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公开(公告)号：CN107271336A
公开(公告)日：2017-10-20
申请号：CN201710441106.9
申请日：2017-06-13
申请人： 南京航空航天大学
CPC分类号： G01N15/0211 , G01N15/00 , G01N15/0205 , G01N2015/0092 , G01N2015/025 , G06N3/006
摘要： 本发明提供一种基于连续激光多角度散射测量的球形颗粒分形聚集特征参数的反演方法，旨在获得一种测量悬浮球形颗粒分形聚集特征参数的方法。实验中用连续激光照射颗粒系一侧表面，用探测器测量颗粒系另一侧多角度散射测量信号，同时用粒度分析仪测量得到球形颗粒的粒径分布，利用傅里叶光谱分析仪、Mie散射理论、Kramers-Kranigs关系式及人工蜂群优化算法获得球形颗粒光学常数，最后基于多角度散射测量信号结合逆问题求解技术间接得到球形颗粒分形聚集特征参数。本发明通过建立测量球形颗粒分形聚集特征参数的正、逆问题模型，在已知颗粒其他物性参数的前提下，提出了运用多体T矩阵理论模型结合人工蜂群优化算法反演获得球形颗粒分形聚集特征参数的方法。
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公开(公告)号：CN101925809B
公开(公告)日：2013-03-27
申请号：CN200880125744.9
申请日：2008-12-02
申请人： 粒子监测系统有限公司
IPC分类号： G01N15/02
CPC分类号： G01N15/1463 , G01N15/1459 , G01N2015/0038 , G01N2015/025 , G01N2015/1402
摘要： 本发明提供了用于粒子检测和分析的方法和系统，其使用二维光学成像以获得相对于传统的基于点和阵列检测的光学粒子计数器增强的检测敏感度和扩展的检测功能。本发明的方法和系统提供了一种基于二维光学成像的粒子检测平台，其中系统部件和规格被选择以根据提供给系统的粒子的光学散射或发射来生成可再生和易于识别的信号，包括粒子检测识别标志。本发明的系统和方法能够准确且灵敏地检测、识别和表征(例如，确定其大小)在液相或气相样本中的粒子。
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公开(公告)号：CN102037343A
公开(公告)日：2011-04-27
申请号：CN200980114507.7
申请日：2009-06-11
申请人： 东卡莱罗纳大学
IPC分类号： G01N15/14 , G01N33/487
CPC分类号： G01N15/1475 , G01N15/0211 , G01N15/147 , G01N2015/0222 , G01N2015/025 , G01N2015/1497
摘要： 本发明涉及一种流式细胞仪系统，其中包括由外层鞘流与内层样品流组成的可形成流体力学聚焦的液流控制器件。一个可照射处于内层样品流中单个粒子的相干光源。一个可用来探测被相干光源激发的粒子所产生的弹性散射光的空间分布的传感器。一个可用来从弹性散射光的空间分布提取该粒子的三维结构参数的分析模块。
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公开(公告)号：CN101939814A
公开(公告)日：2011-01-05
申请号：CN200880126481.3
申请日：2008-12-15
申请人： 百维吉伦特系统有限公司
发明人： 埃里克·H·比妮 , 格雷戈里·斯科特·莫里斯
IPC分类号： H01J40/14
CPC分类号： G01N15/1434 , G01N1/2247 , G01N1/2273 , G01N15/1404 , G01N15/1459 , G01N21/53 , G01N21/6486 , G01N2015/0088 , G01N2015/025 , G01N2015/1486 , G01N2015/1493 , G01N2201/06113 , G01N2201/06193
摘要： 一种用于检测流体中的病原体和颗粒的方法和装置，其中确定单一颗粒的颗粒尺寸和固有荧光，包括：试样盒；在试样盒的一侧的光源，用于发送聚焦的光束通过试样，由此部分光束被存在于试样区域中的各种尺寸的颗粒朝各种角度散射；位于光路中的颗粒尺寸检测器，用于检测前向散射的光的一部分；一对荧光检测器，定位为偏离光束的轴线；以及一对椭球镜，被定位为使得入射颗粒流和光束的交叉点在每个椭球体的一个焦点处，并且所述一对荧光检测器中的一个位于另一焦点处。
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公开(公告)号：CN101910821A
公开(公告)日：2010-12-08
申请号：CN200880123951.0
申请日：2008-12-02
申请人： 粒子监测系统有限公司
IPC分类号： G01N21/00
CPC分类号： G01N15/1463 , G01N15/1459 , G01N2015/0038 , G01N2015/025 , G01N2015/1402
摘要： 此处描述的是一种粒子检测系统，其能够对粒子和电磁辐射束的相互作用进行空间解析。利用特定的电磁辐射束横截面形状和取向，可改进粒子检测系统的检测灵敏度。还提供了以一种使背景信号低，并且能对粒子所散射或发射的电磁辐射进行空间解析的方式来检测粒子和确定粒子大小的方法。
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公开(公告)号：CN1668914A
公开(公告)日：2005-09-14
申请号：CN03817227.5
申请日：2003-07-18
