用于低成本耐用光谱仪的相关干涉测量方法、设备及系统

    公开(公告)号:CN102369421A

    公开(公告)日:2012-03-07

    申请号:CN201080013123.9

    申请日:2010-01-21

    IPC分类号: G01J3/45

    摘要: 本申请涉及用于低成本耐用光谱仪的相关干涉测量方法、设备及系统,描述了一种探测样本光谱特性的相关干涉测量光谱学设备,其包括:电磁辐射源,用于以光子激发样本;探测器,适于探测光子到达探测器的到达时间并进一步适于探测不同光子到达时间之间的延迟。该设备还可进一步包括适于分析探测器上光子到达之间延迟的自相关器。该设备也可与其他光谱探测和表征系统一起使用,例如喇曼光谱仪和衰减全反射光谱仪。此外,也提供了包含该相关干涉测量光谱学设备的方法、系统以及套件。

    光谱分析仪以及光谱分析方法

    公开(公告)号:CN102364328A

    公开(公告)日:2012-02-29

    申请号:CN201110157574.6

    申请日:2011-06-10

    IPC分类号: G01N21/35

    摘要: 本发明提供了光谱分析仪和光谱分析方法。该光谱分析仪包括:第一测量部分,配置用于通过以近红外光照射样本来测量近红外区域的光谱;第二测量部分,配置用于通过以红外光照射样本来测量红外区域的光谱;以及分析部分,配置用于利用由第一和第二测量部分所测得的光谱来分析样本特征。分析部分包括:第一计算模块,配置用于通过组合第一测量部分测得的近红外区域的光谱以及第二测量部分测得的红外区域的光谱来获取集成光谱;第二计算模块,配置用于计算预先测得的基准光谱与集成光谱的差异光谱;以及第三计算模块,配置用于通过利用差异光谱执行二维相关操作来计算近红外区域的光谱与红外区域的光谱之间的相关性。

    紫外线强度监测方法及系统,以及移动终端

    公开(公告)号:CN107314815A

    公开(公告)日:2017-11-03

    申请号:CN201710677075.7

    申请日:2017-08-09

    发明人: 吴安平

    IPC分类号: G01J3/457 H04M1/02 H04M1/725

    摘要: 本发明涉及一种紫外线强度监测方法和系统,以及移动终端。该紫外线强度监测方法,应用于紫外线强度监测系统以及配置有该紫外线强度监测系统的移动终端,用于监测该移动终端所处当地的紫外线强度。该紫外线强度监测方法包括步骤:获取当地太阳光谱中可见光与紫外线的光强比率;检测当地可见光强度;以及根据该当地可见光强度和该可见光与紫外线的光强比率,计算当地紫外线强度。上述的紫外线强度监测系统及方法,通过获取当地的可见光强度,并根据当地的可见光与紫外线的光强比率计算出当地紫外线强度,从而为用户提供较为精确的当地的紫外线强度数据,使用户能够根据实际的紫外线强度做好防护措施。

    用于低成本耐用光谱仪的相关干涉测量方法、设备及系统

    公开(公告)号:CN102369421B

    公开(公告)日:2015-04-08

    申请号:CN201080013123.9

    申请日:2010-01-21

    IPC分类号: G01J3/45

    摘要: 本申请涉及用于低成本耐用光谱仪的相关干涉测量方法、设备及系统,描述了一种探测样本光谱特性的相关干涉测量光谱学设备,其包括:电磁辐射源,用于以光子激发样本;探测器,适于探测光子到达探测器的到达时间并进一步适于探测不同光子到达时间之间的延迟。该设备还可进一步包括适于分析探测器上光子到达之间延迟的自相关器。该设备也可与其他光谱探测和表征系统一起使用,例如喇曼光谱仪和衰减全反射光谱仪。此外,也提供了包含该相关干涉测量光谱学设备的方法、系统以及套件。