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公开(公告)号:CN109632100A
公开(公告)日:2019-04-16
申请号:CN201811634754.7
申请日:2018-12-29
申请人: 苏州市产品质量监督检验院 , 中国科学院上海技术物理研究所
摘要: 本发明公开了一种蓝光加权辐亮度空间分布的测量方法,通过测量光源的配光曲线、发光面尺寸、典型辐照距离下的光源辐亮度和光源光谱,采用蓝光加权辐亮度空间分布拟合算法,计算得到蓝光加权辐亮度的空间分布表。本发明针对蓝光危害的空间分布情况进行测量和计算,能够计算得出光源应用场景内的蓝光危害空间分布情况,即空间中任意位置的蓝光加权辐亮度的大小。
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公开(公告)号:CN1971247B
公开(公告)日:2011-06-29
申请号:CN200610132013.X
申请日:2006-10-19
申请人: 仕富梅集团公司
IPC分类号: G01N21/17
CPC分类号: G01N21/3504 , G01J3/457 , G01N21/274 , G01N21/37 , G01N21/61
摘要: 通过校正交叉干扰改进了相关光谱法测量。这通过把不同增益施加到输出信号实现,由此背景干扰种类的影响能够被计算并且自动校正系数能够被应用。
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公开(公告)号:CN102369421A
公开(公告)日:2012-03-07
申请号:CN201080013123.9
申请日:2010-01-21
申请人: 莱尔照明公司
发明人: 罗伯特·G·梅塞施米特
IPC分类号: G01J3/45
CPC分类号: G01J3/4531 , G01J3/457 , G01N21/45 , G01N21/552 , G01N21/65
摘要: 本申请涉及用于低成本耐用光谱仪的相关干涉测量方法、设备及系统,描述了一种探测样本光谱特性的相关干涉测量光谱学设备,其包括:电磁辐射源,用于以光子激发样本;探测器,适于探测光子到达探测器的到达时间并进一步适于探测不同光子到达时间之间的延迟。该设备还可进一步包括适于分析探测器上光子到达之间延迟的自相关器。该设备也可与其他光谱探测和表征系统一起使用,例如喇曼光谱仪和衰减全反射光谱仪。此外,也提供了包含该相关干涉测量光谱学设备的方法、系统以及套件。
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公开(公告)号:CN1971247A
公开(公告)日:2007-05-30
申请号:CN200610132013.X
申请日:2006-10-19
申请人: 仕富梅集团公司
IPC分类号: G01N21/17
CPC分类号: G01N21/3504 , G01J3/457 , G01N21/274 , G01N21/37 , G01N21/61
摘要: 通过校正交叉干扰改进了相关光谱法测量。这通过把不同增益施加到输出信号实现,由此背景干扰种类的影响能够被计算并且自动校正系数能够被应用。
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公开(公告)号:CN107870038A
公开(公告)日:2018-04-03
申请号:CN201710854952.3
申请日:2017-09-20
申请人: 三星电子株式会社
CPC分类号: H04N9/735 , G01J3/0208 , G01J3/0229 , G01J3/2823 , H01L27/14605 , H01L27/14621 , H01L27/14627 , H01L27/14645 , H04N5/2256 , H04N5/3696 , H04N9/045 , H04N9/07 , G01J3/2803 , G01J3/42 , G01J3/457 , G01J2003/2806 , G01J2003/2813 , G01J2003/282 , G01J2003/2826 , G01J2003/425
摘要: 一种用于检测入射光的波长光谱的方法和电子装置。电子装置包括:图像传感器,包括像素阵列,其中,像素阵列包括单位像素,单位像素包括被配置为将入射光聚焦的微透镜和被配置为响应于入射光输出电信号的两个或更多个光检测器;处理器,被配置为基于来自所述两个或更多个光检测器的输出值检测入射光的波长光谱。
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公开(公告)号:CN102792150B
公开(公告)日:2014-12-10
申请号:CN201180013689.6
申请日:2011-04-08
CPC分类号: G01J3/457 , G01J1/4204 , G01J3/0264 , G01J3/027 , G01J3/2823 , G06K9/00369 , G06K9/00791 , G06K9/00805 , G06K2009/00644 , G08G1/166
