- 专利标题： 用于光学粒子计数器的校准验证的系统和方法
- 专利标题（英）： System and method for calibration verification of an optical particle counter
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申请号： CN200880124396.3申请日： 2008-11-14
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公开(公告)号： CN101911139B公开(公告)日： 2013-03-20
- 发明人: T·贝茨
- 申请人： 粒子监测系统有限公司
- 申请人地址： 美国科罗拉多
- 专利权人： 粒子监测系统有限公司
- 当前专利权人： 粒子监测系统有限公司
- 当前专利权人地址： 美国科罗拉多
- 代理机构： 北京北翔知识产权代理有限公司
- 代理商 郑建晖; 杨勇
- 优先权： 60/988,515 2007.11.16 US
- 国际申请： PCT/US2008/083669 2008.11.14
- 国际公布： WO2009/065062 EN 2009.05.22
- 进入国家日期： 2010-07-09
- 主分类号： G08B17/10
- IPC分类号： G08B17/10
摘要：
在此描述了一种便携式、低功耗的光学粒子计数器校准验证系统，以及用于验证气态或液态粒子计数器的校准状态的可靠且灵敏的方法。在此描述的校准验证方法可用于快速地确定光学粒子计数器在使用中的校准状态，以及允许终端用户在推荐的校准日程到来前确定光学粒子计数器是否需要校准。
公开/授权文献
- CN101911139A 用于光学粒子计数器的校准验证的系统和方法 公开/授权日：2010-12-08
