicant: 希森美康株式会社
- Applicant Address: 日本兵库县神户市中央区脇浜海岸通1丁目5番1号5-1
- Assignee: 希森美康株式会社
- Current Assignee: 希森美康株式会社
- Current Assignee Address: 日本兵库县神户市中央区脇浜海岸通1丁目5番1号5-1
- Agency: 北京市安伦律师事务所
- Agent 刘良勇
- Priority: 2005-203279 2005.07.12 JP
- Main IPC: G01N15/14
- IPC: G01N15/14 ; G01N21/64 ; G01N33/50
Abstract:
本发明提供一种可以检测出以往参照物无法检测出的粒子分析仪故障的参照物。上述参照物是粒子分析仪用参照物，该粒子分析仪对生物试样中所含被测粒子用一定的色素进行荧光染色处理，再对经荧光染色的被测粒子进行分析。参照物由经上述荧光染色处理的第一标准粒子和预先经染色制备的、可以显示一定荧光强度的第二标准粒子组成。本发明还提供用参照物推断粒子分析仪的异常部位的方法和装置。
Public/Granted literature
- CN1880942A 粒子分析仪用参照物 Public/Granted day:2006-12-20
Information query