申请人： 哥伦比亚化学公司
发明人： B·J·斯塔格
CPC分类号： G01N1/2258 , B82Y30/00 , C01P2004/64 , C01P2006/12 , C09C1/50 , G01N1/2202 , G01N15/0205 , G01N15/1456 , G01N15/1459 , G01N21/71 , G01N2001/2223 , G01N2001/2264 , G01N2001/227 , G01N2001/242 , G01N2015/0092 , G01N2015/025 , G01N2015/0693 , G01N2015/1493
摘要： 一种在诸如炭黑反应器的工艺过程物流中原位取样并测量颗粒(例如炭黑)细度的方法，包括(a)从工艺过程物流中对粒子原位取样，(b)将样品调整到适用于LII的状态，(c)使用LII测量细度，并且(d)将LII的细度测量结果与实际粒子细度关联。一种对含粒子的物流原位取样并采用激光感生白炽光(LII)测量粒子细度的方法，包括(a)对粒子原位取样，(b)将样品调整到适用于LII的状态，(c)采用LII测量经调整的样品，并且(d)将LII的测量结果与实际粒子细度关联。还包括一种基于实时、在线、粒子的原位取样和测量方法的取样和控制工艺过程的方法。取样可包括从粒子源中引出侧流。将样品调整到适用于LII的状态可包括稀释样品或将样品的温度调至室温。关联可包括采用关联函数，该关联函数由比较同时引出的粒子样品的LII测量结果与实验室细度测量结果确定。
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公开(公告)号：CN107735667A
公开(公告)日：2018-02-23
申请号：CN201680034065.5
申请日：2016-06-06
申请人： 皇家飞利浦有限公司
CPC分类号： G01N15/0205 , G01N15/06 , G01N15/1459 , G01N2015/025
摘要： 光学颗粒传感器至少具有施加于光学传感器(16)或传感器信号的第一和第二阈限设置，以获得第一和第二光学传感器读数。对它们进行处理(24)以确定取决于污染事件类型的参数。该参数用于根据第一和第二光学传感器读数中的至少一个来确定低于第一颗粒尺寸的所有颗粒的质量。以这种方式，即使光学传感器不可以响应最小的颗粒，也可以评估低于期望尺寸的所有颗粒的质量。
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公开(公告)号：CN105675458A
公开(公告)日：2016-06-15
申请号：CN201610234568.9
申请日：2016-04-15
申请人： 南京国轩电池有限公司
IPC分类号： G01N15/02
CPC分类号： G01N15/0205 , G01N2015/025
摘要： 本发明公开一种评价锂电池胶液优劣的方法，先将正极胶液和负极胶液分别静置后，分别从正、负极胶液中至少三处不同的位置分别取样；将正极胶液样品与丙酮按体积比为5～10：1进行混合，静置；将负极胶液样品与无水乙醇按体积比为5～10：1进行混合，静置；分别用胶头滴管吸取正、负极胶液混合物于载玻片上，用光学显微镜分别对其进行放大观察有无颗粒团聚和颗粒大小，以无颗粒团聚且颗粒大小为10-100um的正、负极胶液为合格正、负极胶液。本发明为判断出正、负极胶液的优劣提供了一个简单可行的方法，并为电池一致性提供依据。
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公开(公告)号：CN101842751B
公开(公告)日：2014-10-22
申请号：CN200880114008.3
申请日：2008-10-30
申请人： 纽约大学
IPC分类号： G03H1/04
CPC分类号： G02B21/361 , G01B9/02001 , G01N15/0227 , G01N15/10 , G01N15/1463 , G01N2015/0038 , G01N2015/025 , G01N2015/1075 , G01P5/001 , G01P5/20 , G03H1/0005 , G03H1/0866 , G03H2001/0033 , G03H2001/005 , G03H2001/0447 , G03H2001/0825 , G03H2240/56
摘要： 本发明提供了产生诸如分散在透明介质中的一个或多个颗粒等样品的图像的同轴全息术。用来自光散射理论的结果来分析这些图像提供具有纳米尺寸分辨率的颗粒尺寸、在千分之一以内的其折射率、及具有纳米分辨率的其三维空间位置。此程序快速并直接地表征样品及其介质的机械、光学和化学性质。
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公开(公告)号：CN103890561A
公开(公告)日：2014-06-25
申请号：CN201280038391.5
申请日：2012-08-06
申请人： 纳米观测有限公司
CPC分类号： G01N15/14 , G01N15/0211 , G01N15/1459 , G01N2015/0038 , G01N2015/0222 , G01N2015/0238 , G01N2015/025 , G01N2015/0277
摘要： 本发明提供了一种分析包括次微米粒子的样本的方法，该方法包括：通过纳米粒子跟踪分析在该样本中确定关于粒子大小及粒子数量的第一信息；通过动态光散射在该样本中确定关于粒子的平均粒子大小的第二信息；从该第一信息中确定代表所检测粒子对于可通过动态光散射获得的结果的理论影响的第三信息；并且使用该第三信息调整该第二信息以产生代表关于平均粒子大小的所调整信息的第四信息。
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