摘要: 光谱测定装置(11)基于由能够测定波长信息和光强度信息的光谱传感器(14)检测出的观测光的光谱数据来识别测定对象。该光谱测定装置具备光谱数据处理装置(16),该处理装置通过从由所述光谱传感器检测出的不同的两个位置处的光谱数据中的一方光谱数据减去另一方光谱数据或者将另一方光谱数据除以一方光谱数据,来计算出与所述不同的两个位置处的光谱数据相关的一个相关光谱数据。然后,处理装置基于该相关光谱数据来同时确定与所述不同的两个位置对应的测定对象。
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公开(公告)号:CN102364328A
公开(公告)日:2012-02-29
申请号:CN201110157574.6
申请日:2011-06-10
申请人: 横河电机株式会社
IPC分类号: G01N21/35
CPC分类号: G01J3/457 , G01N21/359 , G01N21/552 , G01N21/8507 , G01N2021/3155 , G01N2021/3595
摘要: 本发明提供了光谱分析仪和光谱分析方法。该光谱分析仪包括:第一测量部分,配置用于通过以近红外光照射样本来测量近红外区域的光谱;第二测量部分,配置用于通过以红外光照射样本来测量红外区域的光谱;以及分析部分,配置用于利用由第一和第二测量部分所测得的光谱来分析样本特征。分析部分包括:第一计算模块,配置用于通过组合第一测量部分测得的近红外区域的光谱以及第二测量部分测得的红外区域的光谱来获取集成光谱;第二计算模块,配置用于计算预先测得的基准光谱与集成光谱的差异光谱;以及第三计算模块,配置用于通过利用差异光谱执行二维相关操作来计算近红外区域的光谱与红外区域的光谱之间的相关性。
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公开(公告)号:CN107314815A
公开(公告)日:2017-11-03
申请号:CN201710677075.7
申请日:2017-08-09
申请人: 广东欧珀移动通信有限公司
发明人: 吴安平
CPC分类号: G01J3/457 , H04M1/0202 , H04M1/72522
摘要: 本发明涉及一种紫外线强度监测方法和系统,以及移动终端。该紫外线强度监测方法,应用于紫外线强度监测系统以及配置有该紫外线强度监测系统的移动终端,用于监测该移动终端所处当地的紫外线强度。该紫外线强度监测方法包括步骤:获取当地太阳光谱中可见光与紫外线的光强比率;检测当地可见光强度;以及根据该当地可见光强度和该可见光与紫外线的光强比率,计算当地紫外线强度。上述的紫外线强度监测系统及方法,通过获取当地的可见光强度,并根据当地的可见光与紫外线的光强比率计算出当地紫外线强度,从而为用户提供较为精确的当地的紫外线强度数据,使用户能够根据实际的紫外线强度做好防护措施。
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公开(公告)号:CN104981721A
公开(公告)日:2015-10-14
申请号:CN201380070609.X
申请日:2013-02-11
申请人: 哈利伯顿能源服务公司
发明人: 迈克尔·T·佩尔蒂埃 , 大卫·L·珀金斯
CPC分类号: E21B49/087 , C23C16/45525 , G01J3/42 , G01J3/457 , G01J2003/1213 , G01J2003/1226 , G01N21/4738 , G01N21/59 , G01N21/85 , G01N2201/068 , G01N2201/12 , G01V8/22 , G02B5/285
摘要: 具有利用原子层沉积(ALD)形成的集成计算元件(ICE)或其它光路组件的流体分析系统使得能提高公差和设计灵活性。在一些公开实施方案中,流体分析系统包括光源和ICE。所述流体分析系统还包括将光信号转换为电信号的检测器。所述ICE包括多个光学层,其中所述多个光学层中的至少一个利用ALD形成。相关的方法包括选择具有多个光学层的ICE设计。所述方法还包括利用ALD形成所述ICE的所述多个光学层中的至少一个以使得能预测物质的化学或物理性质。相关的测井柱包括测井工具区段和与所述测井工具区段相关联的流体分析工具。
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公开(公告)号:CN102369421B
公开(公告)日:2015-04-08
申请号:CN201080013123.9
申请日:2010-01-21
申请人: 莱尔照明公司
发明人: 罗伯特·G·梅塞施米特
IPC分类号: G01J3/45
CPC分类号: G01J3/4531 , G01J3/457 , G01N21/45 , G01N21/552 , G01N21/65
摘要: 本申请涉及用于低成本耐用光谱仪的相关干涉测量方法、设备及系统,描述了一种探测样本光谱特性的相关干涉测量光谱学设备,其包括:电磁辐射源,用于以光子激发样本;探测器,适于探测光子到达探测器的到达时间并进一步适于探测不同光子到达时间之间的延迟。该设备还可进一步包括适于分析探测器上光子到达之间延迟的自相关器。该设备也可与其他光谱探测和表征系统一起使用,例如喇曼光谱仪和衰减全反射光谱仪。此外,也提供了包含该相关干涉测量光谱学设备的方法、系统以及套件。
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